[發(fā)明專利]優(yōu)化起伏地表區(qū)目標(biāo)成像質(zhì)量的方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710551926.3 | 申請日: | 2017-07-07 |
| 公開(公告)號: | CN109212607B | 公開(公告)日: | 2019-12-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曾昭翰 | 申請(專利權(quán))人: | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油物探技術(shù)研究院 |
| 主分類號: | G01V1/36 | 分類號: | G01V1/36 |
| 代理公司: | 11218 北京思創(chuàng)畢升專利事務(wù)所 | 代理人: | 孫向民;廉莉莉 |
| 地址: | 100728 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 目標(biāo)成像 深度參數(shù) 起伏地表 疊后偏移 點(diǎn)坐標(biāo) 檢波 掃描 地震數(shù)據(jù)處理 成像剖面 成像效果 劇烈變化 大區(qū)域 基準(zhǔn)面 信噪比 高差 成像 疊加 優(yōu)化 地表 應(yīng)用 | ||
1.一種優(yōu)化起伏地表區(qū)目標(biāo)成像質(zhì)量的方法,其特征在于,該方法包括:
確定基準(zhǔn)面及起伏地表區(qū)目標(biāo)成像深度,并選擇深度參數(shù)掃描計算范圍;
計算所述深度參數(shù)掃描計算范圍內(nèi)的多個深度條件下的檢波點(diǎn)坐標(biāo);
將計算得到的所述多個深度條件下的檢波點(diǎn)坐標(biāo)代入一條cdp線,進(jìn)行疊加和疊后偏移;
對比多個深度條件下的疊后偏移剖面的成像效果,選擇最佳的深度參數(shù);
將選擇出的深度參數(shù)應(yīng)用到全區(qū)地震數(shù)據(jù)處理中,得到最終的成像剖面;
其中,調(diào)取全區(qū)地震數(shù)據(jù)中的檢波點(diǎn)文件和炮點(diǎn)文件,計算多個深度條件下的檢波點(diǎn)坐標(biāo);
其中,通過以下公式計算多個深度條件下的檢波點(diǎn)坐標(biāo):
其中,xr、yr分別為檢波點(diǎn)的橫縱坐標(biāo),xs、ys分為為炮點(diǎn)的橫縱坐標(biāo),x、y分別為計算后的檢波點(diǎn)坐標(biāo),H為目標(biāo)深度,hr、hs分別為檢波點(diǎn)和炮點(diǎn)的高程,θ為炮點(diǎn)和檢波點(diǎn)連線與正東方向的夾角。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的優(yōu)化起伏地表區(qū)目標(biāo)成像質(zhì)量的方法,其特征在于,所述深度參數(shù)掃描計算范圍涵蓋了所述目標(biāo)成像深度,并且所述深度參數(shù)掃描計算范圍內(nèi)的多個深度包括所述目標(biāo)成像深度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的優(yōu)化起伏地表區(qū)目標(biāo)成像質(zhì)量的方法,其特征在于,基于選擇的最佳深度參數(shù)計算出全區(qū)的檢波點(diǎn)文件及其炮點(diǎn)文件、關(guān)系文件,并加載到全區(qū)地震數(shù)據(jù)中進(jìn)行應(yīng)用。
4.一種優(yōu)化起伏地表區(qū)目標(biāo)成像質(zhì)量的系統(tǒng),其特征在于,包括:
存儲器,存儲有計算機(jī)可執(zhí)行指令;
處理器,所述處理器運(yùn)行所述存儲器中的計算機(jī)可執(zhí)行指令,執(zhí)行以下步驟:
確定基準(zhǔn)面及起伏地表區(qū)目標(biāo)成像深度,并選擇深度參數(shù)掃描計算范圍;
計算所述深度參數(shù)掃描計算范圍內(nèi)的多個深度條件下的檢波點(diǎn)坐標(biāo);
將計算得到的所述多個深度條件下的檢波點(diǎn)坐標(biāo)代入一條cdp線,進(jìn)行疊加和疊后偏移;
對比多個深度條件下的疊后偏移剖面的成像效果,選擇最佳的深度參數(shù);
將選擇出的深度參數(shù)應(yīng)用到全區(qū)地震數(shù)據(jù)處理中,得到最終的成像剖面其中,調(diào)取全區(qū)地震數(shù)據(jù)中的檢波點(diǎn)文件和炮點(diǎn)文件,計算多個深度條件下的檢波點(diǎn)坐標(biāo);
其中,通過以下公式計算多個深度條件下的檢波點(diǎn)坐標(biāo):
其中,xr、yr分別為檢波點(diǎn)的橫縱坐標(biāo),xs、ys分為為炮點(diǎn)的橫縱坐標(biāo),x、y分別為計算后的檢波點(diǎn)坐標(biāo),H為目標(biāo)深度,hr、hs分別為檢波點(diǎn)和炮點(diǎn)的高程,θ為炮點(diǎn)和檢波點(diǎn)連線與正東方向的夾角。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的優(yōu)化起伏地表區(qū)目標(biāo)成像質(zhì)量的系統(tǒng),其特征在于,所述深度參數(shù)掃描計算范圍涵蓋了所述目標(biāo)成像深度,并且所述深度參數(shù)掃描計算范圍內(nèi)的多個深度包括所述目標(biāo)成像深度。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的優(yōu)化起伏地表區(qū)目標(biāo)成像質(zhì)量的系統(tǒng),其特征在于,基于選擇的最佳深度參數(shù)計算出全區(qū)的檢波點(diǎn)文件及其炮點(diǎn)文件、關(guān)系文件,并加載到全區(qū)地震數(shù)據(jù)中進(jìn)行應(yīng)用。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油物探技術(shù)研究院,未經(jīng)中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油物探技術(shù)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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