[發明專利]一種基于紅外熱像儀的發射率測試方法

在審

• 申請號: 201710515789.8
• 申請日: 2017-06-29
• 公開（公告）號: CN109211959A
• 公開（公告）日: 2019-01-15
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 洛陽尖端技術研究院;洛陽尖端裝備技術有限公司
• 主分類號: G01N25/00
• 分類號: G01N25/00;G01J5/00
• 代理公司: 北京德恒律治知識產權代理有限公司 11409
• 代理人: 章社杲;盧軍峰

本發明提供了一種基于紅外熱像儀的發射率測試方法，包括：測量環境的物理參數，根據環境的物理參數設定紅外熱像儀的內置參數并設定紅外測定距離，測量物體表面的溫度以及用紅外熱像儀照射物體表面，調節紅外熱像儀的輻射率參數，直至顯示溫度與物體表面的溫度相同，則紅外熱像儀的輻射率即為物體表面的發射率。本發明根據紅外熱像儀的工作原理，依托于紅外熱像儀的精密性，利用熱電偶、熱電阻的測溫精度，或絕緣膠帶和黑漆的熱導率、發射率的穩定性來實現物體表面的溫度的準確測定，從而準確測定物體發射率。本發明的方法具有現場性和便攜性且不破壞物體，是一種無損測試方法，解決了測量物體發射率需要特殊的貴重儀器且需要專門制樣的問題。

技術領域

本發明涉及發射率的測試方法，具體而言，一種基于紅外熱像儀的發射率測試方法。

背景技術

發射率是實際物體的輻射能量與同溫下的黑體的輻射能量之比。實際物體的發射率與諸如物體表面溫度、表面粗糙度以及表面氧化層、表面雜質或涂層存在的物體的表面狀態有關。紅外熱像儀利用紅外探測器和光學成像物鏡接受被測目標的紅外輻射能量分布圖形反映到紅外探測器的光敏元件上，從而獲得紅外熱像圖。紅外熱像圖反映了目標物體紅外輻射的強弱，而由于物體的發射率與紅外輻射率直接相關，因此，可以通過紅外熱像儀來測量物體表面的發射率。

目前，物體發射率的測試方法通常是將物體制成小樣品，用專用的發射率測量儀來進行測量，但是有些情況下，現場需要評估某物件表面發射率而不能損壞或者沒有充足時間時，就無法獲得其發射率數據。另外，專用紅外發射率測量儀一般為臺式且價格昂貴，無法滿足現場測試需要。

發明內容

針對相關技術中的問題，本發明提供了一種基于紅外熱像儀的發射率測試方法，具有便攜且無損的優勢。

根據本發明的一個方法，提供了一種基于紅外熱像儀的發射率測試方法，包括：測量環境的物理參數；根據所述環境的所述物理參數設定紅外熱像儀的內置參數，并設定紅外測定距離；測量物體表面的溫度；以及用所述紅外熱像儀照射所述物體表面，不斷調節所述紅外熱像儀的內置輻射率參數，直至所述紅外熱像儀的顯示溫度與所述物體表面的所述溫度相同，則所述紅外熱像儀的輻射率即為所述物體表面的發射率。

在上述發射率測試方法中，測量所述物體表面的所述溫度包括：在所述物體表面貼一塊絕緣膠帶，穩定15～25min；將所述紅外熱像儀的所述內置輻射率參數調節為所述絕緣膠帶的發射率，用所述紅外熱像儀照射所述絕緣膠帶的表面，顯示溫度即為所述物體表面的所述溫度。

在上述發射率測試方法中，所述絕緣膠帶為一層發射率為0.98的電工絕緣膠帶。

在上述發射率測試方法中，將所述紅外熱像儀的所述內置輻射率參數調節為0.98。

在上述發射率測試方法中，當用所述紅外熱像儀照射所述絕緣膠帶的表面時，將所述紅外熱像儀放置在所述紅外測定距離處。

在上述發射率測試方法中，當用所述紅外熱像儀照射所述絕緣膠帶的表面時，所述紅外熱像儀與所述物體表面的法向角保持在45℃～90℃。

在上述發射率測試方法中，所述絕緣膠帶的大小為5mm×1mm～10mm×1mm。

在上述發射率測試方法中，可通過涂刷一層發射率為0.97的黑漆來代替所述絕緣膠帶。

在上述發射率測試方法中，將所述紅外熱像儀的所述內置輻射率參數調節為0.97。

在上述發射率測試方法中，采用熱電偶或熱電阻測量所述物體表面的所述溫度。

在上述發射率測試方法中，當用所述紅外熱像儀照射所述物體表面時，將所述紅外熱像儀放置在所述紅外測定距離處。

在上述發射率測試方法中，當用所述紅外熱像儀照射所述物體表面時，所述紅外熱像儀與所述物體表面的法向角保持在45℃～90℃。