[發(fā)明專利]相控陣天線的近場校準(zhǔn)測試方法及裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710548793.4
• 申請(qǐng)日: 2017-07-07
• 公開（公告）號(hào): CN107317639A
• 公開（公告）日: 2017-11-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蘇道一
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣東曼克維通信科技有限公司
• 主分類號(hào): H04B17/12
• 分類號(hào): H04B17/12
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司44224
• 代理人: 黃隸凡

1.一種相控陣天線的近場校準(zhǔn)測試方法，其特征在于，包括步驟：

若探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，關(guān)閉除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道；

通過所述探頭獲取相控陣天線的測試數(shù)據(jù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的近場校準(zhǔn)測試方法，其特征在于，還包括步驟：

若所述探頭未運(yùn)行至所述相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，開通所述相控陣天線的全部通道。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的近場校準(zhǔn)測試方法，其特征在于，所述探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，還包括步驟：

將除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道的接收狀態(tài)調(diào)整為匹配狀態(tài)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的近場校準(zhǔn)測試方法，其特征在于，所述通道的采樣點(diǎn)為所述通道的相位中心。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的近場校準(zhǔn)測試方法，其特征在于，所述通過所述探頭獲取相控陣天線的測試數(shù)據(jù)的過程，包括步驟：

通過所述探頭獲取相控陣天線的發(fā)射數(shù)據(jù)，根據(jù)所述相控陣天線的發(fā)射數(shù)據(jù)獲取相控陣天線的測試數(shù)據(jù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的近場校準(zhǔn)測試方法，其特征在于，還包括步驟：

驅(qū)動(dòng)所述探頭運(yùn)行至所述相控陣天線的各個(gè)通道的采樣點(diǎn)。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的近場校準(zhǔn)測試方法，其特征在于，所述探頭為相控陣天線伺服系統(tǒng)的近場探頭。

8.一種近場天線測試裝置，其特征在于，包括：

通道控制模塊，用于在探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，關(guān)閉除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道；

數(shù)據(jù)獲取模塊，用于通過所述探頭獲取相控陣天線的測試數(shù)據(jù)。

9.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序程序時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)所述方法的步驟。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)所述方法的步驟。