[發(fā)明專利]一種內(nèi)存的測試方法、控制終端、服務器及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710524438.3
• 申請日: 2017-06-30
• 公開（公告）號: CN107423176B
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發(fā)明（設計）人: 姜慶臣
• 申請（專利權(quán)）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/273
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明實施例提供一種內(nèi)存的測試方法、控制終端、服務器及系統(tǒng)，該方法通過獲取服務器網(wǎng)絡中各臺服務器的網(wǎng)絡標識；根據(jù)網(wǎng)絡標識，向目標服務器發(fā)送內(nèi)存請求，用于指示目標服務器向控制終端返回內(nèi)存的第一硬件信息；根據(jù)第一硬件信息，計算獲得目標服務器的內(nèi)存性能參考值；向目標服務器發(fā)送測試命令，所述測試命令中至少攜帶內(nèi)存性能參考值，用于指示目標服務器進行內(nèi)存測試，并根據(jù)內(nèi)存性能參考值，向控制終端返回測試結(jié)果?？刂平K端與多臺服務器互聯(lián)從而實現(xiàn)大量內(nèi)存、不同型號內(nèi)存組合測試的同時進行，有效提高內(nèi)存的測試效率；而且，通過內(nèi)存性能參考值和內(nèi)存性能測試值的比對計算，定量地對內(nèi)存性能進行評估，有效提高內(nèi)存測試精度。

技術領域

本發(fā)明涉及計算機設備測試技術領域，特別是涉及一種內(nèi)存的測試方法、控制終端、服務器及系統(tǒng)。

背景技術

隨著IT領域技術的不斷發(fā)展，傳統(tǒng)信息化服務以及日趨強大的云計算服務對服務器的性能要求越來越高。服務器中的內(nèi)存是進行數(shù)據(jù)處理的重要部件，因此，內(nèi)存的性能是決定服務器運算處理能力的關鍵因素之一。

在服務器的研發(fā)測試過程中，通常需要對不同型號的內(nèi)存性能進行測試，從而為服務器的內(nèi)存選擇提供參考依據(jù)。目前，對內(nèi)存性能進行測試的過程通常是，將內(nèi)存配置在一臺服務器中，搭建好測試環(huán)境后，在這臺服務器上對內(nèi)存進行數(shù)據(jù)讀寫測試，計算衡量內(nèi)存性能。

然而，發(fā)明人通過研究發(fā)現(xiàn)，在內(nèi)存選型過程中，可能需要對很大數(shù)量的內(nèi)存，以及大量內(nèi)存的搭配組合進行測試，這樣導致整個內(nèi)存測試周期很長，測試效率低。

因此，如何能夠提高內(nèi)存測試效率是本領域技術人員亟需解決的技術問題。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上所述現(xiàn)有技術的缺點，本發(fā)明的目的在于提供一種內(nèi)存的測試方法、控制終端、服務器及系統(tǒng)，用于解決現(xiàn)有技術中內(nèi)存測試效率低的問題。

為實現(xiàn)上述目的及其他相關目的，根據(jù)本發(fā)明的第一方面，本發(fā)明實施例提供一種內(nèi)存的測試方法，應用于控制終端，該方法包括以下步驟：

獲取服務器網(wǎng)絡中各臺服務器的網(wǎng)絡標識；

根據(jù)所述網(wǎng)絡標識，向目標服務器發(fā)送內(nèi)存請求，所述內(nèi)存請求用于指示目標服務器向控制終端返回內(nèi)存的第一硬件信息；

根據(jù)所述第一硬件信息，計算獲得目標服務器的內(nèi)存性能參考值；

向所述目標服務器發(fā)送測試命令，所述測試命令中至少攜帶有所述內(nèi)存性能參考值，用于指示目標服務器進行內(nèi)存測試，并根據(jù)所述內(nèi)存性能參考值，向控制終端返回測試結(jié)果。

可選地，根據(jù)所述硬件信息，計算獲得目標服務器的內(nèi)存性能參考值之前，還包括：

獲取第二硬件信息，所述第二硬件信息用于描述待測內(nèi)存的硬件信息；

根據(jù)所述第二硬件信息，對目標服務器中配置的內(nèi)存進行校驗；

所述根據(jù)所述第一硬件信息，計算獲得目標服務器的內(nèi)存性能參考值，包括，根據(jù)校驗成功的所述第一硬件信息，計算獲得目標服務器的內(nèi)存性能參考值；

所述向所述目標服務器發(fā)送測試命令包括，向校驗成功的第一硬件信息所對應的目標服務器發(fā)送測試命令。

可選地，所述根據(jù)所述第一硬件信息，計算獲得目標服務器的內(nèi)存性能參考值，包括：

當所述第一硬件信息包括內(nèi)存頻率、位寬以及倍增系數(shù)時，計算所述內(nèi)存頻率、位寬以及倍增系數(shù)的乘積作為所述內(nèi)存性能參考值；或者，

當所述第一硬件信息包括內(nèi)存頻率、位寬、倍增系數(shù)以及內(nèi)存型號時，根據(jù)內(nèi)存型號所對應的歷史測量記錄，確定補償系數(shù)；

根據(jù)所述內(nèi)存頻率、位寬、倍增系數(shù)以及所述補償系數(shù)，計算所述內(nèi)存性能參考值。