[發(fā)明專利]一種用于射頻電路匹配調(diào)試的調(diào)試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710535731.X
• 申請日: 2017-07-04
• 公開（公告）號: CN107528563B
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 艾君
• 申請（專利權(quán)）人: 艾君
• 主分類號: H03H7/38
• 分類號: H03H7/38;H04B17/00
• 代理公司: 北京聿宏知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11372
• 代理人: 吳大建;張杰

1.一種用于射頻電路匹配調(diào)試的調(diào)試裝置，包括基底以及調(diào)節(jié)模組；所述調(diào)節(jié)模組與待調(diào)試的射頻電路的傳輸線電性連接；所述調(diào)節(jié)模組包括，

導(dǎo)體帶，設(shè)置于所述基底上，所述導(dǎo)體帶包括中心帶，以及沿所述中心帶兩側(cè)設(shè)置的接地帶；所述中心帶的一端與所述射頻電路的傳輸線電性連接；

滑動接觸部，與所述導(dǎo)體帶電性連接，其被配置為：當(dāng)其沿所述導(dǎo)體帶的長度方向滑動時，將所述導(dǎo)體帶的一部分短路，并將所述導(dǎo)體帶的其余部分接入所述射頻電路。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的調(diào)試裝置，其特征在于，所述滑動接觸部包括由導(dǎo)體制成的接觸桿，所述接觸桿與所述中心帶和所述接地帶分別滑動接觸；

所述接觸桿被配置為：當(dāng)其沿所述中心帶的長度方向滑動時，以所述接觸桿與所述中心帶接觸處為短路界限，將所述中心帶的與所述射頻電路的傳輸線電性連接的一端至所述短路界限之間的部分接入所述射頻電路。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的調(diào)試裝置，其特征在于，所述導(dǎo)體帶為浮置導(dǎo)線，所述浮置導(dǎo)線的一端與所述射頻電路的傳輸線電性連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的調(diào)試裝置，其特征在于，所述滑動接觸部包括屏蔽件和接觸探針；

所述接觸探針的一端與所述浮置導(dǎo)線滑動接觸；所述屏蔽件包括固定端和伸縮端，所述固定端固定連接于所述浮置導(dǎo)線的另一端；所述伸縮端跟隨所述接觸探針滑動；

所述接觸探針被配置為：當(dāng)其沿所述浮置導(dǎo)線的長度方向滑動時，以所述接觸探針與所述浮置導(dǎo)線的接觸處為短路界限，將所述浮置導(dǎo)線的一端至所述短路界限之間的部分接入所述射頻電路。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的調(diào)試裝置，其特征在于，所述屏蔽件的特征阻抗小于所述浮置導(dǎo)線的特征阻抗。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的調(diào)試裝置，其特征在于，所述屏蔽件的特征阻抗Z滿足：

其中，ε代表基底的相對介電常數(shù)，h代表基底的厚度，W代表屏蔽件的寬度，T代表屏蔽件的厚度。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的調(diào)試裝置，其特征在于，所述屏蔽件由金屬制成。