[發明專利]電子計算機斷層掃描圖像數據處理方法

有效

• 申請號: 201710526857.0
• 申請日: 2017-06-30
• 公開（公告）號: CN107346555B
• 公開（公告）日: 2021-01-15
• 發明（設計）人: 楊耀
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技股份有限公司
• 主分類號: G06T11/00
• 分類號: G06T11/00
• 代理公司: 成都七星天知識產權代理有限公司 51253
• 代理人: 楊永梅

1.一種計算機執行圖像數據處理方法，所述方法由至少一個處理器執行，包括：

通過所述至少一個處理器，獲取校正系數與準直寬度之間的關系；

通過所述至少一個處理器，獲取掃描儀的準直器的目標準直寬度；以及

基于所述目標準直寬度和所述校正系數與準直寬度之間的關系，通過所述至少一個處理器，確定目標校正系數；

其中，獲得校正系數與準直寬度之間的關系進一步包括：

獲取第一校正系數，所述第一校正系數對應于所述準直器的第一準直寬度；

獲取散射輻射強度與準直寬度之間的關系；以及

基于所述第一校正系數、第一準直寬度和散射輻射強度與準直寬度之間的關系，確定校正系數與準直寬度之間的關系。

2.根據權利要求1所述的方法，進一步包括：

獲取與在目標準直寬度下進行的掃描有關的圖像數據；以及

基于所述目標校正系數，修改所述圖像數據。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，獲取對應于所述第一準直寬度的所述第一校正系數進一步包括：

通過所述掃描儀，掃描具有所述第一準直寬度的第一目標物體；

基于對所述第一目標物體的掃描，通過所述至少一個處理器，獲取與所述第一目標物體相關的圖像數據；

通過所述至少一個處理器，處理所述與所述第一目標物體相關的圖像數據；

基于所述處理后的與所述第一目標物體相關的圖像數據，通過所述至少一個處理器，重建所述第一目標物體的圖像；以及

基于所述第一目標物體的重建圖像，通過所述至少一個處理器，確定與所述第一準直寬度對應的所述第一校正系數。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，掃描所述第一目標物體進一步包括：

通過所述掃描儀，掃描具有所述第一準直寬度的空氣。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，獲取所述散射輻射強度與準直寬度之間的關系進一步包括：

通過所述掃描儀，在第二準直寬度下進行對第二目標物體的第一次掃描；

基于對所述第二目標物體的所述第一次掃描，通過所述至少一個處理器，獲取第一輻射強度；

通過所述掃描儀，將所述第二準直寬度改為第三準直寬度；

通過所述掃描儀，在所述第三準直寬度下進行對所述第二目標物體的第二次掃描；

基于對所述第二目標物體進行的所述第二次掃描，通過所述至少一個處理器，獲取第二輻射強度；

基于所述第二準直寬度、所述第一輻射強度、所述第三準直寬度和所述第二輻射強度，通過所述至少一個處理器，確定所述輻射強度與準直寬度之間的關系；以及

基于所述已確定的輻射強度與準直寬度之間的關系，通過所述至少一個處理器，確定所述散射輻射強度與準直寬度之間的關系。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，根據曲線擬合技術，基于所述第二準直寬度、所述第一輻射強度、所述第三準直寬度和所述第二輻射強度，獲取所述輻射強度與準直寬度之間的關系。

7.根據權利要求5所述的方法，其中，基于所述輻射強度與準直寬度之間的關系，確定所述散射輻射強度與準直寬度之間的關系進一步包括：

基于所述輻射強度與準直寬度之間的關系，通過至少一個處理器，確定所述第二目標物體的第一輻射強度。

8.根據權利要求6所述的方法，其中，獲取所述散射輻射強度與準直寬度之間的關系進一步包括：

通過所述至少一個處理器，獲取準直寬度與第二物體的散射輻射強度和所述第一輻射強度之比之間的關系。

9.一種計算機可讀的非臨時存儲介質，所述可讀存儲介質包括一系列指令，當掃描儀的至少一個處理器訪問所述指令時，可以使所述掃描儀：

獲取校正系數與準直寬度之間的關系；

獲取所述掃描儀的準直器的目標準直寬度；以及

基于所述目標準直寬度和所述校正系數與準直寬度之間的關系，確定目標校正參數；

其中，獲得校正系數與準直寬度之間的關系進一步包括：

獲取第一校正系數，所述第一校正系數對應于所述準直器的第一準直寬度；

獲取散射輻射強度與準直寬度之間的關系；以及

基于所述第一校正系數、第一準直寬度和散射輻射強度與準直寬度之間的關系，確定校正系數與準直寬度之間的關系。