[發(fā)明專利]一種電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)及其改善屏蔽效能的測試方法

在審

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• 申請日: 2017-07-03
• 公開（公告）號: CN107462775A
• 公開（公告）日: 2017-12-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 應(yīng)小俊;石國昌;許勇剛;廖意;張元;宋誠
• 申請（專利權(quán)）人: 上海無線電設(shè)備研究所
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 上海信好專利代理事務(wù)所(普通合伙)31249
• 代理人: 朱成之

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及無線通信中的電磁兼容設(shè)計領(lǐng)域，尤其涉及一種電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)及其改善屏蔽效能的測試方法。

背景技術(shù)

電磁屏蔽效能是設(shè)備系統(tǒng)的重要性能之一，特別是在復(fù)雜的電磁環(huán)境下，良好的屏蔽效果可以抑制強(qiáng)電磁干擾對設(shè)備系統(tǒng)的不利影響。根據(jù)電磁屏蔽效能的基本定義，通過比較有無電磁屏蔽體的場強(qiáng)來確定屏蔽效能。

電磁屏蔽效能測試通常會選擇在較為干凈電磁環(huán)境下進(jìn)行，以減少外界環(huán)境對測試的影響。常見的電磁屏蔽效能測試環(huán)境包括屏蔽室、屏蔽半暗室、屏蔽全暗室等。如圖1所示，設(shè)置在屏蔽室內(nèi)的測試設(shè)備通常包含：發(fā)射設(shè)備、發(fā)射天線、以及設(shè)置在小型屏蔽室內(nèi)的接收天線和接收設(shè)備。由于在屏蔽暗室內(nèi)通常會有電磁波的發(fā)射，導(dǎo)致在接收天線處測得的電磁場是各種反射波的疊加，與電磁屏蔽效能基本定義要求的環(huán)境有偏差，導(dǎo)致測試結(jié)果無法滿足要求。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)及其改善屏蔽效能的測試方法，采用金屬平板代替小型屏蔽室，配置更簡單，操作更便捷，通過調(diào)整屏蔽體相對屏蔽暗室的位置，克服了屏蔽暗室中電磁波反射疊加的缺陷，有效提高了測試精度。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一種電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)，包含：

屏蔽暗室；

金屬平板，其設(shè)置在屏蔽暗室中，該金屬平板接觸且垂直于屏蔽暗室的底面，該金屬平板在屏蔽暗室底面上的投影與屏蔽暗室的底面長邊之間具有角度θ，該金屬平板上具有測試窗，測試窗上設(shè)置有電磁材料網(wǎng)；

信號源，其設(shè)置在屏蔽暗室中；

發(fā)射天線，其設(shè)置在屏蔽暗室中，通過線纜連接信號源，該發(fā)射天線垂直于金屬平板；

接收天線，其設(shè)置在屏蔽暗室中，該接收天線垂直于金屬平板；

接收機(jī)，其設(shè)置在屏蔽暗室中，通過線纜連接接收天線。

發(fā)射天線、接收天線與測試窗的中心點位于同一高度，且發(fā)射天線、接收天線與測試窗的中心點處于同一直線上。

所述的發(fā)射天線與金屬平板的距離大于0.8m，接收天線與金屬平板的距離大于0.5m。

本發(fā)明還提供一種利用所述的電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)來進(jìn)行改善屏蔽效能的測試方法，包含以下步驟：

步驟S1、搭建電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)，使金屬平板在屏蔽暗室底面上的投影垂直于屏蔽暗室的底邊，測量此時電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)的電磁屏蔽效能；

步驟S2、根據(jù)電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)中金屬平板上的電磁材料網(wǎng)的尺寸，在三維仿真軟件中建立仿真模型，獲得電磁屏蔽效能的仿真結(jié)果；

步驟S3、調(diào)節(jié)金屬平板的位置，使金屬平板在屏蔽暗室底面上的投影與屏蔽暗室的底面長邊之間產(chǎn)生角度θ，測量不同角度θ對應(yīng)的電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)的電磁屏蔽效能，并與電磁屏蔽效能的仿真結(jié)果進(jìn)行比較，確定電磁屏蔽效能與仿真結(jié)果吻合度最高的角度θ。

所述的測量電磁屏蔽效能的方法具體包含：

步驟1、設(shè)置信號源、接收機(jī)、發(fā)射天線與接收天線的參數(shù)，并調(diào)節(jié)好金屬平板的位置；

步驟2、保持信號源的輸出功率一致，分別測量未安裝電磁材料網(wǎng)和安裝電磁材料網(wǎng)的情況下接收天線的接收信號，獲得接收場強(qiáng)值；

步驟3、計算電磁材料網(wǎng)的電磁屏蔽效能：

其中，SE_E表示電磁屏蔽效能，E₀表示未安裝電磁材料網(wǎng)時的接收場強(qiáng)值，E_S表示安裝電磁材料網(wǎng)時的接收場強(qiáng)值。

本發(fā)明采用金屬平板代替小型屏蔽室，配置更簡單，操作更便捷，通過調(diào)整屏蔽體相對屏蔽暗室的位置，克服了屏蔽暗室中電磁波反射疊加的缺陷，有效提高了測試精度。

附圖說明

圖1是背景技術(shù)中電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是本發(fā)明提供的電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3是金屬平板的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4是電磁材料網(wǎng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖5是電磁波反射示意圖。

圖6是本發(fā)明提供的改進(jìn)的電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖7是電磁屏蔽效能測試結(jié)果與仿真結(jié)果的對比圖。

具體實施方式

以下根據(jù)圖2～圖7，具體說明本發(fā)明的較佳實施例。

如圖2所示，本發(fā)明提供一種電磁屏蔽效能測試系統(tǒng)，包含：

屏蔽暗室1；

金屬平板4，其設(shè)置在屏蔽暗室1中，該金屬平板4接觸且垂直于屏蔽暗室1的底面，如圖3所示，該金屬平板4上具有測試窗401，測試窗401上設(shè)置有電磁材料網(wǎng)7(如圖4所示)；