[發明專利]一種盤式測量平面度數的裝置及其方法

在審

• 申請號: 201710526913.0
• 申請日: 2017-06-30
• 公開（公告）號: CN107339976A
• 公開（公告）日: 2017-11-10
• 發明（設計）人: 杜文達
• 申請（專利權）人: 上海地霸電子科技有限公司
• 主分類號: G01C9/36
• 分類號: G01C9/36;G01C15/12
• 代理公司: 合肥順超知識產權代理事務所(特殊普通合伙)34120
• 代理人: 趙宗海

1.一種盤式測量平面度數的裝置，包括尺體，其特征在于：所述尺體上開有凹孔，在凹孔內設有充有液體的透明刻度盤，在刻度盤上的前側勻分刻有360度刻度線；所述刻度線的標注從0至90度分為4組，兩組0度線為水平方向共用刻度線，另兩組90度線為垂直方向共用刻度線；所述的刻度盤上水平方向0度共用刻度線和尺體底邊平行，垂直方向90度共用刻度線和尺體側邊平行；所述刻度盤的后側中心開有中心孔，中心孔設置有孔塞；所述孔塞內設有盲孔，盲孔和中心孔同向；所述盲孔設有內螺紋，尺體相對盲孔設有內凹滑孔，內凹滑孔和盲孔還螺紋連接有矯正螺絲。

2.根據權利要求1所述的一種盤式測量平面度數的裝置，其特征在于：所述液體的液面和刻度盤上水平方向0度共用刻度線重合。

3.根據權利要求1所述的一種盤式測量平面度數的裝置，其特征在于：所述矯正螺絲位于內凹滑孔和盲孔之間段還設置有卡槽，卡槽內設置有卡簧。

4.根據權利要求1所述的一種盤式測量平面度數的裝置，其特征在于：所述尺體內頂面和底面分別設置有固定支架，刻度盤上下端分別通過固定螺絲固接固定支架。

5.一種盤式測量平面度數的方法，其特征在于：采用權利要求1至4任一所述的盤式測量水平面度數的裝置，在測水平面時，把尺體底面貼在被測面上，刻度盤內液體受地球引力液面會維持水平；左、右兩端的液面在刻度盤上所指的度數，即為被測面的度數；左邊液面所指度數和右邊液面所指度數是相等的；兩個液面所顯示的角度分為三種方式：一端的度數代表所測平面要加的角度，另一端的度數代表所測平面要減的角度；反之，一端的度數代表所測平面要減的角度，另一端的度數代表所測平面要加的角度；一端是0度讀數、另一端也必是0度讀數，此時的被測面是水平的。

6.一種盤式測量平面度數的方法，其特征在于：采用權利要求1至4任一所述的盤式測量水平面度數的裝置，在測垂直面時，用尺體的底邊貼在被測面上，看刻度盤液面所對應的刻度盤度數，即為被測面的度數；所顯示的角度分為三種方式：一端的度數代表所測垂面要加的角度，另一端的度數代表所測垂面要減的角度；反之，一端的度數代表所測垂面要減的角度，另一端的度數代表所測垂面要加的角度；一端是90度讀數、另一端也必是90度讀數，此時的被測面是垂直的。