[發明專利]一種X射線準直塊

在審

• 申請號: 201710514486.4
• 申請日: 2017-06-29
• 公開（公告）號: CN107389714A
• 公開（公告）日: 2017-11-24
• 發明（設計）人: 杜亞明
• 申請（專利權）人: 蘇州浪聲科學儀器有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 蘇州知途知識產權代理事務所(普通合伙)32299
• 代理人: 張錦波

技術領域

本發明涉及一種X射線準直塊，屬于元素分析設備技術領域。

背景技術

任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態。能量最低的能級狀態稱為基態能級，其余能級稱為激發態能級，能量最低的激發態則稱為第一激發態。正常情況下，原子處于基態，核外電子在各自能量最低的軌道上運動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態原子，當外界光能量E恰好等于該基態原子中基態和某一較高能級之間的能級差△E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態躍遷到相應的激發態，形成原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級以后處于激發態，但激發態電子是不穩定的，經過一較短時間后，激發態電子將返回基態或其它較低能級，并將電子躍遷時所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個過程形成原子發射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量，而原子發射光譜過程則釋放輻射能量。X-射線熒光光譜分析儀的分析原理是：光源發射出原級X-射線，該射線照射樣品，待測元素的原子吸收相應的能量形成激發態，外層電子向低能級電子層躍遷，同時發射出次級X-射線，即X-射線熒光，以釋放能量，通過探測器檢測X-射線熒光的強度，進而求得待測元素的含量。

現有技術中X射線熒光光譜分析儀，X射線源通常設置在底端，正對樣品，此時，用于拍攝樣品的攝像頭就必須傾斜設置，傾斜設置的攝像頭拍攝的樣品圖像必然會出現失真，如梯形失真等，導致無法正確識別出樣品待檢測部位的中心，也就無法給樣品調整到正確位置提供正確的圖像指示。

發明內容

本發明要解決的技術問題是：為解決X射線熒光光譜分析儀中攝像頭拍攝樣品圖像失真的技術問題，提供一種攝像頭拍攝樣品圖像精確且不影響原有功能的X射線準直塊。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：

本發明提供一種X射線準直塊，包括：

與水平面成一定夾角的反射鏡和至少一個豎直布置的準直孔，每個準直孔底部均具有濾光片安裝孔。

優選地，本發明的X射線準直塊，準直孔的孔徑為0.1mm-5mm之間的任意值。

優選地，本發明的X射線準直塊，準直孔為成一列排布的若干個。

優選地，本發明的X射線準直塊，準直孔為7個，孔徑分別為0.1mm、0.2mm、0.5mm、1mm、2mm、5mm、5mm。

優選地，本發明的X射線準直塊，相鄰兩個準直孔之間的距離為6-12mm。

優選地，本發明的X射線準直塊，除與其中一個5mm的準直孔對應的濾光片安裝孔外，與其它準直孔對應的濾光片安裝孔內均設置有濾光片。

本發明的有益效果是：

本發明的X射線準直塊，設置有反射鏡，在需要通過攝像頭觀察樣品位置時，通過反射鏡折射光線成像以使攝像頭觀察到樣品，且拍攝的圖像不產生變形失真，產品成像和位置的調整更為精確，樣品位置調整結束后，使X射線通過準直孔即可使X射線照射樣品，不影響X射線檢測的功能。

附圖說明

下面結合附圖和實施例對本發明進一步說明。

圖1是具有本發明實施例的X射線準直塊的檢測倉和樣品臺的立體視圖；

圖2是具有本發明實施例的X射線準直塊的檢測倉的立體視圖；

圖3是具有本發明實施例的X射線準直塊的檢測倉和樣品臺的側視圖；

圖4是具有本發明實施例的X射線準直塊的X射線準直塊的立體視圖；

圖5是本發明實施例的X射線準直塊的立體視圖。

圖中的附圖標記為：

40-檢測倉；401-觀察窗；41-樣品臺；411-檢測孔；42-X射線源；43-攝像頭；44-探測器；45-準直部件；451-準直塊；452-直線電機；453-前擋塊；454-后擋塊；4511-反射鏡；4512-準直孔；4513-濾光片安裝孔。

具體實施方式

現在結合附圖對本發明作進一步詳細的說明。這些附圖均為簡化的示意圖，僅以示意方式說明本發明的基本結構，因此其僅顯示與本發明有關的構成。

實施例

本實施例提供一種X射線準直塊，如圖5所示，包括：