[發明專利]一種檢測裝置在審
| 申請號: | 201710542816.0 | 申請日: | 2017-07-05 |
| 公開(公告)號: | CN107102313A | 公開(公告)日: | 2017-08-29 |
| 發明(設計)人: | 宋佳;盧鎖;疏達;李遠 | 申請(專利權)人: | 北醒(北京)光子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01S7/481 | 分類號: | G01S7/481;G01S7/497;G01S17/08 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100085 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢測 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及雷達檢測領域,具體涉及一種檢測裝置。
背景技術
光學掃描測距裝置是一種使用準直光束,通過飛行時間(Time of Flight,簡稱為TOF)等方法進行非接觸式掃描測距的設備。目前,通常的光學掃描測距裝置包括:光發射模塊、光學鏡頭、接收并處理信號的芯片、電機、軸承及導電滑環。光發射模塊發出光束,光學鏡頭位于光發射模塊的光路上,經過準直的光束發射到被測物體表面,遇到障礙物后光束被反射到接收芯片上,接收芯片通過測量發射到接收之間的時間、相位差、已知光速,即可求出被測物體到裝置的距離。目前廣泛應用于機器人環境掃描、規劃路徑、避障導航、安防檢測等。
目前,市場上針對這類光學雷達進行距離測量和校準的檢測裝置,是由電機、驅動器為控制系統構成的,控制檢測裝置移動來進行針對距離上面的測試。但是市場現有的檢測裝置大多整個系統不夠完整,控制系統不夠智能,結構上多使用金屬件來搭建結構,重量大而且穩定性不高。用戶使用不便并且制造成本過高。
發明內容
為了克服上述現有技術的不足,本發明提供一種檢測裝置及檢測方法,解決了現有的檢測裝置控制系統集成度低并且結構上不穩定的問題。
為了實現上述發明目的,本發明采取如下技術方案:
一種檢測裝置,包括:待測測距裝置、配合待測測距裝置進行測量的測距目標、與待測測距裝置或測距目標相連接的驅動結構、以及分別與所述驅動結構和待測測距裝置相連接的控制系統;
所述待測測距裝置在每一個與測距目標呈設定間距的檢測點位處測出測量距離或測量光強,所述控制系統對每個檢測點位接收到的實際距離與測量距離或實際距離與測量光強進行分析計算以對待測測距裝置進行修正補償。
作為本技術方案的優選方案之一,所述控制系統包括中控電路和與中控電路相連接的上位機,所述中控電路連接驅動結構,所述上位機連接待測測距裝置。
作為本技術方案的優選方案之一,所述中控電路上還連接有實時顯示中控電路的操作故障的顯示屏。
作為本技術方案的優選方案之一,還包括導向結構,所述導向結構為導向軸組件或導軌導向組件;
所述導向結構包括與設定測試路徑平行或重合的導軌和導向件:
所述導向件為與導軌的縱向脊相配合的縱向槽,所述縱向槽設置在與驅動結構相連接的待測測距裝置或測距目標上;
或者,所述導向件為與導軌的縱向槽相配合的縱向脊,所述縱向脊設置在與驅動結構相連接的待測測距裝置或測距目標上;
或者,所述導向件為抵接在導軌外側或導軌內側的導向輪,所述導向輪設置在與驅動結構相連接的待測測距裝置上或測距目標上。
作為本技術方案的優選方案之一,所述導向輪包括與導軌相垂直的固定軸和可轉動的套設在固定軸上的轉動輪,所述轉動輪抵接在導軌外側或內側。
作為本技術方案的優選方案之一,還包括分別與中控電路相連接的前置行程開關和后置行程開關,所述測試路徑的起點設置有與前置行程開關的彈性觸點相匹配的前擋板;所述測試路徑的終點設置有與后置行程開關的彈性觸點相匹配的后擋板。
作為本技術方案的優選方案之一,所述驅動結構包括驅動器和驅動電機,所述中控電路還連接有編碼器,所述編碼器與所述驅動器相連接。
作為本技術方案的優選方案之一,還包括與中控電路相連接的光電門測距結構。
作為本技術方案的優選方案之一,還包括分別與驅動器和中控電路相連接的電源,所述電源通過電壓轉換模塊連接待測測距裝置。
作為本技術方案的優選方案之一,還包括用于安裝待測測試裝置、控制系統和驅動結構的車架結構,所述車架結構包括頂層板、底板和連接并支撐頂層板和底板的框架。
作為本技術方案的優選方案之一,所述車架結構下方還連接有輪軸結構,所述輪軸結構包括轉軸和套裝在轉軸兩端的車輪;所述轉軸上連接有驅動結構。
作為本技術方案的優選方案之一,所述頂層板上還設置有升降測試臺,所述待測測距裝置設置在所述升降測試臺上,且通過升降測試臺升降調整其高度或通過升降測試臺旋轉調整其測試角度。
作為本技術方案的優選方案之一,所述頂層板上還設置有寬度可調的夾具,以放置不同規格的上位機。
作為本技術方案的優選方案之一,所述框架由角鋼焊接而成。
一種檢測方法,包括如下步驟:
步驟一、通過驅動結構驅動待測測距裝置或測距目標沿設定測試路徑經過每一個設定的檢測點位;
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