[發(fā)明專利]顯示屏閃爍測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710539300.0
• 申請(qǐng)日: 2017-07-04
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107221273B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-08-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 秦瑞琳;郭水波
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華顯光電技術(shù)（惠州）有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G09G3/00
• 分類(lèi)號(hào): G09G3/00
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 鄧云鵬

1.一種顯示屏閃爍測(cè)試方法，其特征在于，包括：

獲取預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組，所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組中包含多個(gè)公共電壓值；

獲取所述公共電壓數(shù)組中采集頻率最高的至少一個(gè)所述公共電壓值作為預(yù)判值；

根據(jù)所述預(yù)判值對(duì)顯示屏進(jìn)行閃爍測(cè)試，獲取所述顯示屏的閃爍值；

將所述閃爍值分別與第一預(yù)設(shè)閾值以及第二預(yù)設(shè)閾值進(jìn)行對(duì)比；

當(dāng)所述閃爍值小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則將所述閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值寫(xiě)入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片上；

當(dāng)所述閃爍值大于所述第一預(yù)設(shè)閾值并小于或等于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)預(yù)設(shè)的閃爍值與公共電壓值的對(duì)應(yīng)關(guān)系，獲取多個(gè)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值的閃爍值對(duì)應(yīng)的公共電壓值，根據(jù)所述公共電壓值對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，獲取最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫(xiě)入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片；

當(dāng)所述閃爍值大于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組內(nèi)的各所述公共電壓值分別對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，獲取最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫(xiě)入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏閃爍測(cè)試方法，其特征在于，所述獲取預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組的步驟包括：

基于若干公共電壓值分別對(duì)顯示屏進(jìn)行屏幕閃爍測(cè)試，獲得多個(gè)閃爍值；

獲取閃爍值小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值兩倍的對(duì)應(yīng)的多個(gè)所述公共電壓值，根據(jù)多個(gè)所述公共電壓值生成所述公共電壓數(shù)組。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏閃爍測(cè)試方法，其特征在于，所述獲取所述公共電壓數(shù)組中產(chǎn)生頻率最高的至少一個(gè)所述公共電壓值作為預(yù)判值的步驟還包括：

當(dāng)頻率最高的所述公共電壓值的數(shù)量為一個(gè)時(shí)，以頻率最高的所述公共電壓值作為所述預(yù)判值。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏閃爍測(cè)試方法，其特征在于，所述獲取所述公共電壓數(shù)組中產(chǎn)生頻率最高的至少一個(gè)所述公共電壓值作為預(yù)判值的步驟還包括：

當(dāng)頻率最高的所述公共電壓值的數(shù)量為多個(gè)時(shí)，以頻率最高的多個(gè)所述公共電壓值的平均值作為所述預(yù)判值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏閃爍測(cè)試方法，其特征在于，所述當(dāng)所述閃爍值小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則將所述閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值寫(xiě)入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片上的步驟之后還包括：

將所述閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值存入所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏閃爍測(cè)試方法，其特征在于，所述將所述公共電壓值寫(xiě)入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片的步驟之后還包括：

將所述公共電壓值存入所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏閃爍測(cè)試方法，其特征在于，還包括：

當(dāng)所述閃爍值大于所述第一預(yù)設(shè)閾值并小于或等于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則從所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組獲取所述公共電壓值的取值范圍，基于所述取值范圍以及預(yù)設(shè)的閃爍值與公共電壓值的對(duì)應(yīng)關(guān)系，獲取多個(gè)小于或等于所述第一預(yù)設(shè)閾值兩倍的閃爍值對(duì)應(yīng)的公共電壓值，根據(jù)所述公共電壓值對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，獲取最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫(xiě)入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏閃爍測(cè)試方法，其特征在于，還包括：

當(dāng)所述閃爍值大于所述第一預(yù)設(shè)閾值并小于或等于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)預(yù)設(shè)的閃爍值與公共電壓值的對(duì)應(yīng)關(guān)系，獲取與所述閃爍值對(duì)應(yīng)的兩個(gè)對(duì)稱的公共電壓值，分別對(duì)所述兩個(gè)對(duì)稱公共電壓值加減電壓值，獲取最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值，并將所述公共電壓值寫(xiě)入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示屏閃爍測(cè)試方法，其特征在于，還包括：當(dāng)所述閃爍值大于所述第二預(yù)設(shè)閾值時(shí)，則根據(jù)存入所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組的順序，依序從所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組獲取所述公共電壓值，逐一根據(jù)所述公共電壓值對(duì)所述顯示屏進(jìn)行所述閃爍測(cè)試，直至獲取最小閃爍值，將所述最小閃爍值對(duì)應(yīng)的所述公共電壓值寫(xiě)入所述顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的顯示屏閃爍測(cè)試方法，其特征在于，還包括：

存入所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組的所述公共電壓值的順序越靠前，則從所述預(yù)設(shè)的公共電壓數(shù)組獲取的所述公共電壓值的順序越靠前。