[發(fā)明專利]一種SiC晶圓的深孔清洗方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710552614.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107180748A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-09-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王珺楠 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 成都海威華芯科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/02 | 分類號(hào): | H01L21/02;B08B3/08 |
| 代理公司: | 成都華風(fēng)專利事務(wù)所(普通合伙)51223 | 代理人: | 徐豐 |
| 地址: | 610029 四川省成都市*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 sic 清洗 方法 | ||
1.一種SiC晶圓的深孔清洗方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、采用硝酸溶液對(duì)刻蝕通孔后的SiC晶圓進(jìn)行第一次清洗;
S2、采用另一份硝酸溶液對(duì)SiC晶圓進(jìn)行第二次清洗;
S3、采用純水對(duì)SiC晶圓進(jìn)行第三次清洗;
S4、對(duì)SiC晶圓進(jìn)行干燥。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SiC晶圓的深孔清洗方法,其特征在于,所述硝酸溶液中硝酸與去離子水的體積比為1:4。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SiC晶圓的深孔清洗方法,其特征在于,所述第一次清洗的方式為浸泡,浸泡時(shí)間為120分鐘,并且水浴加熱硝酸溶液至40℃;浸泡時(shí)加超聲波震動(dòng),超聲波功率為300w,頻率為雙頻40KHz和120KHz。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SiC晶圓的深孔清洗方法,其特征在于,所述第二次清洗的方式為浸泡,浸泡時(shí)間為60分鐘,并且水浴加熱硝酸溶液至40℃。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SiC晶圓的深孔清洗方法,其特征在于,所述第三次清洗的方式為浸泡,浸泡時(shí)間為5分鐘。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SiC晶圓的深孔清洗方法,其特征在于,所述第一次清洗、第二次清洗、第三次清洗的方式為噴淋。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SiC晶圓的深孔清洗方法,其特征在于,所述步驟S4中干燥的方式為旋轉(zhuǎn)甩干或氮?dú)獯蹈伞?/p>
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的SiC晶圓的深孔清洗方法,其特征在于,所述步驟S4中干燥的時(shí)間為5分鐘。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SiC晶圓的深孔清洗方法,其特征在于,所述SiC晶圓尺寸為6英寸。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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