[發明專利]相位去卷褶方法、磁共振成像掃描方法及磁共振成像設備有效
| 申請號: | 201710567035.7 | 申請日: | 2017-07-12 |
| 公開(公告)號: | CN107358588B | 公開(公告)日: | 2020-07-17 |
| 發明(設計)人: | 廖康佳 | 申請(專利權)人: | 上海聯影醫療科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;G06T5/50 |
| 代理公司: | 北京匯思誠業知識產權代理有限公司 11444 | 代理人: | 王剛;龔敏 |
| 地址: | 201807 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 相位 去卷褶 方法 磁共振 成像 掃描 設備 | ||
1.一種相位去卷褶方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取待處理的相位圖;
對所述相位圖進行預處理,得到與所述相位圖對應的相位蒙版;
根據所述相位蒙版,對所述相位圖至少沿第一方向和第二方向分別進行分段,得到至少兩個分段相位圖,所述分段相位圖與分段的方向相對應;
對所述至少兩個分段相位圖分別進行相位去卷褶處理,得到至少兩個中間相位圖;
根據所述至少兩個中間相位圖,確定所述相位圖對應的去卷褶相位圖。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,對所述相位圖進行預處理,得到與所述相位圖對應的相位蒙版,包括:
獲取所述相位圖中各點的留數值;
確定所述相位圖中留數值符合指定條件的點,或者,確定所述相位圖中留數值符合指定條件的點以及所述留數值符合指定條件的點的相關點,得到留數點;
基于所述留數點得到與所述相位圖對應的相位蒙版。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,獲取所述相位圖中各點的留數值之前,所述方法還包括:
獲取與所述相位圖對應的幅值圖;
在所述幅值圖中確定幅值小于設定閾值的點的位置,得到背景點;
在所述相位圖中去除與所述背景點對應的相位。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,根據所述至少兩個中間相位圖,確定所述相位圖對應的去卷褶相位圖,包括:
在所述至少兩個中間相位圖中選擇第一中間相位圖;
在所述第一中間相位圖中,識別沿所述第一中間相位圖對應的分段方向發生指定錯誤的第一區域;
將所述第一中間相位圖中處于所述第一區域的點的相位去卷褶結果數據,用所述至少兩個中間相位圖中除所述第一中間相位圖以外的其它中間相位圖中相應點的相位去卷褶結果數據替換,得到所述相位圖對應的去卷褶相位圖。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,根據所述至少兩個中間相位圖,確定所述相位圖對應的去卷褶相位圖,包括:
在所述至少兩個中間相位圖中均未發生指定錯誤時,從所述至少兩個中間相位圖中任選一個中間相位圖,以作為所述相位圖對應的去卷褶相位圖。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,對所述至少兩個分段相位圖分別進行相位去卷褶處理,得到至少兩個中間相位圖,包括:
對所述至少兩個分段相位圖中的每個分段相位圖進行相位去卷褶處理,得到至少兩個與分段相位圖對應的初始去卷褶場圖,每個所述初始去卷褶場圖對應一組待定系數;
根據指定優化條件,計算每個所述初始去卷褶場圖對應的優化待定系數值;
根據每個所述初始去卷褶場圖對應的優化待定系數值,確定相應初始去卷褶場圖的待定系數,得到至少兩個中間相位圖。
7.根據權利要求1-6任一項所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
對時間維的相位或選層方向的相位作去卷褶處理。
8.一種磁共振成像掃描方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取預掃描信號,并根據所述預掃描信號獲取待處理的相位圖;
對所述相位圖進行預處理,得到與所述相位圖對應的相位蒙版;
根據所述相位蒙版,對所述相位圖至少沿第一方向和第二方向分別進行分段,得到至少兩個分段相位圖,所述分段相位圖與分段的方向相對應;
對所述至少兩個分段相位圖分別進行相位去卷褶處理,得到至少兩個中間相位圖;
根據所述至少兩個中間相位圖,確定所述相位圖對應的去卷褶相位圖;
根據所述去卷褶相位圖確定掃描區域的場分布;
根據所述場分布調節所述掃描區域對應的掃描參數,獲取均勻磁場。
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