[發(fā)明專利]一種紅外成像儀最小可探測溫差自動測試方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710533918.6 | 申請日: | 2017-07-03 |
| 公開(公告)號: | CN107421717B | 公開(公告)日: | 2020-08-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 汪泉;張軍;王歡;王斯琪;周瑋;盧冰;付濟(jì)良;陳習(xí)文;王旭;郭子娟;齊聰;匡義;朱赤丹;余雪芹;劉方明;王安東;趙富強(qiáng);李軍;王成亮 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電力科學(xué)研究院;國家電網(wǎng)公司;國網(wǎng)山東省電力公司電力科學(xué)研究院;江蘇方天電力技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/00 | 分類號: | G01M11/00;G01J5/52 |
| 代理公司: | 北京工信聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11266 | 代理人: | 郭一斐 |
| 地址: | 100192 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 紅外 成像 小可 探測 溫差 自動 測試 方法 裝置 | ||
1.一種紅外成像儀最小可探測溫差自動測試方法,所述方法包含:
步驟1,選擇空間頻率為f的圓孔靶標(biāo),將紅外成像儀的增益設(shè)置為最大;
步驟2,使用差分黑體源溫度控制器設(shè)置較大的溫差值使圓孔靶標(biāo)清晰成像,所述溫差值為靶標(biāo)背景與黑體源間的溫差值;
步驟3,逐步降低溫差值,采集每次降低后的圖像并計(jì)算圓孔靶標(biāo)成像質(zhì)量,當(dāng)成像質(zhì)量降為清晰成像的M倍時,記錄溫差值為ΔT1,其中0≤M≤1;
步驟4,繼續(xù)降低溫差值,采集每次降低后的圖像并計(jì)算圓孔靶標(biāo)成像質(zhì)量,當(dāng)成像質(zhì)量再次為清晰成像的M倍時,記錄溫差值為ΔT2,其中0≤M≤1;
步驟5,根據(jù)ΔT1和ΔT2計(jì)算最小可探測溫差;
步驟6,更換不同空間頻率的圓孔靶標(biāo),重復(fù)上述步驟1-5測試對應(yīng)不同空間頻率的最小可探測溫差,并繪制被測紅外成像儀的最小可探測溫差曲線;
所述溫差值每降低一次時,采集當(dāng)次紅外圖像數(shù)據(jù)I′,計(jì)算圖像的最大熵閾值并將圖像分割為候選目標(biāo)區(qū)域I′oc和候選背景區(qū)域I′b兩部分,若候選目標(biāo)區(qū)域I′oc包含N且N>0個互不連通區(qū)域,即:I′oc={c′0,...,c′N},則當(dāng)前圓孔靶標(biāo)成像區(qū)域當(dāng)前圓孔靶標(biāo)成像區(qū)域I′o位于清晰成像區(qū)域內(nèi)的部分記為所述I′0位于清晰成像區(qū)域外的部分記為所述則當(dāng)前圓孔靶標(biāo)成像質(zhì)量為QI′計(jì)算如下:
其中,AI為總的成像區(qū)域。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于:采集當(dāng)前紅外圖像數(shù)據(jù)I,計(jì)算圖像的最大熵閾值并將圖像分割為目標(biāo)區(qū)域Io和背景區(qū)域Ib兩部分,提取目標(biāo)區(qū)域Io邊界并記為c,計(jì)算c所圍區(qū)域的的周長和面積并分別記為lengt(c)和Area(c),則成像質(zhì)量QI按下式計(jì)算:
其中,目標(biāo)區(qū)域Io為圓孔靶標(biāo)成像區(qū)域,背景區(qū)域Ib為采集圖像中除去圓孔靶標(biāo)成像區(qū)域以外的區(qū)域。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于:所述圓孔靶標(biāo)成像清晰是指當(dāng)QI>0.8時,判別當(dāng)前紅外圖像數(shù)據(jù)I為圓孔靶標(biāo)的清晰紅外成像,此時的圓孔靶標(biāo)成像區(qū)域記為
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于:所述成像質(zhì)量倍數(shù)M=3/4。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于:所述圓孔靶標(biāo)成像質(zhì)量QI′滿足|QI′-M|<0.01時,則成像質(zhì)量滿足清晰質(zhì)量時的M倍。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于:所述最小可探測溫差的方法為
7.使用如權(quán)利要求1-6所述任意一種方法的紅外成像儀最小可探測溫差自動測試裝置,所述裝置包含:
光學(xué)平臺,所述光學(xué)平臺水平穩(wěn)定無振動,用于承載所有設(shè)備;
溫度控制模塊,所述溫度控制模塊用于控制測試時的環(huán)境溫度;
輻射目標(biāo)模塊,所述輻射目標(biāo)模塊由差分黑體源以及圓孔靶標(biāo)組成,用于產(chǎn)生測試所需的指定形狀的紅外輻射目標(biāo);
差分黑體源溫度控制器,所述差分黑體源溫度控制器用于設(shè)置黑體源溫度從而控制紅外輻射大小;
平行光管,所述平行光管用于將輻射目標(biāo)模塊產(chǎn)生的紅外輻射轉(zhuǎn)變?yōu)槠叫泄馐┘t外成像儀采集;
計(jì)算機(jī),所述計(jì)算機(jī)用于與差分黑體源溫度控制器以及待測紅外成像儀進(jìn)行數(shù)據(jù)通信,進(jìn)而設(shè)置黑體源溫度并采集紅外成像儀圖像數(shù)據(jù);所述計(jì)算機(jī)用于處理紅外成像儀圖像數(shù)據(jù),得到最小可探測溫差測試結(jié)果。
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