[發明專利]一種拓撲絕緣體材料的制備方法在審
| 申請號: | 201710517726.6 | 申請日: | 2017-06-29 |
| 公開(公告)號: | CN109208080A | 公開(公告)日: | 2019-01-15 |
| 發明(設計)人: | 趙莉民 | 申請(專利權)人: | 久耀電子科技(江蘇)有限公司 |
| 主分類號: | C30B29/46 | 分類號: | C30B29/46;C30B29/64;C30B23/00;H01B13/00;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 223121 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 石墨烯 拓撲絕緣體材料 制備 納米片 蒸發源 化學氣相沉積 橫向生長 納米結構 生長 緩沖層 振動峰 襯底 紅移 濕法 銅箔 合成 并用 保證 | ||
1.一種拓撲絕緣體材料的制備方法,包括在蒸發源Bi2Se3粉末中加入Se粉末,蒸發源中加入Se粉末提高了Bi2Se3的結晶質量,有利于Bi2Se3納米結構的橫向生長,而且保證了Se與Bi的原子比例更接近標準值1.4,通過化學氣相沉積法在銅箔上生長石墨烯,并用濕法轉移石墨烯到SiO2襯底上,利用石墨烯作為緩沖層來合成Bi2Se3。
2.根據權利要求1所述的一種拓撲絕緣體材料的制備方法,其特征在于:所述的蒸發源Bi2Se3粉末中加入Se粉末。
3.根據權利要求1所述的一種拓撲絕緣體材料的制備方法,其特征在于:所述的e與Bi的原子比例更接近標準值1.4。
4.根據權利要求1所述的一種拓撲絕緣體材料的制備方法,其特征在于:所述的石墨烯作為緩沖層來合成Bi2Se3。
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