[發明專利]一種測量跟瞄系統干擾抑制帶寬的裝置及方法在審
| 申請號： | 201710563680.1 | 申請日： | 2017-07-12 |
| 公開（公告）號： | CN107204801A | 公開（公告）日： | 2017-09-26 |
| 發明（設計）人： | 張亮;陳少杰;賈建軍;王建宇;舒嶸 | 申請（專利權）人： | 中國科學院上海技術物理研究所 |
| 主分類號： | H04B10/071 | 分類號： | H04B10/071 |
| 代理公司： | 上海滬慧律師事務所31311 | 代理人： | 李秀蘭 |
| 地址： | 200083 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測量 系統 干擾 抑制 帶寬 裝置 方法 | ||
1.一種測量跟瞄系統干擾抑制帶寬的裝置，包括平行光管(1)、信標光激光器(2)、壓電陶瓷快速反射鏡(3)、壓電陶瓷驅動器(4)、信號發生器(5)、被測跟瞄系統(6)，其特征在于：
所述信標光激光器(2)為光纖激光器，光纖端面位于平行光管(1)的焦面處；
所述信標光激光器(2)發出的激光經過壓電陶瓷快速反射鏡(3)后進入平行光管(1)，由平行光管(1)產生平行光束，進入被測跟瞄系統(6)；
所述信號發生器(5)產生輸入信號給壓電陶瓷驅動器(4)，驅動壓電陶瓷快速反射鏡(3)進行偏轉運動。
2.一種基于權利要求1所述一種測量跟瞄系統干擾抑制帶寬的裝置的干擾抑制帶寬測量方法，其特征在于包括以下步驟：
1)使用信號發生器(5)產生頻率為X的正弦信號，輸入給壓電陶瓷驅動器(4)驅動壓電陶瓷快速反射鏡(3)產生頻率為X，幅度為θ的擺動；信標光激光器(2)的光纖端面距離壓電陶瓷快速反射鏡(3)鏡面的距離為L，平行光管的焦面為f，則可產生頻率為X，幅度為2Lθ/f的信標光角度干擾；
2)待測跟瞄系統(6)跟蹤步驟1)產生的信標光，此時的系統跟蹤殘差也為頻率為X的正弦信號，殘差對應的角度幅度為θ′；則表明在頻率為X時，跟瞄系統對干擾的抑制能力為D＝θ′f/(2Lθ)；
3)從低頻開始依次增加步驟1)中的干擾頻率X，測量不同頻率下待測跟瞄系統(6)對干擾的抑制能力D(X)，進行數據的擬合，當D(X0)＝0時，X0即為待測跟瞄系統(6)的干擾抑制帶寬。
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