[發明專利]一種基于軟件邏輯功能配合的晶閘管測試系統

有效

• 申請號: 201710555210.0
• 申請日: 2017-07-10
• 公開（公告）號: CN109239564B
• 公開（公告）日: 2021-02-26
• 發明（設計）人: 楊帆;劉磊;張翔;周晨;潘衛明;方太勛
• 申請（專利權）人: 南京南瑞繼保電氣有限公司;南京南瑞繼保工程技術有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提出了一種基于軟件邏輯功能配合的晶閘管測試系統，其主要內容為，測試系統包括：被測晶閘管閥、閥控單元和測試儀，閥控單元具有專門的測試模式，測試儀在進行每項測試時都分為三個步驟。被測晶閘管閥和閥控單元之間采用光纖連接，被測晶閘管閥和測試儀之間采用電纜連接，閥控單元和測試儀之間無任何連接。

技術領域

本發明涉及一種用于在工程現場給晶閘管閥進行功能測試的測試系統及對應的測試方法，屬于電力電子領域。

背景技術

在有晶閘管閥應用的工程現場，一般在投運前、年檢或者設備發生故障更換后，需要用專門的測試儀對晶閘管閥進行測試，而晶閘管觸發單元(TCU)由于負責對晶閘管的觸發、保護，以及對閥控單元(VBE)的信號反饋，所以是測試中的重點。早期由于TCU和VBE交互的光信號比較單一，所以可以不專門測試，即測試儀和晶閘管閥僅有電纜連接。隨著TCU功能以及和VBE之間配合的豐富，兩者之間交互的光信號趨于復雜。例如為了區分補脈沖和保護性觸發回報，TCU針對不同意義的回報光信號設置了不同的寬度，為了測試這些光信號的正確性，測試儀和晶閘管閥之間除電纜連接外，還需要有光纖連接。

在工程現場進行測試時，一般所有的TCU和VBE之間的光纖鋪設和連接已經完成，所以測試時需要將TCU上和VBE連接的光纖拔出，然后再用另外的光纖將TCU和測試儀連接，如圖1所示，這樣TCU和測試儀之間可以直接進行光信號的傳輸，以滿足試驗的需要。但這種做法存在一個較大的隱患，即每對一個晶閘管級進行試驗時，都至少需要在TCU上進行兩次光纖插拔，若該晶閘管級試驗并不順利，則在檢查過程中可能多次插拔光纖，而每次插拔光纖都可能對光纖以及TCU的光接口處造成污穢和磨損，影響光信號的傳輸。在以往的工程現場曾經出現過在完成測試儀對晶閘管閥的功能測試，將原來光纖恢復后，在后續的試驗中發現光路故障的情況。由于所有光路在前期完成光纖敷設后會統一進行測試，說明該光路故障是由于后續用測試儀對晶閘管閥的測試過程中的反復插拔導致，而由于光路測試的工作量巨大，不可能進行復測，所以受損光纖便遺漏到后續試驗過程中，造成影響。

發明內容

本發明所要解決的問題是，針對上述測試系統和測試方法的缺點，提出一種不用插拔現場已連接光纖，通過測試儀和VBE之間相互配合，便能滿足晶閘管閥所有測試功能和測試要求的方案。

本發明提供一種晶閘管閥的測試系統，所述測試系統包括：被測晶閘管閥、測試儀和閥控單元。

其中，所述被測晶閘管閥包括至少一個晶閘管級，每個晶閘管級至少包括一個晶閘管、一個觸發單元和所需輔助回路。

其中，所述閥控單元具有專用的測試模式：

1.閥控單元每連續收到N個回報脈沖1時，向觸發單元發送一個觸發脈沖；

2.閥控單元收到回報脈沖2后，在下一次連續收到N個回報脈沖1時，不向觸發單元發送觸發脈沖；

3.閥控單元若在一定時間T內沒有收到任何回報脈沖時，則所有脈沖個數從零計算。

其中，所述測試儀的每個測試項目均分為3個步驟：

1.施加激勵為正弦電壓，測試儀在該階段中檢測晶閘管是否導通，判斷整個晶閘管級電路及光路是否正常；

2.施加激勵為對應本測試項目內容的正弦電壓或沖擊電壓或正向電壓和沖擊電壓的疊加，測試儀在該階段中檢測晶閘管電壓及電流，判斷本測試項目中晶閘管閥在電氣方面是否滿足要求；

3.施加激勵為正弦電壓，測試儀在該階段中檢測晶閘管是否導通，判斷在步驟b中晶閘管閥向閥控單元回報的光信號是否正確。

其中，所述的被測晶閘管閥和所述閥控單元之間采用光纖連接，所述被測晶閘管閥和所述測試儀之間采用電纜連接，所述閥控單元和所述測試儀之間無任何連接。