[發明專利]一種X波段測試模塊結構有效
| 申請號： | 201710585355.5 | 申請日： | 2017-07-18 |
| 公開（公告）號： | CN109270502B | 公開（公告）日： | 2023-04-14 |
| 發明（設計）人： | 唐文杰 | 申請（專利權）人： | 中國航空工業集團公司濟南特種結構研究所 |
| 主分類號： | G01S7/40 | 分類號： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 中國航空專利中心 11008 | 代理人： | 王中興 |
| 地址： | 250000 山*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 波段 測試 模塊 結構 | ||
【權利要求書】：
1.一種X波段測試模塊結構，其特征為：所述模塊結構包括功率放大器和吸波結構；所述功率放大器與矢量網絡分析儀的輸出端連接，功率放大器將矢量網絡分析儀發出的中頻信號的功率統一放大；吸波結構與功率放大器的輸出端連接，吸波結構將經由功率放大器放大后的信號在X波段輸出到0～6dB之間；中頻單元混頻器與吸波結構的輸出端連接，吸波結構的輸出信號進入中頻單元混頻器中，使混頻器的信號達到穩定的工作狀態；
所述吸波結構由波導同軸轉換器、X波段矩形波導、十字交叉圓形電諧振環電磁超材料單元組成；所述十字交叉圓形電諧振環電磁超材料單元為金屬諧振環圓環，其印刷在FR4板上，包含四個等大的扇形環，每個扇形環之間由一段金屬線連接。
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