[發明專利]基于親和矩陣融合譜聚類方法的SAR圖像變化檢測方法

在審

• 申請號: 201710522211.5
• 申請日: 2017-06-30
• 公開（公告）號: CN107392863A
• 公開（公告）日: 2017-11-24
• 發明（設計）人: 張建龍;陳圓圓;高新波;李巧
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00;G06T5/50;G06K9/62
• 代理公司: 西安長和專利代理有限公司61227
• 代理人: 黃偉洪

1.一種基于親和矩陣融合譜聚類方法的SAR圖像變化檢測方法，其特征在于，所述基于親和矩陣融合譜聚類方法的SAR圖像變化檢測方法包括：輸入同地域不同時間的兩幅原始SAR圖像，經去噪處理后構造兩基本差異圖X_l和X_m；分別對X_l和X_m進行鄰域特征描述得到特征描述矩陣X_L和X_M；利用相似度度量方法得到特征描述矩陣X_L和X_M對應的親和矩陣W_L和W_M；利用基于親和矩陣融合的譜聚類方法對親和矩陣W_L和W_M進行聚類分析，根據得到的聚類結果，得到變化檢測結果。

2.如權利要求1所述的基于親和矩陣融合譜聚類方法的SAR圖像變化檢測方法，其特征在于，所述特征描述將提取得到的對數比值差異圖X_l和均值比值差異圖X_m中每個像素點的l層鄰域像素特征矩陣，其中l≥3，且l為奇數，提取的鄰域特征像素矩陣展開成列，得到像素點特征描述列向量。

3.如權利要求1所述的基于親和矩陣融合譜聚類方法的SAR圖像變化檢測方法，其特征在于，所述親和矩陣融合包括：

1)分別將對數比值差異圖X_l和均值比值差異圖X_m中所有像素點的特征描述列向量作為不同的列依次排列，得到對應的特征描述矩陣X_L和X_M；

2)對得到的特征描述矩陣X_L和特征描述矩陣X_M，利用各列向量的歐氏距離度量其相似度，分別構造對應的相似度矩陣，即親和矩陣W₁和W₂；

3)初始化親和矩陣W₁和W₂的權重系數v₁和v₂，計算融合親和矩陣

4)利用基于采樣的譜聚類方法得到融合親和矩陣W的特征向量f和對角矩陣D；

5)驗證迭代條件是否滿足：誤差E＝|f_now-f_old|滿足||E||≥ε并且Iterator≤Iter，若是，執行步驟6)，否則，迭代結束，輸出特征向量f；

6)對親和矩陣權重系數進行更新，單次更新完成后執行步驟3)。