[發明專利]一種四導軌裝調檢測裝置及檢測方法

在審

• 申請號: 201710547954.8
• 申請日: 2017-07-06
• 公開（公告）號: CN107202558A
• 公開（公告）日: 2017-09-26
• 發明（設計）人: 王元成;楊蒲莉;羅志鵬;孫旭;鄧平盛;周衛華;李強
• 申請（專利權）人: 湖北三江航天萬峰科技發展有限公司
• 主分類號: G01B11/27
• 分類號: G01B11/27
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司42104
• 代理人: 劉志菊,李滿

1.一種利用四導軌裝調檢測裝置的四導軌裝調檢測方法，所述四導軌裝調檢測裝置包括檢測裝置(3)、平臺(5)和多個定位裝置(4)，其中，所述檢測裝置(3)包括圓筒框架本體(3.1)、上側凸臺滑塊(3.2)、下側凸臺滑塊(3.3)、左側凸臺滑塊(3.4)和右側凸臺滑塊(3.5)，所述上側凸臺滑塊(3.2)、下側凸臺滑塊(3.3)、左側凸臺滑塊(3.4)和右側凸臺滑塊(3.5)沿圓筒框架本體(3.1)的周向設置，所述上側凸臺滑塊(3.2)用于與筒體(1)內壁的被測上導軌(1.1)滑動配合，下側凸臺滑塊(3.3)用于與筒體(1)內壁的被測下導軌(1.2)滑動配合，左側凸臺滑塊(3.4)用于與筒體(1)內壁的被測左導軌(1.3)滑動配合，右側凸臺滑塊(3.5)用于與筒體(1)內壁的被測右導軌(1.4)滑動配合，圓筒框架本體(3.1)前端面的圓心處設置有反射鏡(7)，所述反射鏡(7)的鏡片水平設置，多個定位裝置(4)并排設置在平臺(5)上，多個定位裝置(4)用于對筒體(1)的外側壁進行夾持，平臺(5)上設有自準儀(6)，所述自準儀(6)的物鏡能水平對準反射鏡(7)的鏡片；

所述四導軌裝調檢測方法，包括如下步驟：

步驟1：將自準儀(6)的視場中心與反射鏡(7)的中心調整至對齊；

步驟2：自準儀(6)射出的光線照準安放在圓筒框架本體(3.1)圓心處的反射鏡(7)，將檢測裝置(3)沿筒體(1)內壁的被測導軌整個被測長度方向來回滑動，同時調整自準儀(6)的位置，使自準儀(6)中十字線的反射像均在視場內即可，然后將自準儀(6)的位置加以固定；

步驟3：松開自準儀(6)的目鏡頭鎖緊螺釘，轉動目鏡頭以使自準儀(6)的測微鼓輪的軸線方向平行于物鏡軸方向，然后鎖住目鏡頭，將檢測裝置(3)放在筒體(1)內壁的被測導軌起始點；

步驟4：調整自準儀(6)的位置，使自準儀(6)的十字線影像處于視場中央，從自準儀(6)上進行對線并得到偏移量讀數a₁，然后將檢測裝置(3)依次從起始點步進式移至終測點處，同時分別從自準儀(6)上進行對線，并得偏移量讀數a₂、a₃、a₄、a₅、a₆、a₇、a₈,……,a_n-1、a_n，實現水平方向的直線度測量，偏移量是指反射光線與目鏡上十字指示線的差值；

步驟5：當檢測裝置(3)的反射鏡(7)移到終測點時，自準儀(6)位置固定不動，松開目鏡頭鎖緊螺釘，將目鏡頭順時針旋轉90°，使測微鼓輪的軸線方向與物鏡方向垂直，鎖緊目鏡頭；

步驟6：使自準儀(6)的十字線影像處于視場分劃板刻線中央，記下自準儀(6)此時位置的偏移量讀數b_n，然后將檢測裝置依次從終測點步進式移至起始測點，同時分別從自準儀(6)上進行對線，并得偏移量讀數b_n-1,……,b₈、b₇、b₆、b₅、b₄、b₃、b₂、b₁，實現垂直方向的直線度測量；

整個測量過程分成n個測量點進行，測量點數的計算，見公式1；

式中：L表示導軌有效工作面長度；L_d表示檢測裝置的長度；n—測量點數。

2.根據權利要求1所述的四導軌裝調檢測方法，其特征在于：每個定位裝置(4)均包括手輪(4.1)、壓緊塊(4.2)、弧形托架(4.3)和框架(4.4)，其中，框架(4.4)的底部固定在平臺(5)上，框架(4.4)的中部設置弧形托架(4.3)，框架(4.4)的左右兩側為手輪支架(4.5)，兩個手輪支架(4.5)上均設有螺孔(4.6)，兩個螺孔(4.6)上均螺紋連接有螺桿(4.7)，每個螺桿(4.7)的內端面安裝有壓緊塊(4.2)，每個螺桿(4.7)的外端面安裝有手輪(4.1)，所述弧形托架(4.3)用于拖住筒體(1)的底部外壁，兩個壓緊塊(4.2)用于壓緊筒體(1)的兩側外壁。

3.根據權利要求2所述的四導軌裝調檢測方法，其特征在于：所述壓緊塊(4.2)的壓緊面為與筒體(1)匹配的弧形壓緊面。