[發明專利]一種晶硅太陽能電池拋光片的加工方法有效
| 申請號: | 201710585624.8 | 申請日: | 2017-07-18 |
| 公開(公告)號: | CN107516693B | 公開(公告)日: | 2019-11-12 |
| 發明(設計)人: | 胡茂界;夏利鵬;秦崇德;方結彬;何達能;陳剛 | 申請(專利權)人: | 廣東愛康太陽能科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0236 |
| 代理公司: | 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429 | 代理人: | 孔凡亮 |
| 地址: | 528100 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 太陽能電池 拋光 加工 方法 | ||
1.一種晶硅太陽能電池拋光片的加工方法,其特征在于,具體包括以下步驟:
1)用RIE刻蝕在電池拋光片表面形成一層損傷層,RIE刻蝕采用干法刻蝕機,由射頻發生器將反應氣體離化,離子與硅片發生作用,所述的反應氣體為SF6、O2和Cl2的混合,其中SF6的體積分數為20-30%,O2的體積分數為40-60%,Cl2的體積分數為10-40%,反應時間為60-200S;
2)用表面腐蝕液對步驟1)處理過的硅片進行表面腐蝕,形成微米凹坑;
3)用HF-HCl混酸藥液除去步驟2)的腐蝕過程中產生的雜質及金屬離子;
4)將步驟3)處理過的硅片經過RIE刻蝕,RIE刻蝕采用干法刻蝕機,由射頻發生器將反應氣體離化,離子與硅片發生作用,所述的反應氣體為SF6、O2和Cl2的混合,其中SF6的體積分數為20-30%,O2的體積分數為40-60%,Cl2的體積分數為10-40%,反應時間為60-200S,制備納米級的絨面;
5)用清洗液除去步驟4)的刻蝕過程中產生的殘留物。
2.如權利要求1所述的一種晶硅太陽能電池拋光片的加工方法,其特征在于,所述的晶硅太陽能電池為多晶硅太陽能電池。
3.如權利要求1所述的一種晶硅太陽能電池拋光片的加工方法,其特征在于,所述步驟2)中的表面腐蝕液由HF、HNO3和DI水配制而成,腐蝕液中HF的體積分數為10-30%,HNO3的體積分數為30-60%,DI水的體積分數為10-60%,腐蝕溫度為5-10℃,腐蝕時間為70-150S。
4.如權利要求1所述的一種晶硅太陽能電池拋光片的加工方法,其特征在于,所述步驟3)中的HF-HCl混酸藥液由HF、HCl和DI水配制而成,混酸藥液中HF的體積分數為10-30%,HCl的體積分數為15-40%,DI水的體積分數為30-75%,反應時間為50-120S。
5.如權利要求1所述的一種晶硅太陽能電池拋光片的加工方法,其特征在于,所述步驟5)中的清洗液由BOE、H2O2和DI水配制而成,所述BOE成分包括NH4F、HF,清洗液中BOE的體積分數為5-20%,H2O2的體積分數為15-40%,DI水的體積分數為40-75%,清洗溫度為30-50℃,清洗時間為100-200S。
6.如權利要求5所述的一種晶硅太陽能電池拋光片的加工方法,其特征在于,所述BOE中NH4F與HF的體積比為6:1。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





