[發明專利]一種數據檢測方法及數據檢測裝置

有效

• 申請號: 201710527455.2
• 申請日: 2017-06-30
• 公開（公告）號: CN109213703B
• 公開（公告）日: 2021-12-14
• 發明（設計）人: 張秀宇
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F13/16
• 分類號: G06F13/16
• 代理公司: 深圳市深佳知識產權代理事務所(普通合伙) 44285
• 代理人: 王仲凱

本申請提供了一種數據檢測方法及數據檢測裝置，使用至少兩組具有相位差的采樣時鐘對輸入數據進行采樣，確保一定能檢測到輸入數據的數據邊沿，從而確定最佳的采樣相位窗口。本申請實施例方法包括：當芯片讀取外部設備的數據時，使用至少兩組采樣時鐘對接口控制器的輸入數據進行采樣，得到采樣數據集，至少兩組采樣時鐘中任意兩組采樣時鐘之間具有相位差；根據采樣數據集確定輸入數據的數據邊沿；根據數據邊沿確定目標采樣相位窗口。

技術領域

本申請涉及計算機領域，尤其涉及一種數據檢測方法及數據檢測裝置。

背景技術

在現有的芯片架構中，具有安全數字(Security Digtal，SD)卡和內置存儲卡(Embedded Multi Media Card，eMMC)等，SD卡和eMMC是屬于芯片的外部設備和存儲接口，可用做于芯片系統的啟動和存儲。

在芯片讀取SD卡或者eMMC等外部設備的數據時，為了保證讀取的數據的正確性，在讀數據方向需要做讀數據的調整。因此，在芯片每次的讀數據過程中都需要進行數據檢測，一種數據檢測方法為：芯片讀取外部設備的數據時，通過采用多個不同相位的時鐘采樣芯片外設接口的數據，得到多個采樣數據，將多個采樣數據與芯片得到的讀取數據進行對比，判斷哪些采樣數據是錯誤的，從而確定最佳的采樣相位窗口。

以上現有的數據檢測方法中，最佳的采樣相位窗口的確定依賴于采樣時鐘相位的精度，在數據窗口很大的時候，即使無限去增加采樣時鐘相位的精度，也存在無法找到正確和錯誤的交界的數據位置的情況，導致存在無法檢測到讀取數據錯誤的情況。

發明內容

本申請提供了一種數據檢測方法及數據檢測裝置，使用至少兩組具有相位差的采樣時鐘對輸入數據進行采樣，確保一定能檢測到輸入數據的數據邊沿，從而確定最佳的采樣相位窗口。

本申請的第一方面提供一種數據檢測方法，應用于芯片的外圍接口系統，所述芯片的外圍接口系統包括接口控制器及外部設備，所述數據檢測方法包括：

當所述芯片讀取所述外部設備的數據時，使用至少兩組采樣時鐘對所述接口控制器的輸入數據進行采樣，得到采樣數據集，所述至少兩組采樣時鐘中任意兩組采樣時鐘之間具有相位差；

根據所述采樣數據集確定所述輸入數據的數據邊沿；

根據所述數據邊沿確定目標采樣相位窗口。

芯片的外圍接口系統中包括接口控制器及外部設備，外部設備包括SD卡、eMMC及SDIO卡等等，接口控制器用于控制芯片結構中的多個外設接口，外設接口包括SDIO接口和eMMC接口等，芯片與外部設備之間的數據和指令交互都需要通過接口控制器來實現，在芯片讀取外部設備的數據時，為了保證讀取的數據的正確性，需要在接口控制器的輸入端的數據進行采樣判斷，而最佳的采樣相位窗口的確定就需要通過數據檢測裝置來實現，數據檢測裝置使用至少兩組采樣時鐘對接口控制器的輸入數據進行采樣，得到采樣數據集，由于至少兩組采樣時鐘中任意兩組采樣時鐘之間是具有相位差的，那么必然能夠采樣到輸入數據的數據跳變點，對采樣數據集進行數據分析后，就能確定輸入數據的數據邊沿，在已知數據邊沿的情況下，根據數據邊沿就能確定目標采樣相位窗口，目標采樣相位窗口就是最佳的采樣相位窗口。與現有的數據檢測方法相比，使用至少兩組具有相位差的采樣時鐘對輸入數據進行采樣，確保一定能檢測到輸入數據的數據邊沿，從而可以確定最佳的采樣相位窗口。

結合本申請第一方面，本申請第一方面第一實施方式中，采樣時鐘為N組，N為大于1的整數，每一組采樣時鐘的采樣點數量為M個，M為大于0的整數，

所述使用至少兩組采樣時鐘對所述接口控制器的輸入數據進行采樣，得到采樣數據集，包括：

使用N組采樣時鐘的每一組采樣時鐘分別對所述接口控制器的輸入數據進行采樣，得到N組采樣數據，每一組采樣數據具有M個采樣值；