[發(fā)明專利]GOA測試電路及GOA測試方法

有效

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• 申請日: 2017-07-12
• 公開（公告）號: CN107221274B
• 公開（公告）日: 2018-03-13
• 發(fā)明（設計）人: 呂曉文
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙)44280
• 代理人: 鐘子敏

技術領域

本發(fā)明涉及液晶顯示技術領域，具體涉及一種GOA(Gate Driver on Array,陣列基板行驅動)測試電路及GOA測試方法。

背景技術

基于GOA技術的LCD(Liquid Crystal Display,液晶顯示器)具有制程簡單、成本低等優(yōu)點，已逐漸成為主流顯示裝置。在生產過程中，LCD需要設置測試電路以進行Array測試(陣列測試)和HVA Curing(High Vertical Alignment Curing,高垂直排列固化)制程。

在當前的一種電路結構設計中，請參閱圖1所示，Array測試和HVA Curing制程可以共用外圍走線11，且相鄰兩行的顯示面板10中間還設置有一條走線12，該走線12與外圍走線11未連接。通過對走線12或外圍走線11施加驅動信號，每一顯示面板10可以通過Array測試焊盤13僅在顯示面板10的一側接收到Array測試信號，即實現(xiàn)Array測試的單邊驅動。而在HVA Curing制程中，對外圍走線11施加驅動信號，每一顯示面板10通過HVA Curing焊盤14僅能在顯示面板10的一側接收到驅動信號，即只能實現(xiàn)HVA Curing制程的單邊驅動。當顯示面板10的尺寸較大或多個顯示面板10所在區(qū)域的尺寸較大時，受限于線路阻抗及RC(Resistance-Capacitance)負載較重等原因，驅動信號傳遞越遠衰減越嚴重，會導致顯示面板10出現(xiàn)畫面分屏或畫面漸變等問題。

為了避免該問題，業(yè)界提出了圖2所示的電路結構設計，將走線12的兩端與外圍走線11連接。對外圍走線11施加驅動信號時，每一顯示面板10的兩側均可以接收到驅動信號，實現(xiàn)HVA Curing制程的雙邊驅動。但是，該電路結構設計無法實現(xiàn)Array測試的單邊驅動，當顯示面板10一側的驅動電路不能正常工作時，另外一側的驅動電路仍然可以在驅動信號的控制下使顯示面板10的像素正常工作，從而導致漏檢。

發(fā)明內容

有鑒于此，本發(fā)明提供一種GOA測試電路及GOA測試方法，既能夠實現(xiàn)Array測試的單邊驅動，還能夠實現(xiàn)HVA Curing制程的雙邊驅動。

本發(fā)明一實施例的GOA測試電路，用于對呈陣列排布的多個顯示面板進行測試，所述GOA測試電路包括：

第一走線，設置于多個顯示面板所在區(qū)域之外，并與每一顯示面板的Array測試焊盤和HVA Curing焊盤連接；

至少一條與第一方向平行的第二走線，多個顯示面板所在區(qū)域被至少一條第二走線劃分為沿第二方向排布的至少兩個區(qū)域，其中所述第二方向與所述第一方向相垂直，且每一第二走線位于相鄰的兩個所述區(qū)域之間，每一第二走線與位于其兩側的各個顯示面板的Array測試焊盤和HVA Curing焊盤連接；

開關單元，設置于第一走線和每一第二走線的之間，用于控制第一走線和每一第二走線的導通和斷開。

本發(fā)明一實施例的GOA測試方法，用于對呈陣列排布的多個顯示面板進行測試，所述GOA測試方法包括：

在多個顯示面板所在區(qū)域之外設置第一走線，第一走線與每一顯示面板的Array測試焊盤和HVA Curing焊盤連接；

形成至少一條與第一方向平行的第二走線，多個顯示面板所在區(qū)域被至少一條第二走線劃分為沿第二方向排布的至少兩個區(qū)域，其中所述第二方向與所述第一方向相垂直，且每一第二走線位于相鄰的兩個所述區(qū)域之間，每一第二走線與位于其兩側的各個顯示面板的Array測試焊盤和HVA Curing焊盤連接；

在第一走線和每一第二走線的之間形成開關單元；

開關單元斷開第一走線和第二走線的連接，并對第一走線和第二走線施加Array測試信號，以對多個顯示面板進行Array測試；

開關單元導通第一走線和第二走線的連接，并對第一走線和第二走線施加HVA Curing制程信號，以對多個顯示面板進行HVA Curing制程。

有益效果：本發(fā)明在多個顯示面板所在區(qū)域之外設置第一走線，并將多個顯示面板所在區(qū)域劃分為至少兩個區(qū)域，在相鄰的兩個區(qū)域之間設置一條第二走線，以及在第一走線和每一第二走線之間設置開關單元，在進行Array測試時，斷開開關單元，可以僅對顯示面板的一側施加Array測試信號，從而實現(xiàn)Array測試的單邊驅動，而在進行HVA Curing制程時，導通開關單元，可以對顯示面板的兩側施加HVA Curing制程信號，從而實現(xiàn)HVA Curing制程的雙邊驅動。

附圖說明