[發(fā)明專利]管式PERC太陽能電池的修復(fù)工藝及制備工藝有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710532627.5 | 申請日: | 2017-07-03 |
| 公開(公告)號: | CN107331730B | 公開(公告)日: | 2019-04-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 方結(jié)彬;夏利鵬;林綱正;賴俊文;何達(dá)能;陳剛 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江愛旭太陽能科技有限公司;廣東愛旭科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L21/02;H01L21/268;H01L21/673;H01L21/677;H01L31/0216 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 胡楓 |
| 地址: | 322009 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | perc 太陽能電池 修復(fù) 工藝 制備 | ||
1.一種管式PERC太陽能電池的修復(fù)工藝,其特征在于,所述修復(fù)工藝設(shè)置在硅片退火之后,硅片背面鍍膜之前,所述修復(fù)工藝包括:
(1)將擴(kuò)散、刻蝕、退火后,鍍膜前停留時間超過4小時的半成品硅片置入修復(fù)爐,所述修復(fù)爐包括爐外腔,旋轉(zhuǎn)內(nèi)腔和中心固定機(jī)構(gòu),中心固定機(jī)構(gòu)上設(shè)置有紅外燈和噴氣管,旋轉(zhuǎn)內(nèi)腔上設(shè)置有放置硅片的卡槽和連通爐外腔的通孔,所述噴氣管通入流量為5-10slm的氮?dú)鈱崿F(xiàn)自潔,所述氮?dú)獾耐ㄈ霑r間為1-5min;
(2)通入流量為5-20slm的氮?dú)猓糜诖祾吖杵系幕覊m;
(3)將修復(fù)爐從室溫升溫到500-650℃,升溫時間為5-20min,同時通入流量為1-5slm的氮?dú)猓?/p>
(4)將修復(fù)爐在500-650℃恒溫5-30min,同時通入流量為5-20slm的氮?dú)狻?/p>
2.如權(quán)利要求1所述管式PERC太陽能電池的修復(fù)工藝,其特征在于,所述修復(fù)工藝包括:
(1)將退火后鍍膜前停留時間超過4小時的半成品硅片置入修復(fù)爐,所述修復(fù)爐包括爐外腔,旋轉(zhuǎn)內(nèi)腔和中心固定機(jī)構(gòu),中心固定機(jī)構(gòu)上設(shè)置有紅外燈和噴氣管,旋轉(zhuǎn)內(nèi)腔上設(shè)置有放置硅片的卡槽和連通爐外腔的通孔,所述噴氣管通入流量為6-8slm的氮?dú)鈱崿F(xiàn)自潔,所述氮?dú)獾耐ㄈ霑r間為2-4min;
(2)通入流量為5-20slm的氮?dú)猓糜诖祾吖杵系幕覊m;
(3)將修復(fù)爐從室溫升溫到550-650℃,升溫時間為5-20min,同時通入流量為2-4slm的氮?dú)猓?/p>
(4)將修復(fù)爐在550-650℃恒溫10-20min,同時通入流量為8-15slm的氮?dú)狻?/p>
3.如權(quán)利要求1-2任一項所述管式PERC太陽能電池的修復(fù)工藝,其特征在于,所述硅片退火包括以下步驟:
對硅片進(jìn)行退火,退火溫度為700-820℃,氮?dú)饬髁繛?-15L/min,氧氣流量為0.1-6L/min。
4.如權(quán)利要求1-2任一項所述管式PERC太陽能電池的修復(fù)工藝,其特征在于,所述硅片背面鍍膜采用管式PECVD設(shè)備進(jìn)行,包括以下步驟:
采用TMA與N2O沉積三氧化二鋁膜,TMA的氣體流量為250-500sccm,TMA與N2O的比例為1/15-25,等離子功率為2000-5000w;
采用硅烷、氨氣和笑氣沉積氮氧化硅膜,硅烷的氣體流量為50-200sccm,硅烷與笑氣的比例為1/10-80,氨氣的流量為0.1-5slm,等離子功率為4000-6000w;
采用硅烷和氨氣沉積氮化硅膜,硅烷的氣體流量為500-1000sccm,硅烷與氨氣的比例為1/6-15,氮化硅的沉積溫度為390-410℃,時間為100-500s,等離子功率為10000-13000w;
采用笑氣沉積二氧化硅膜,笑氣的流量為0.1-5slm,等離子功率為2000-5000w。
5.如權(quán)利要求4所述管式PERC太陽能電池的修復(fù)工藝,其特征在于,所述硅片背面鍍膜采用管式PECVD設(shè)備進(jìn)行,包括以下步驟:
采用TMA與N2O沉積三氧化二鋁膜,TMA的氣體流量為250-500sccm,TMA與N2O的比例為1/15-25,三氧化二鋁膜的沉積溫度為250-300℃,時間為50-300s,等離子功率為2000-5000w;
采用硅烷、氨氣和笑氣沉積氮氧化硅膜,硅烷的氣體流量為50-200sccm,硅烷與笑氣的比例為1/10-80,氨氣的流量為0.1-5slm,氮氧化硅膜的沉積溫度為350-410℃,時間為50-200s,等離子功率為4000-6000w;
采用硅烷和氨氣沉積氮化硅膜,硅烷的氣體流量為500-1000sccm,硅烷與氨氣的比例為1/6-15,氮化硅膜的沉積溫度為390-410℃,時間為100-400s,等離子功率為10000-13000w;
采用笑氣沉積二氧化硅膜,笑氣的流量為0.1-5slm,等離子功率為2000-5000w。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





