[發(fā)明專利]一種回轉(zhuǎn)體零件三維表面形貌的五軸光學(xué)測量裝置及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710567977.5 | 申請日: | 2017-07-11 |
| 公開(公告)號: | CN107388985A | 公開(公告)日: | 2017-11-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 崔浩陽;田應(yīng)仲;李龍;吳桐;張清妍;曾洪涌;趙胤君;劉錫寧 | 申請(專利權(quán))人: | 上海大學(xué) |
| 主分類號: | G01B11/24 | 分類號: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 200444*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 回轉(zhuǎn) 零件 三維 表面 形貌 光學(xué) 測量 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種回轉(zhuǎn)體零件三維表面形貌的測量裝置及方法,特別涉及一種回轉(zhuǎn)體零件三維表面形貌的五軸光學(xué)測量裝置及方法。
背景技術(shù)
物體三維表面形貌的測量方法主要分為接觸式和非接觸式。接觸式采用機(jī)械探針對物體表面進(jìn)行掃描,該方法成熟,精度較高,但是易損傷物體表面。非接觸式方法很多,包括:共焦顯微測量法、變焦顯微測量法、掃描白光干涉法、激光相移干涉法等。其中干涉法對測量環(huán)境要求高、魯棒性差,共焦顯微測量法具有機(jī)構(gòu)復(fù)雜、測量速度慢、測量范圍小的缺點(diǎn)。本發(fā)明的光學(xué)測量裝置是基于變焦顯微測量原理,雖然該方法精度低于其他方法,縱向分辨率能達(dá)到10納米,橫向分辨率能達(dá)到0.5微米,但是具有測量范圍大,速度快,可以測量大傾角物體的優(yōu)點(diǎn)。中國專利CN103267494B公開了一種表面形貌干涉測量的方法及裝置,該專利使用干涉顯微測量技術(shù),不具有變焦顯微測量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)。中國專利CN105403170A公開了一種顯微3D形貌測量方法及裝置,該專利可以實(shí)現(xiàn)物體三維重構(gòu),但該測量裝置無法對回轉(zhuǎn)體零件進(jìn)行全方位,多角度測量。
目前,基于變焦顯微測量原理的測量裝置大多數(shù)只能采集物體水平面以上的圖像信息,不能實(shí)現(xiàn)對被測物全方位,多角度的測量和360度三維重構(gòu),尤其是對回轉(zhuǎn)體零件的測量。本發(fā)明五軸光學(xué)測量裝置操作簡單,可以快速,高效,精確的對回轉(zhuǎn)體零件進(jìn)行360度全方位多角度的圖像采集,從而精確重構(gòu)物體三維模型,以便對被測物進(jìn)行高精度的快速測量。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于解決現(xiàn)有對回轉(zhuǎn)體零件三維形貌測量技術(shù)的不足,提供一種回轉(zhuǎn)體零件三維表面形貌的五軸光學(xué)測量裝置及方法,可對回轉(zhuǎn)體零件實(shí)現(xiàn)360度全方位測量并通過基于變焦顯微圖像序列的融合技術(shù),三維重構(gòu)技術(shù)以及三維拼接技術(shù)在計(jì)算機(jī)中生成高清晰二維融合圖像和高精度三維模型,從而可以提取零件表面參數(shù)及精確尺寸,本發(fā)明的五軸光學(xué)測量裝置及方法,操作簡單,測量精度高,自動化程度高,測量速度快。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明采用下述技術(shù)方案:
