[發明專利]基于X熒光快速判斷物料摻假的方法及其系統在審
| 申請號: | 201710543366.7 | 申請日: | 2017-07-05 |
| 公開(公告)號: | CN107290378A | 公開(公告)日: | 2017-10-24 |
| 發明(設計)人: | 劉小東 | 申請(專利權)人: | 深圳市華唯計量技術開發有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/223 | 分類號: | G01N23/223 |
| 代理公司: | 深圳市精英專利事務所44242 | 代理人: | 馮筠 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 熒光 快速 判斷 物料 摻假 方法 及其 系統 | ||
1.基于X熒光快速判斷物料摻假的方法,其特征在于,所述方法包括:
采用X熒光技術對基準物料進行檢測,獲取基準物料的基準譜圖;
定義基準物料的對比信息;
采用X熒光技術對待測物料進行檢測,獲取待測物料的待測譜圖;
對比所述基準譜圖以及所述待測譜圖,判斷待測譜圖中是否有元素在基準譜圖的誤差范圍之外;
若有,則輸出待測物料摻假的通知;
若沒有,則輸出待測物料不摻假的通知。
2.根據權利要求1所述的基于X熒光快速判斷物料摻假的方法,其特征在于,采用X熒光技術對基準物料進行檢測,獲取基準物料的基準譜圖的步驟,包括以下具體步驟:
獲取基準物料的測量點的圖片;
根據基準物料的材質選擇對應的工作曲線,并獲取料號;
根據工作曲線,對所述圖片進行X熒光技術分析,獲取熒光強度圖;
將所述熒光強度圖與所述料號綁定,形成基準譜圖。
3.根據權利要求1所述的基于X熒光快速判斷物料摻假的方法,其特征在于,定義基準物料的對比信息的步驟,包括以下具體步驟:
選擇基準物料的種類;
設定基準物料的監視元素;
設定素所述元素的熒光強度值的上偏差以及下偏差,形成元素對應的熒光強度值變化范圍;
將元素以及所述元素對應的熒光強度值變化范圍進行綁定,形成對比信息。
4.根據權利要求1所述的基于X熒光快速判斷物料摻假的方法,其特征在于,對比所述基準譜圖以及所述待測譜圖,判斷待測譜圖中是否有元素在待測譜圖的誤差范圍之外的步驟,還包括以下具體步驟:
獲取待測譜圖中與監視元素一致的待測元素的熒光強度值;
判斷所述待測元素的熒光強度值是否處于監視元素的熒光強度值變化范圍之內;
若是,則待測譜圖中沒有元素在基準譜圖的誤差范圍之外;
若不是,則待測譜圖中有元素在基準譜圖的誤差范圍之外。
5.基于X熒光快速判斷物料摻假的系統,其特征在于,包括基準譜圖獲取單元、對比信息定義單元、待測譜圖獲取單元以及判斷單元;
所述基準譜圖獲取單元,用于采用X熒光技術對基準物料進行檢測,獲取基準物料的基準譜圖;
所述對比信息定義單元,用于定義基準物料的對比信息;
所述待測譜圖獲取單元,用于采用X熒光技術對待測物料進行檢測,獲取待測物料的待測譜圖;
所述判斷單元,用于對比所述基準譜圖以及所述待測譜圖,判斷待測譜圖中是否有元素在基準譜圖的誤差范圍之外;若有,則輸出待測物料摻假的通知;若沒有,則輸出待測物料不摻假的通知。
6.根據權利要求5所述的基于X熒光快速判斷物料摻假的系統,其特征在于,所述基準譜圖獲取單元包括圖片獲取模塊、選擇模塊、分析模塊以及綁定模塊;
所述圖片獲取模塊,用于獲取基準物料的測量點的圖片;
所述選擇模塊,用于根據基準物料的材質選擇對應的工作曲線,并獲取料號;
所述分析模塊,用于根據工作曲線,對所述圖片進行X熒光技術分析,獲取熒光強度圖;
所述綁定模塊,用于將所述熒光強度圖與所述料號綁定,形成基準譜圖。
7.根據權利要求6所述的基于X熒光快速判斷物料摻假的系統,其特征在于,所述對比信息定義單元包括種類選擇模塊、檢測元素設定模塊、變化范圍設定模塊以及信息形成模塊;
所述種類選擇模塊,用于選擇基準物料的種類;
所述檢測元素設定模塊,用于設定基準物料的監視元素;
所述變化范圍設定模塊,用于設定素所述元素的熒光強度值的上偏差以及下偏差,形成元素對應的熒光強度值變化范圍;
所述信息形成模塊,用于將元素以及所述元素對應的熒光強度值變化范圍進行綁定,形成對比信息。
8.根據權利要求7所述的基于X熒光快速判斷物料摻假的系統,其特征在于,所述判斷單元包括強度值獲取模塊以及強度值判斷模塊;
所述強度值獲取模塊,用于獲取待測譜圖中與監視元素一致的待測元素的熒光強度值;
所述強度值判斷模塊,用于判斷所述待測元素的熒光強度值是否處于監視元素的熒光強度值變化范圍之內;若是,則待測譜圖中沒有元素在基準譜圖的誤差范圍之外;若不是,則待測譜圖中有元素在基準譜圖的誤差范圍之外。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市華唯計量技術開發有限公司,未經深圳市華唯計量技術開發有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710543366.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





