[發(fā)明專利]一種提高滯止式總溫探針測量精度的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710588477.X
• 申請日: 2017-07-19
• 公開（公告）號: CN107449527B
• 公開（公告）日: 2020-01-31
• 發(fā)明（設計）人: 張偉昊;楊偉平;鄒正平;劉火星;王效葵
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G01K13/02
• 分類號: G01K13/02
• 代理公司: 11251 北京科迪生專利代理有限責任公司
• 代理人: 安麗

1.一種提高滯止式總溫探針測量精度的方法，其特征在于：在滯止罩進口(1)和滯止室(3)布置有導流片(6)；

所述導流片(6)固定在滯止室內壁(2)面,所述導流片厚度為0.2mm-1mm，所述導流片將進口面積分成上下的兩個部分，其中上半部分占進口總面積的1/3～1/2，下半部分占進口總面積的1/2～2/3。

2.根據(jù)權利要求1所述提高滯止式總溫探針測量精度的方法，其特征在于：所述導流片(6)的造型及尺寸為：在滯止罩進口處有一長度為0～0.5倍滯止罩壁厚的第一直線段，緊連第一直線段是一個與該直線相切的90°～120°的圓弧，所述圓弧的半徑為0.5～1.0倍的滯止室內徑，所述圓弧的圓心在滯止罩進口(1)內壁的O點處，即滯止罩進口(1)與滯止室內壁(2)相交所得的靠近測量端(5)的弧線段的中點位置，最后緊連所述圓弧的是第二直線段，第二直線段長度等于0.5～1.5倍的滯止罩外徑，第二直線段的傾斜角度范圍為-20°～+20°，且第二直線段與所述圓弧的連接處曲率連續(xù)。