[發明專利]天線近場測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201710551829.4
• 申請日: 2017-07-07
• 公開（公告）號: CN107247193B
• 公開（公告）日: 2020-05-08
• 發明（設計）人: 蘇道一
• 申請（專利權）人: 廣東曼克維通信科技有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 黃隸凡

本發明提供了一種天線近場測試方法及裝置，包括步驟：通過探頭對天線進行采樣，獲取天線的第一近場分布數據；根據所述第一近場分布數據進行數學變換，獲取天線的遠場方向圖；對所述天線的遠場方向圖進行數學逆變換，獲取天線的第二近場分布數據。通過本發明所提供的技術方案，在對天線進行采樣獲取到天線的第一近場分布數據后，對所述第一近場分布數據進行數學變換獲取天線的遠場方向圖，再對所述遠場方向圖進行數學逆變換獲取天線的第二近場分布數據。通過一次近遠場變換和一次遠近場變換，修正了近場測試中采樣間距為不等間距時所產生的測試誤差，提高了近場測試的準確度，基于此降低近場測試對伺服系統的精度要求。

技術領域

本發明涉及天線測試技術領域，特別是涉及一種天線近場測試方法及裝置。

背景技術

微波天線方向圖測試方法有近場測試、遠場測試、緊縮場測試三種方法。近場測試相比其它兩種測試方法在場地需求、空域測試覆蓋性、測試效率、測試精度等方面都更多優勢，所以天線近場測試正在逐漸成為主流的測試方法。天線近場測試是一種采用高精度伺服系統，驅動采樣探頭，采集天線近場分布數據，再通過快速傅里葉變換進行近遠場變換，獲取全空域輻射方向圖性能的測試方法。

現有的測試方法，要求伺服系統能夠精確驅動采樣探頭的位置，形成等間距近場采樣柵格，才能用快速傅里葉變換算法計算遠場方向圖。其中探頭定位的隨機誤差不可超過1％波長，而系統誤差的精度要求更高。目前是在伺服系統的設計中，對系統設計、運動補償、電機精度、傳動精度等方面做了精細的設計，以滿足探頭定位精度的需求。

但是，現有的測試方法對伺服系統精度要求較高，使得伺服系統構造復雜，造成伺服系統的成本較高。

發明內容

基于此，有必要針對現有的測試方法對伺服系統精度要求較高，使得伺服系統構造復雜和成本較高等缺陷，提供一種天線近場測試方法及裝置。

本發明所提供的技術方案如下：

一種天線近場測試方法，包括步驟：

通過探頭對天線進行采樣，獲取天線的第一近場分布數據。

根據所述第一近場分布數據進行數學變換，獲取天線的遠場方向圖。

對所述天線的遠場方向圖進行數學逆變換，獲取天線的第二近場分布數據。

一種天線近場測試裝置，包括：

采樣模塊，用于通過探頭對天線進行采樣，獲取天線的第一近場分布數據。

近遠場變換模塊，用于根據所述第一近場分布數據進行數學變換，獲取天線的遠場方向圖。

遠近場變換模塊，用于對所述天線的遠場方向圖進行數學逆變換，獲取天線的第二近場分布數據。

一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序程序時實現所述天線近場測試方法的步驟。

一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現所述天線近場測試方法的步驟。

通過本發明所提供的技術方案，在對天線進行采樣獲取到天線的第一近場分布數據后，對所述第一近場分布數據進行數學變換獲取天線的遠場方向圖，再對所述遠場方向圖進行數學逆變換獲取天線的第二近場分布數據。通過一次近遠場變換和一次遠近場變換，修正了近場測試中采樣間距為不等間距時所產生的測試誤差，提高了近場測試的準確度，基于此降低近場測試對伺服系統的精度要求。

附圖說明

圖1為天線近場測試方法的方法流程圖；

圖2為一優選實施例的天線近場測試方法的方法流程圖；