[發明專利]激光器焦距自動測試系統有效
| 申請號: | 201710573131.2 | 申請日: | 2017-07-14 |
| 公開(公告)號: | CN107389313B | 公開(公告)日: | 2019-02-22 |
| 發明(設計)人: | 李成昌;黃文飛 | 申請(專利權)人: | 重慶航偉光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
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| 地址: | 400000 *** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 激光器 焦距 自動 測試 系統 | ||
本發明公開了一種激光器焦距自動測試系統,包括光模塊部分和測試部分,光模塊部分設置有光纖與數據線,測試部分包括機架,機架的其中一個安裝面上固定第一微調平臺,在該第一微調平臺的上方連接有快切工位平臺,在快切工位平臺上滑動支撐有測試模組,待測電路板的數據傳輸口連接數據線,在另一個安裝面固定第二微調平臺,在第二微調平臺上設置有支架,支架的端部設置有用于固定光纖頭的安裝孔,安裝孔位于快切工位平臺的上方,光纖頭與光纖相連接。其顯著效果是:集焦距測試、激光器管帽透過率測試以及耦合效率為一體;大大節約操作時間,提高了工作效率;確保了測試精度和測試結果的可靠性。
技術領域
本發明涉及到激光器檢測技術領域,具體地說,是一種激光器焦距自動測試系統。
背景技術
激光器能發射激光的裝置。按工作介質分,激光器可分為氣體激光器、固體激光器、半導體激光器和染料激光器四大類。由于激光器具備的種種突出特點,因而被很快運用于工業、農業、精密測量和探測、通訊與信息處理、醫療、軍事等各方面,并在許多領域引起了革命性的突破。激光在軍事上除用于通信、夜視、預警、測距等方面外,多種激光武器和激光制導武器也已經投入實用。隨著人類對激光技術的進一步研究和發展,激光器的性能將進一步提升,成本將進一步降低,但是其應用范圍卻還將繼續擴大,并將發揮出越來越巨大的作用。
目前,激光器在生產時,都必須對其進行焦距測試與透過率測試,以保證產品品質。然而,現在世界上大部分激光器的測試都是依靠人工手動耦合和半自動操作實現,因此存在對位精度差,勞動效率低等問題;同時功能單一,不僅耦合效率低,而且測量精度也難以控制。
發明內容
針對現有技術的不足,本發明的目的是提供一種激光器焦距自動測試系統,該系統結合了焦距測試、激光器管帽透過率測試與耦合效率為一體,測試效率與測試精度高。
為達到上述目的,本發明采用的技術方案如下:
一種激光器焦距自動測試系統,其關鍵在于:包括光模塊部分和測試部分,所述光模塊部分設置有光纖與數據線,所述測試部分包括機架、第一微調平臺、快切工位平臺、測試模組、第二微調平臺,所述機架形成有兩個相互垂直的安裝面,在其中一個安裝面上固定所述第一微調平臺,在該第一微調平臺的上方連接有所述快切工位平臺,在所述快切工位平臺上滑動支撐有測試模組,該測試模組用于對待測電路板進行定位,所述待測電路板的數據傳輸口連接所述數據線,在所述機架的另一個安裝面固定所述第二微調平臺,在所述第二微調平臺上設置有支架,所述支架的端部設置有用于固定光纖頭的安裝孔,所述安裝孔位于所述快切工位平臺的上方,所述光纖頭與所述光纖相連接。
在測試時,第一微調平臺用于調節快切工位平臺在X向與Y向上的位置,快切工位平臺用于在測試時切換被測試的激光器,測試模組則用于對焊接有激光器插件的電路板進行定位,第二微調平臺則用于對光纖頭在Z向的位置進行調節,以完成激光器焦距的測試。
調整光纖頭表面高度與待測工位上表面接觸,Z軸計數器歸零,然后上移至能正常測量產品的高度即可,將待檢測電路板插入檢測工位限位孔內,管帽透鏡朝上,管座底部完全接觸待測工位上表面,然后移動至光纖頭的下部中心位置,調整光纖高度,光模塊部分記錄PD電流最大值I,然后調整光纖頭高度,觀察保持最大電流值時,記錄光纖高度上限值Smax與Smin,根據計算式焦距=(Smax+Smin)/2得出激光器的焦距。
進一步的,所述第一微調平臺包括平臺底板,在該平臺底板的上方依次設有X向調節機構與Y向調節機構,所述X向調節機構與Y向調節機構的調節方向相垂直,在所述X向調節機構與Y向調節機構均連接有與其相匹配的驅動機構,在所述Y向調節機構上安裝所述快切工位平臺。
進一步的,在所述Y向調節機構與快切工位平臺之間還設置有支撐柱。
第一微調平臺采用上述的結構,在每批次之前,通過上述的X向調節機構與Y向調節機構校正零點位置,從而不需要每只激光器測量都從零點位置開始,大大節省了測試時間,提高了工作效率。
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