[發(fā)明專利]一種PS-b-P2VP模板的硅表面納米級高分子刷圖案的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710580216.3 | 申請日: | 2017-07-17 |
| 公開(公告)號: | CN107602746B | 公開(公告)日: | 2020-10-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 路小彬;徐平 | 申請(專利權(quán))人: | 黔南民族師范學院 |
| 主分類號: | C08F120/06 | 分類號: | C08F120/06 |
| 代理公司: | 貴州派騰知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 52114 | 代理人: | 谷慶紅 |
| 地址: | 558000 貴州省黔南布*** | 國省代碼: | 貴州;52 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 ps p2vp 模板 表面 納米 高分子 圖案 制備 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種PS?b?P2VP模板的硅表面納米級高分子刷圖案的制備方法,其采用簡單易行的化學方法,能夠在硅表面大批量大面積的制作≤100nm的密集排列的指紋狀、線狀納米結(jié)構(gòu),成本低、易操作,其克服了現(xiàn)有物理納米刻蝕技術(shù)需要昂貴機器、成本高、操作繁瑣、勞動密集,只能生產(chǎn)幾毫米的小面積的問題和缺點,并且利用PS?b?P2VP分子量、組份和環(huán)境條件的改變,可以在10?100nm之間實現(xiàn)精確調(diào)節(jié)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于高分子化學技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及PS-b-P2VP模板的硅表面納米級高分子刷圖案的制備方法。
背景技術(shù)
在相關(guān)半導體表面進行精確納米圖案化,如硅、鍺表面等,是未來應(yīng)用的方向之一。當前,硅表面的大部分聚合物刷圖案化技術(shù)都是微米級的,納米級的較少。其中大部分技術(shù)集中在物理方法如壓印、光刻、掃描探針調(diào)尖光刻,但其制作納米圖案費用高、操作繁瑣、只適用于小面積生產(chǎn)。
盡管光刻在亞100nm圖案化方面一直占有優(yōu)勢,但是短波光源如EUV、激發(fā)源激光、同步輻射源,這些技術(shù)在工業(yè)化和經(jīng)濟方面都存在較大問題。另外一些方法如電子束光刻、聚集離子束光刻、掃描探針調(diào)尖光刻如DPN可用于亞 20nm圖案制作,但是由于其本質(zhì)特性不適于大面積制作。
隨著科學家對微納米加工技術(shù)極致的追求,以及對物質(zhì)性質(zhì)的不斷深入了解,新型的納米加工技術(shù)也應(yīng)運而生。基于嵌段共聚物的平板印刷技術(shù)就是其中的一種。嵌段共聚物作為一種納米級圖案化的技術(shù),因具有簡單易得、易于改性、且操作簡單、能大批量生產(chǎn)等優(yōu)點而受到歡迎。
基于雙嵌段共聚物PS-b-P2VP為模板的硅表面納米級高分子刷圖案化(即 SiHx坑(線狀排列)和SiOx凸臺(線狀排列)交替間隔排列的圖案,SiHx坑處組裝高分子刷,SiOx凸臺處空白)技術(shù)處于國際領(lǐng)先水平。能夠通過選用不同分子量的模板來控制點陣的間距和點直徑的大小,從而控制線條、指紋間的距離,利用簡單化學過程制造出昂貴物理方法才能實現(xiàn)的效果。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有物理納米刻蝕技術(shù)需要昂貴機器、成本高、操作繁瑣、勞動密集,且只能生產(chǎn)幾毫米的小面積的問題和缺點,本發(fā)明提供了一種PS-b-P2VP模板的硅表面納米級高分子刷圖案的制備方法,其能夠在硅表面大批量大面積的制作≤100nm的密集排列的指紋狀、線狀納米結(jié)構(gòu),且成本低、易操作,且利用PS-b-P2VP分子量、組份和環(huán)境條件的改變,可以在10-100nm之間實現(xiàn)精確調(diào)節(jié)。
具體地,本發(fā)明提供了一種PS-b-P2VP模板的硅表面納米級高分子刷圖案的制備方法,包括以下步驟:
將兩親性嵌段共聚物PS-b-P2VP在甲苯溶液里自組裝成膠束,旋涂在硅片上形成PS作基質(zhì)背景、P2VP形成突出于PS基質(zhì)背景的30-50nm的圓點;然后在 8-12:1THF/H2O溶劑蒸汽密閉環(huán)境中室溫下放置30-40h,形成PS-b-P2VP直線條或指紋狀圖案,然后在Na2PtCl4/HCl溶液中浸泡3-24h,帶正電荷的[P2VP]+和帶負電荷的[PtCl4]2-靜電吸引結(jié)合在一起,用O2等離子體處理除去PS-b-P2VP,同時使Na2PtCl4生成Pt線條;用1:0.5-2:3-5HF/H2O2/EtOH的陽極輔助溶液腐蝕得到了間距在50-100nm之間,帶寬30-50nm的線狀或指紋狀條紋,腐蝕的機理是Pt所處位點的原電池反應(yīng)機理,最后在線狀條紋的納米坑處組裝PMAA,得到線條狀或指紋狀的PMAA圖案。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于黔南民族師范學院,未經(jīng)黔南民族師范學院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710580216.3/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





