[發明專利]一種音叉晶體穩定度分析儀

在審

• 申請號: 201710519905.3
• 申請日: 2017-06-30
• 公開（公告）號: CN109212337A
• 公開（公告）日: 2019-01-15
• 發明（設計）人: 廖書輝
• 申請（專利權）人: 廖書輝
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R23/02;G01R31/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

一種音叉晶體穩定度分析儀，其特征在于：包括待測音叉、控制芯片、鍵盤電路和顯示器，所述鍵盤電路與控制芯片的輸入口連接，顯示器與控制芯片的輸出口連接，所述控制芯片的控制口連接有繼電器，控制芯片還與漏電流檢測電路和頻率穩定度分析電路相連接，所述待測音叉通過繼電器分別與漏電流檢測電路、頻率穩定度分析電路選擇連接。本發明通過漏電流檢測電路和頻率穩定度分析電路測試音叉晶體的漏電流和振蕩頻率，并通過51單片機將測試數據和設定數據進行比較分析，而后在顯示屏上給出分析結果，整個測試過程非常簡單，測試精度高，結果一目了然。

技術領域

本發明涉及一種音叉測試裝置，具體涉及一種音叉晶體穩定度分析儀。

背景技術

在石英晶體生產領域，需要對石英音叉晶體穩定度進行分析，避免產品在上機使用過程中失效，頻率抖動等不良反應。為提高石英音叉晶體穩定性除了對其高溫老化處理外，必須通過電氣性能上的測試進行判別，剔除不穩定產品，使晶體能在不同電磁環境下正常使用。現階段的音叉晶體生產領域沒有專門的測試分析工具，測試手續繁瑣，準確度也不高。

發明內容

本發明的目的是克服現有技術的缺陷和不足，提供一種操作簡單、數據準確的音叉晶體穩定度分析儀。

為實現以上目的，本發明的技術解決方案是：一種音叉晶體穩定度分析儀，其特征在于：包括待測音叉、控制芯片、鍵盤電路和顯示器，所述鍵盤電路與控制芯片的輸入口連接，顯示器與控制芯片的輸出口連接，所述控制芯片的控制口連接有繼電器，控制芯片還與漏電流檢測電路和頻率穩定度分析電路相連接，所述待測音叉通過繼電器分別與漏電流檢測電路、頻率穩定度分析電路選擇連接。

所述漏電流檢測電路包括電壓取樣電阻、電壓跟隨電路、電壓放大電路和A/D轉換電路。

所述頻率穩定度分析電路包括電壓放大電路、D/A轉換電路、小信號整流電路、加法電路、同相比例運算放大電路、自動增益同相比例運算放大電路、信號整形電路和頻率計數電路。

所述控制芯片為51單片機。

與現有技術相比，本發明的有益效果為：

1、本發明通過漏電流檢測電路和頻率穩定度分析電路測試音叉晶體的漏電流和振蕩頻率，并通過51單片機將測試數據和設定數據進行比較分析，而后在顯示屏上給出分析結果，整個測試過程操作簡單，測試精度高，結果一目了然。

2、本發明采用51單片機作為控制芯片，這樣做既滿足了測試設備基本性能要求的同時也降低了設備的成本。

附圖說明

圖1是本發明的結構示意圖。

圖中：待測音叉1，控制芯片2，鍵盤電路3，顯示器4，繼電器5，漏電流檢測電路6，頻率穩定度分析電路7，電壓取樣電阻8，電壓跟隨電路9，電壓放大電路10，A/D轉換電路11，電壓放大電路12，D/A轉換電路13，小信號整流電路14，加法電路15，同相比例運算放大電路16，自動增益同相比例運算放大電路17，信號整形電路18，頻率計數電路19。

具體實施方式

以下結合附圖說明和具體實施方式對本發明作進一步詳細的說明。

參見圖1，一種音叉晶體穩定度分析儀，包括待測音叉1、控制芯片2、鍵盤電路3和顯示器4，本發明使用性能好、體積小的51單片機作為分析儀的控制芯片，所述鍵盤電路3與控制芯片2的輸入口連接，顯示器4與控制芯片2的輸出口連接，所述控制芯片2的控制口連接有繼電器5，控制芯片2還與漏電流檢測電路6和頻率穩定度分析電路7相連接，所述待測音叉1通過繼電器5分別與漏電流檢測電路6、頻率穩定度分析電路7選擇連接。

所述漏電流檢測電路6包括電壓取樣電阻8、電壓跟隨電路9、電壓放大電路10和A/D轉換電路11。