[發明專利]基于原位光譜-電化學分析技術的膜污染監測裝置及方法

有效

• 申請號: 201710526047.5
• 申請日: 2017-06-30
• 公開（公告）號: CN107328699B
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發明（設計）人: 王捷;高菲;趙慧
• 申請（專利權）人: 天津工業大學
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201
• 代理人: 陸藝

1.一種基于原位光譜-電化學分析技術的膜污染監測裝置，包括帶有頂壁的過濾池(1)，在過濾池的中部設置有分離膜片(3)，將過濾池分隔為左池和右池，在左池的前壁中下位置，設置有進水口(4)，在右池的前壁中下位置，設置有出水口(5)，其特征是，一端帶有環狀結構的工作電極(7)的上端貫穿設置在左池中間的頂壁上，并使環狀結構位于左池的中間，光纖探頭(8)貫穿左池的左壁、穿過工作電極的環并使右端設置在近分離膜片(3)處，片狀對電極(9)的上端貫穿設置在右池中間的頂壁上，并使片狀結構位于右池的中部，一端帶有環狀結構的工作電極和片狀對電極以分離膜片為中心對稱設置，在左池的后壁的右下位置，貫穿設置有第一Ag/AgCl參比電極(10)，在右池的后壁的左下位置，貫穿設置有第二Ag/AgCl參比電極(11)，第一Ag/AgCl參比電極(10)和第二Ag/AgCl參比電極(11)以分離膜片為中心對稱設置；將進水口通過連接有泵(12)的管道(17)與儲水罐(2)連接，一端帶有環狀結構的工作電極(7)、片狀對電極(9)、第一Ag/AgCl參比電極(10)和第二Ag/AgCl參比電極(11)分別通過導線與電化學工作站(14)連接，光纖探頭(8)通過導線分別與光源(13)和光譜儀(15)連接，光譜儀(15)通過導線與計算機(16)連接；電化學工作站(14)通過導線與計算機(16)連接。

2.一種基于原位光譜-電化學分析技術的膜污染監測方法，其特征是包括如下步驟：

1)使用權利要求1的一種基于原位光譜-電化學分析技術的膜污染監測裝置(6)；

2)啟動泵，使儲水罐中的待過濾水通入過濾池的左池中，打開光源、光譜儀、計算機和電化學工作站，通過計算機監測分離膜片表面污染物質吸附沉降情況；通過計算機監測過濾系統的阻抗變化。