[發明專利]一種同時調測光模塊發射和接收的裝置與方法

在審

• 申請號: 201710566527.4
• 申請日: 2017-07-12
• 公開（公告）號: CN107196700A
• 公開（公告）日: 2017-09-22
• 發明（設計）人: 吳曉;葉炳華;彭應明;趙恒
• 申請（專利權）人: 深圳市吉祥騰達科技有限公司
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079
• 代理公司: 深圳市科吉華烽知識產權事務所(普通合伙)44248
• 代理人: 孫偉

技術領域

本發明涉及調測光模塊，尤其涉及一種同時調測光模塊發射和接收的裝置與方法。

背景技術

傳統的調測光模塊的發射和接收都是按時間先后調測的，無法實現同時調測光模塊發射和接收，調試時間長，設備利用率低，效率低。

發明內容

為了解決現有技術中的問題，本發明提供了一種同時調測光模塊發射和接收的裝置與方法。

本發明提供了一種同時調測光模塊發射和接收的裝置，包括光模塊、測試板、誤碼儀、計算機、衰減器、功率計、眼圖儀、波分復用單元和分光器，其中，所述測試板、誤碼儀、衰減器、功率計、眼圖儀分別通過控制線與所述計算機連接，所述測試板與所述誤碼儀連接，所述光模塊與所述測試板連接，所述光模塊與所述波分復用單元連接，所述誤碼儀上設有光源，所述光源發出的接收光經衰減器傳輸到所述波分復用單元，所述接收光經所述波分復用單元傳輸到所述光模塊，所述光模塊發出的發射光經所述波分復用單元傳輸到所述分光器，所述分光器將所述發射光分為兩束光并分別傳輸到所述功率計、眼圖儀。

本發明還提供了一種同時調測光模塊發射和接收的方法，包括以下步驟：

S1、讀取型號配置；

S2、模塊上電；

S3、測試工作電流；

S4、加載調試寄存器；

S5、設置誤碼儀速率與碼型；

S6、靈敏度測試；

S7、同時進行接收測試線程和發射測試進程。

作為本發明的進一步改進，所述接收測試線程包括以下步驟：

S101、收端校準；

S102、告警測試；

S103、LOS測試；

S104、接收上報測試；

S105、飽和誤碼測試；

S106、初始化衰減器為靈敏度。

作為本發明的進一步改進，所述發射測試進程包括以下步驟：

S201、消光比調節；

S202、發射校準；

S203、電壓校準；

S204、溫度校準；

S205、參數下發；

S206、重新上電；

S207、發射上報校驗；

S208、關斷光功率測試；

S209、記錄保存。

作為本發明的進一步改進，在步驟S5與步驟S6之間進行APD調節。

本發明的有益效果是：通過上述方案，可實現同時調測光模塊發射和接收，調試時間短，設備利用率高，效率高。

附圖說明

圖1是本發明一種同時調測光模塊發射和接收的裝置的示意圖。

圖2是本發明一種同時調測光模塊發射和接收的方法的APD接收方法的流程圖。

圖3是發明一種同時調測光模塊發射和接收的方法的PIN接收方法的流程圖。

具體實施方式

下面結合附圖說明及具體實施方式對本發明作進一步說明。

如圖1所示，一種同時調測光模塊發射和接收的裝置，包括光模塊1、測試板2、誤碼儀3、計算機5、衰減器6、功率計7、眼圖儀8、波分復用單元（WDM）9和分光器10，其中，所述測試板2、誤碼儀3、衰減器、6功率計7、眼圖儀8分別通過控制線與所述計算機5連接，所述測試板2與所述誤碼儀3連接，所述光模塊1與所述測試板2連接，所述光模塊1與所述波分復用單元9連接，所述誤碼儀3上設有光源4，所述光源4發出的接收光經衰減器6傳輸到所述波分復用單元9，所述接收光的波長為1490nm，所述接收光經所述波分復用單元9傳輸到所述光模塊1，所述光模塊1發出的發射光經所述波分復用單元9傳輸到所述分光器10，所述發射光的波長為1310nm，所述分光器10將所述發射光分為兩束光并分別傳輸到所述功率計7、眼圖儀8，可以實現并行接收，發射調測，光模塊1發射和接收本身可以同時工作，可以調節發射光功率、調節眼圖等，同時測試接收靈敏度、告警等。

本發明還提供了一種同時調測光模塊發射和接收的方法，由于模塊接收PD會有區別，主要為PIN接收與APD接收，如果使用APD接收，APD需要進行預調節，圖2為APD方式接收方法，包括以下步驟：

S1、讀取型號配置；

S2、模塊上電；

S3、測試工作電流；

S4、加載調試寄存器；

S5、設置誤碼儀速率與碼型；

S6、靈敏度測試；

S7、同時進行接收測試線程和發射測試進程。

所述接收測試線程包括以下步驟：

S101、收端校準；