[發(fā)明專利]飛針測試機(jī)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710550807.6 | 申請日: | 2017-07-07 |
| 公開(公告)號: | CN109212273A | 公開(公告)日: | 2019-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃韜 | 申請(專利權(quán))人: | 南京泊納萊電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250 | 代理人: | 周美華 |
| 地址: | 211100 江蘇省南京市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 夾緊結(jié)構(gòu) 治具 拆裝位置 夾具基座 驅(qū)動結(jié)構(gòu) 飛針測試機(jī) 滑入 螺釘固定 滑出 夾緊 耗時(shí) 驅(qū)動 移動 | ||
1.一種飛針測試機(jī),其特征在于,包括:
夾具基座(10);
驅(qū)動結(jié)構(gòu),設(shè)置在所述夾具基座(10)上;
夾緊結(jié)構(gòu),與所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)連接,所述夾緊結(jié)構(gòu)具有拆裝位置及工作位置;
治具(30),在所述夾緊結(jié)構(gòu)處于所述拆裝位置時(shí),所述治具(30)可滑入所述夾緊結(jié)構(gòu)中或從所述夾緊結(jié)構(gòu)中滑出,在所述治具(30)滑入所述夾緊結(jié)構(gòu)后,所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)驅(qū)動夾緊結(jié)構(gòu)從所述拆裝位置切換至所述工作位置,所述夾緊結(jié)構(gòu)夾緊所述治具(30)以限制所述治具(30)的移動。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針測試機(jī),其特征在于,所述夾緊結(jié)構(gòu)和所述治具(30)中的一個(gè)上具有滑槽(21),所述夾緊結(jié)構(gòu)和所述治具(30)中的另一個(gè)上具有適于在所述滑槽(21)內(nèi)滑動的滑軌(31)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的飛針測試機(jī),其特征在于,
所述夾緊結(jié)構(gòu)為兩個(gè)相對設(shè)置的夾緊塊(20),兩個(gè)所述夾緊塊(20)之間形成滑動空間,
兩個(gè)所述夾緊塊(20)的相向的側(cè)面具有向內(nèi)凹陷的凹槽,所述凹槽形成所述滑槽(21),所述治具(30)的相對的兩側(cè)具有向外凸出的凸緣,所述凸緣形成所述滑軌(31),或者,兩個(gè)所述夾緊塊(20)的相向的側(cè)面具有向外凸出的凸緣,所述凸緣形成所述滑軌(31),所述治具(30)的相對的兩側(cè)具有向內(nèi)凹陷的凹槽,所述凹槽形成所述滑槽(21)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針測試機(jī),其特征在于,所述夾緊結(jié)構(gòu)相對于所述夾具基座(10)可移動地設(shè)置,所述夾緊結(jié)構(gòu)向靠近所述夾具基座(10)的方向移動時(shí)通過向所述治具(30)施加壓緊力以將所述治具(30)壓緊在所述夾具基座(10)上。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的飛針測試機(jī),其特征在于,所述治具(30)沿水平方向滑入所述夾緊結(jié)構(gòu)中,所述治具(30)的上表面高于或等于所述夾緊結(jié)構(gòu)的上表面。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針測試機(jī),其特征在于,所述夾緊結(jié)構(gòu)壓緊所述治具(30)時(shí),所述治具(30)的上表面與所述夾具基座(10)的下表面接觸并電連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針測試機(jī),其特征在于,所述夾緊結(jié)構(gòu)沿豎直方向移動并位于所述夾具基座(10)的下方。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的飛針測試機(jī),其特征在于,所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)為氣缸,所述氣缸的活塞桿(40)與所述夾緊結(jié)構(gòu)連接。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的飛針測試機(jī),其特征在于,所述驅(qū)動結(jié)構(gòu)為氣缸,所述氣缸的個(gè)數(shù)為兩個(gè),兩個(gè)所述氣缸與兩個(gè)所述夾緊塊(20)一一對應(yīng)連接,或者,所述氣缸的個(gè)數(shù)為四個(gè),每個(gè)所述夾緊塊(20)與兩個(gè)所述氣缸連接。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于南京泊納萊電子科技有限公司,未經(jīng)南京泊納萊電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710550807.6/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種多功能半導(dǎo)體電阻測試儀
- 下一篇:接觸端子、檢查夾具及檢查裝置
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





