[發(fā)明專利]實(shí)物表面采樣數(shù)據(jù)的邊界樣點(diǎn)識(shí)別方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710540411.3
• 申請(qǐng)日: 2017-07-05
• 公開（公告）號(hào): CN107452065A
• 公開（公告）日: 2017-12-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫殿柱;尹遜剛;李延瑞;徐昭
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 山東理工大學(xué)
• 主分類號(hào): G06T17/30
• 分類號(hào): G06T17/30
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種實(shí)物表面采樣數(shù)據(jù)的邊界樣點(diǎn)識(shí)別方法，其特征在于：一、設(shè)實(shí)物表面采樣數(shù)據(jù)點(diǎn)集為M并為M構(gòu)造KD樹三維空間索引結(jié)構(gòu)；二、利用索引結(jié)構(gòu)，查詢M中任一樣點(diǎn)x的近鄰點(diǎn)集λ(x)；三、構(gòu)造λ(x)的切平面P并將點(diǎn)x和λ(x)投影到P上，記投影點(diǎn)集為λ'(x)；四、為投影點(diǎn)集λ'(x)構(gòu)造外圍輪廓L(x)；五、判斷x的投影點(diǎn)x’是否位于L(x)上，若x’位于L(x)，則點(diǎn)x即為邊界樣點(diǎn)。

2.如權(quán)利要求1所述的實(shí)物表面采樣數(shù)據(jù)的邊界樣點(diǎn)識(shí)別方法，其特征在于：在步驟四中，構(gòu)造局部投影點(diǎn)集λ'(x)的外圍輪廓，具體為1. 計(jì)算λ'(x)的凸包L_c(x)，將凸包邊作為原始輪廓線；2. 初始化 i←0，L(x)←φ；3.取線段，計(jì)算l_i的中點(diǎn)O，以O(shè)為圓心，以l_i的長(zhǎng)度為直徑作圓，并統(tǒng)計(jì)落在圓內(nèi)的點(diǎn)的個(gè)數(shù)n；4. 若n=0，將l_i存入集合 L(x)，轉(zhuǎn)步驟7；若 n>0，在圓O內(nèi)，查詢距離l_i最近的點(diǎn)a；5. 連接a點(diǎn)和l_i的兩個(gè)端點(diǎn)，構(gòu)造新的輪廓線；6. 對(duì)新構(gòu)造的輪廓線重復(fù)步驟3-5；7. i←i+1；8. 重復(fù)步驟2-7，直至遍歷完L_c(x)；最終L(x)即為λ'(x)外圍輪廓。