一種回轉(zhuǎn)體零件三維表面形貌的五軸光學(xué)測量裝置及方法,其特征在于,包括電荷耦合器件CCD,光學(xué)顯微鏡頭,嵌入式環(huán)形光源,環(huán)形夾持裝置,XY運(yùn)動平臺,二自由度的旋轉(zhuǎn)夾持裝置,伺服電機(jī),電機(jī)驅(qū)動器,運(yùn)動控制卡,電源模塊,光電編碼器,計(jì)算機(jī),GPU圖形處理器;所述電荷耦合器件CCD內(nèi)設(shè)于光學(xué)顯微鏡頭內(nèi),所述光學(xué)顯微鏡頭的物鏡下方內(nèi)設(shè)有嵌入式環(huán)形光源,所述顯微鏡頭由環(huán)形夾持裝置固定在Z軸平臺上并可以隨Z軸平臺上下移動,所述二自由度旋轉(zhuǎn)夾持裝置固定在XY運(yùn)動平臺上,所述電荷耦合器件CCD通過GPU圖形處理器與計(jì)算機(jī)相連接,所述計(jì)算機(jī)通過運(yùn)動控制卡與電機(jī)驅(qū)動器相連接,所述電機(jī)驅(qū)動器與伺服電機(jī)相連接,所述伺服電機(jī)與XYZ移動平臺以及旋轉(zhuǎn)夾持裝置連接。
所述的回轉(zhuǎn)體零件三維表面形貌的五軸光學(xué)測量裝置及方法,其特征在于,所述伺服電機(jī)通過滾珠絲杠和齒輪組控制XYZ平臺的精密移動和旋轉(zhuǎn)夾持裝置的轉(zhuǎn)動,所述環(huán)形夾持裝置通過螺旋式固定器固定光學(xué)顯微鏡頭,所述光電編碼器,伺服電機(jī),電機(jī)驅(qū)動器,運(yùn)動控制卡,計(jì)算機(jī)共同組成反饋系統(tǒng),精確控制位置及角度信息,所述二自由度旋轉(zhuǎn)夾持裝置由兩個伺服電機(jī)分別控制XY方向的旋轉(zhuǎn)模塊,所述X方向旋轉(zhuǎn)模塊包括軸承,夾持器,卡爪,旋轉(zhuǎn)電機(jī),齒輪組,所述旋轉(zhuǎn)電機(jī)設(shè)于夾持裝置外殼上,通過齒輪組將動力傳給夾持器,所述卡爪與夾持器相連接,卡緊回轉(zhuǎn)體零件,所述Y方向旋轉(zhuǎn)模塊包括伺服電機(jī),齒輪組,支撐板,所述伺服電機(jī)與旋轉(zhuǎn)電機(jī)通過電機(jī)驅(qū)動器與運(yùn)動控制卡相連接,再由運(yùn)動控制卡與計(jì)算機(jī)相連接。
一種回轉(zhuǎn)體零件三維表面形貌的五軸光學(xué)測量裝置及方法,其特征在于,包含如下使用步驟:
1)回轉(zhuǎn)體零件夾持裝置及卡爪固定,光學(xué)顯微鏡頭通過環(huán)形夾持裝置固定,通過計(jì)算機(jī)控制XY平臺將XY平臺上固定的二自由度旋轉(zhuǎn)夾持裝置移至物鏡下方,通過Z軸平臺調(diào)節(jié)物鏡高度,通過調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)夾持裝置XY方向的旋轉(zhuǎn)角度,使得被測物以適當(dāng)?shù)奈恢煤徒嵌瘸霈F(xiàn)在視野中心;
2)通過調(diào)節(jié)嵌入式環(huán)形光源的光照強(qiáng)度,以獲得最佳的光照條件;
3)計(jì)算機(jī)控制Z軸平臺沿垂直方向移動,直到被測物接近光學(xué)顯微鏡的景深,Z軸平臺停止運(yùn)動,該位置作為測量的基準(zhǔn)位置,采集第一幅圖像;從第一幅圖像開始,沿Z軸單方向控制Z軸平臺運(yùn)動,每運(yùn)動一定步距,計(jì)算機(jī)通過電荷耦合器件CCD拍攝一幅圖像,直到被測物遠(yuǎn)離光學(xué)顯微鏡的景深,停止圖像采集,即得到變焦顯微圖像序列;
4)重復(fù)1)到3)即可獲得不同視野下的變焦顯微圖像序列;
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