[發(fā)明專利]一種測(cè)試零件用夾具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710556599.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107192727B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-10-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳政;肖炯;周震杰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上汽大眾汽車(chē)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/046 | 分類號(hào): | G01N23/046 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 孫英杰;陳亮 |
| 地址: | 201805 上*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測(cè)試 零件 夾具 | ||
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及工業(yè)裝備測(cè)試領(lǐng)域,尤其涉及工業(yè)CT設(shè)備配套使用一種測(cè)試零件用夾具。
背景技術(shù):
工業(yè)CT設(shè)備在測(cè)試過(guò)程中,有如下要求:
1、要求測(cè)試零件在X射線中心位置。在零件360°旋轉(zhuǎn)過(guò)程中,零件嚴(yán)格幾何對(duì)準(zhǔn)中心可以盡可能的增加零件放大倍數(shù)M,從而可以增加零件的最大檢測(cè)尺寸。零件最大檢測(cè)尺寸與中心偏移距離的對(duì)應(yīng)關(guān)系如圖1a、圖1b、圖1c所示。如圖所示,包括設(shè)置在長(zhǎng)度為D的探測(cè)器平板20上的圓形零件10,以圓形零件10最大檢測(cè)直徑與偏移距離d的大致關(guān)系如表1所示。
表1零件最大檢測(cè)直徑與偏移距離d大致關(guān)系
2、由于X射線穿透力因素以及X射線硬化因素的考量,夾具材料的X射線衰減盡量要小,對(duì)應(yīng)的夾具材料的密度要小。初始強(qiáng)度為I0的X射線穿過(guò)衰減系數(shù)為μ的物體x距離后強(qiáng)度衰減為I,有如下公式:I=I0e-μx,μ為穿透衰減系數(shù),與物體密度正相關(guān)。不同密度的夾具材料對(duì)測(cè)試零件等效厚度的影響大致對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)如表2所示。
表2夾具上嵌體材料對(duì)測(cè)試零件等效厚度的大致關(guān)系圖(以450KV射線系統(tǒng)為例,16%的CT為例)
(以本夾具厚度作為參考,定義:厚1.5cm*2=3cm,長(zhǎng)10cm,其旋轉(zhuǎn)過(guò)程中最大厚度近似為10.5cm)
3、高密度材料對(duì)低密度材料有射線硬化作用。所以?shī)A具材料密度要盡量小于被測(cè)試零件。
4、需要夾持較大的不規(guī)則形狀零件,并且零件由于重量較大,需要較大的夾持力,避免零件移動(dòng)。如果測(cè)試過(guò)程中,零件移動(dòng)對(duì)測(cè)試圖像會(huì)造成偽影。
目前市場(chǎng)上普通的小型夾具夾持力范圍往往達(dá)不到要求,并且?jiàn)A具材料普遍為黑色金屬或者有色金屬,會(huì)極大消弱測(cè)試X射線的強(qiáng)度,影響測(cè)試質(zhì)量。而工業(yè)CT設(shè)備專門(mén)配套的5軸聯(lián)動(dòng)夾具需要幾十萬(wàn)元,盡管費(fèi)用很高,但也不能做到完全幾何對(duì)中。
發(fā)明內(nèi)容:
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述問(wèn)題,本發(fā)明提出了一種測(cè)試零件用夾具,能保證夾持力,使零件處于中心位置,整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便,符合測(cè)試要求。
具體地,本發(fā)明提出了一種測(cè)試零件用夾具,包括,
圓盤(pán)底座,包括上圓盤(pán)、下圓盤(pán)和第一連接桿,所述上圓盤(pán)通過(guò)所述第一連接桿與所述下圓盤(pán)連接,所述上圓盤(pán)位于所述下圓盤(pán)的上方且軸線重合;
活動(dòng)嵌具,包括基座、導(dǎo)絲杠、導(dǎo)向塊和上嵌體,所述基座適于裝配在所述上圓盤(pán)的中心位置,所述導(dǎo)絲杠沿所述基座長(zhǎng)度方向上設(shè)置在所述基座上,兩塊所述導(dǎo)向塊分別設(shè)置在所述導(dǎo)絲杠的兩側(cè),轉(zhuǎn)動(dòng)所述導(dǎo)絲杠,兩塊所述導(dǎo)向塊能沿所述導(dǎo)絲杠相互靠攏或分離,在所述導(dǎo)向塊上可拆卸地設(shè)置所述上嵌體;
測(cè)試過(guò)程中,轉(zhuǎn)動(dòng)所述導(dǎo)絲杠,使所述導(dǎo)向塊沿所述導(dǎo)絲杠相互靠攏,通過(guò)所述上嵌體夾持所述零件。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例,在所述上圓盤(pán)的表面開(kāi)設(shè)壓桿槽,所述測(cè)試零件用夾具還包括壓桿,所述壓桿包括壓板和設(shè)置在所述壓板兩端的第二連接桿,所述第二連接桿的一端固定裝配在所述壓板上,另一端滑動(dòng)裝配在所述壓桿槽內(nèi);
所述導(dǎo)絲杠兩側(cè)的螺紋方向相反,兩塊所述導(dǎo)向塊分別與所述導(dǎo)絲杠的兩側(cè)螺紋配合;
將所述壓桿的第二連接桿裝入所述壓桿槽內(nèi),使所述壓板緊壓在所述零件上。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上汽大眾汽車(chē)有限公司,未經(jīng)上汽大眾汽車(chē)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710556599.0/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





