[發明專利]基于可動柵極式場效應晶體管的微力傳感器及其制備方法有效
| 申請號: | 201710527246.8 | 申請日: | 2017-06-30 |
| 公開(公告)號: | CN107381497B | 公開(公告)日: | 2019-05-21 |
| 發明(設計)人: | 趙立波;高文迪;蔣莊德;李支康;趙玉龍;孫東 | 申請(專利權)人: | 西安交通大學 |
| 主分類號: | B81B7/02 | 分類號: | B81B7/02;B81C1/00 |
| 代理公司: | 西安智大知識產權代理事務所 61215 | 代理人: | 賀建斌 |
| 地址: | 710049 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 柵極 場效應 晶體管 傳感器 及其 制備 方法 | ||
1.一種基于可動柵極式場效應晶體管的微力傳感器的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
A)取(100)晶面單晶硅作為P型Si基底(13),(011)晶向作為導電溝道(11)電流方向;在P型Si基底(13)上部分區域注入磷離子,形成源極(9)、漏極(10)的陣列,在源極(9)、漏極(10)的陣列中間區域注入磷離子,形成預先導通的導電溝道(11),P型Si基底(13)部分區域采用局部硼離子注入,形成P+電極(3);
B)將需要制備的探針(2)下方的P型Si基底(13)區域刻蝕透;
C)在P型Si基底(13)上熱氧生成 SiO2 絕緣層(12),然后光刻SiO2絕緣層(12),形成源極(9)、漏極(10)引線的圖形窗口,然后進行金屬引線的沉積,完成源極(9)、漏極(10)和P+電極(3)的金屬引線(14);同時對P型Si基底(13)的下表面也進行金屬濺射,形成基底電極(15);
D)在SiO2絕緣層(12)和金屬引線(14)上再沉積一層SiO2;
E)對SiO2絕緣層(12)表面進行化學機械拋光,對SiO2絕緣層(12)下方源極(9)、漏極(10)及P+電極(3)的金屬引線(14)的焊盤區域進行刻蝕開窗口,最后對位于可動柵極結構下方的SiO2絕緣層(12)進行刻蝕,使得SiO2絕緣層(12)生成一個臺階,利用這個臺階的高度來控制所需的空氣間隙厚度大小Zgap;
F)取另一塊多晶硅(16),將步驟E)獲得的SiO2絕緣層(12)上表面與多晶硅下表面進行鍵合;
G)對多晶硅(16)部分區域進行硼離子重摻雜形成工作柵極陣列(5),之后進行工作柵極陣列(5)的金屬層(17)的沉積和圖形化;
H)進行多晶硅(16)的刻蝕,在前部刻蝕出探針(2)的圖形;
I)再對工作柵極陣列(5)、平衡柵極陣列(4)、陣列通孔(8)和四個直梁(6)的圖形進行刻蝕,完成可動結構的全部圖形化,
所述的一種基于可動柵極式場效應晶體管的微力傳感器,包括四根直梁(6),直梁(6)一端支撐中間質量塊(1),直梁(6)另一端固定在邊框(7)上,邊框(7)下方與p型Si基底(13)上方的SiO2絕緣層(12)接觸;中間質量塊(1)前端設置有一個凸起的探針(2),中間質量塊(1)前后布置有平衡柵極陣列(4)和工作柵極陣列(5),平衡柵極陣列(4)和工作柵極陣列(5)相對中間質量塊(1)的中心偏移Doff的距離,平衡柵極陣列(4)和工作柵極陣列(5)形成可動柵極結構,中間質量塊(1)、直梁(6)、探針(2)與SiO2絕緣層(12)不接觸,它們之間存在一個空氣間隙,厚度為Zgap;p型Si基底(13)中部分區域經磷離子重摻雜形成N+型的源極(9)與漏極(10),源極(9)與漏極(10)之間的區域經磷離子摻雜形成N型的導電溝道(11),部分區域經硼離子重摻形成P+電極(3)。
2.根據權利要求1所述的一種基于可動柵極式場效應晶體管的微力傳感器的制備方法,其特征在于:所述的中間質量塊(1)長1000μm-2000μm,寬500μm-2000μm,厚度尺寸與直梁(6)厚度一致,為5μm-20μm。
3.根據權利要求1所述的一種基于可動柵極式場效應晶體管的微力傳感器的制備方法,其特征在于:所述的平衡柵極陣列(4)和工作柵極陣列(5)相對中間質量塊(1)中心對稱布置;平衡柵極陣列(4)、工作柵極陣列(5)中單個柵極的長度為2μm-5μm、寬度為10μm-30μm,兩個柵極之間間隔為2μm-5μm,厚度與中間質量塊(1)厚度一致。
4.根據權利要求1所述的一種基于可動柵極式場效應晶體管的微力傳感器的制備方法,其特征在于:所述的探針(2)與中間質量塊(1)下表面共面,厚度小于或等于中間質量塊(1)的厚度,沿長度方向采用階梯狀結構或者使用通直結構,長度為50μm-200μm,尖端處寬度為1μm-5μm,厚度為1μm-20μm。
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