[發明專利]一種二維地形正演和改正方法

有效

• 申請號: 201710575229.1
• 申請日: 2017-07-14
• 公開（公告）號: CN107255837B
• 公開（公告）日: 2019-12-13
• 發明（設計）人: 敖懷歡;汪玉瓊;李家斌;張西君
• 申請（專利權）人: 貴州省地質調查院
• 主分類號: G01V3/38
• 分類號: G01V3/38
• 代理公司: 52114 貴陽睿騰知識產權代理有限公司
• 代理人: 谷慶紅

1.一種二維地形正演和改正方法，其特征在于：在繪制視電阻率等值斷面圖中，對均勻介質的地形和非均勻介質的地形進行坐標點數據采集并獲取其電阻率值，通過正演和改正繪制純地形剖面的視電阻率等值斷面圖；

該方法包括以下步驟：

①獲取電阻率值：以直流電法任意對稱四極裝置和高密度電法相同裝置所測視電阻率值的剖面視電阻率平均值作為均勻介質的地形剖面視的電阻率值，以直流電法任意對稱四極裝置和高密度電法相同裝置所測視電阻率值為非均勻介質的地形剖面視的電阻率值；

②采集地形點坐標：對均勻介質的地形和非均勻介質的地形進行剖面地形坐標點數據采集；

③數據地形正演：根據步驟①和步驟②中的參數，通過正演對稱四極地形函數和正演公式，獲取正演視電阻率值；

④繪制正演線圖：根據正演視電阻率值制出正演的純地形剖面的視電阻率等值斷面圖；

⑤數據地形改正：根據步驟①、步驟②中的參數和對正演視電阻率值的改正，通過改正對稱四極地形函數和改正公式，獲取改正后視電阻率值；

⑥繪制改正線圖：根據改正后視電阻率值繪制出改正的純地形剖面的視電阻率等值斷面圖；

所述正演對稱四極地形函數為：

其中，f(x,y)為地形變化函數，x為坐標點相對1號電極，x＝0的剖面橫坐標，y為坐標點剖面縱坐標，A、B、M、N為均勻介質的地形坐標上的點，x_A、y_A為A點的坐標值，x_B、y_B為B點的坐標值，x_M、y_M為M點的坐標值，x_N、y_N為N點的坐標值。

2.如權利要求1所述的二維地形正演和改正方法，其特征在于：所述獲取電阻率值，具體包括：

通過直流電法任意對稱四極裝置，含高密度電法相同裝置，獲取均勻介質的地形和非均勻介質的地形剖面視電阻率二維假異常的位置、形態和數值的大小，獲取均勻介質的地形和非均勻介質的地形剖面視的電阻率值。

3.如權利要求1所述的二維地形正演和改正方法，其特征在于：所述采集地形點坐標，具體包括：

通過建立坐標系，獲取均勻介質的地形和非均勻介質的地形的坐標值，對均勻介質的地形和非均勻介質的地形的坐標值進行剖面地形點坐標數據采集。

4.如權利要求1所述的二維地形正演和改正方法，其特征在于：所述正演公式為：

ρ_s＝ρ₀×[1+f(x,y)]，

其中，f(x,y)為地形變化函數，ρ_s為地形正演視電阻率，ρ₀為均勻介質剖面視電阻率值。

5.如權利要求1所述的二維地形正演和改正方法，其特征在于：所述改正對稱四極地形函數為：

其中，f(x_i,y_i)為地形變化函數，x_i為坐標點點相對1號電極，x＝0的剖面橫坐標，y_i為坐標點剖面縱坐標，iA、iB、iM、iN為均勻介質的地形坐標上的點，x_iA、y_iA為iA點的坐標值，x_iB、y_iB為iB點的坐標值，x_iM、y_iM為iM點的坐標值，x_iN、y_iN為iN點的坐標值。