[發(fā)明專利]PMU測試方法、裝置和系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710514330.6
• 申請日: 2017-06-29
• 公開（公告）號: CN107144779A
• 公開（公告）日: 2017-09-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 農(nóng)凱政
• 申請（專利權(quán)）人: 珠海全志科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司44224
• 代理人: 鄭小粵,李雙皓

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及芯片的檢測方法和裝置，特別是涉及PMU芯片的測試方法、裝置和系統(tǒng)。

背景技術(shù)

PMU(Power Management Unit,電源管理單元)是一種高度集成的管理單元，廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域，尤其被應(yīng)用在消費(fèi)電子產(chǎn)品上。

PMU芯片在量產(chǎn)過程中，一般都是由機(jī)器進(jìn)行自動化測試。傳統(tǒng)的PMU檢測裝置顯示界面及測試電路，通過主控芯片對外圍測試電路進(jìn)行控制，并將測試結(jié)果傳送到電腦端顯示測試結(jié)果。傳統(tǒng)的PMU檢測方法數(shù)據(jù)的一種測試裝置僅能針對一款PMU測試，不能兼容所有型號的PMU。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對傳統(tǒng)的PMU檢測方法數(shù)據(jù)的一種測試裝置不能兼容所有型號的PMU的問題，提供一種PMU測試方法、裝置和系統(tǒng)。

一種PMU測試方法，其中，包括：

加載標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)；識別待測試PMU晶圓，并根據(jù)PMU晶圓判斷相應(yīng)的測試配置文件是否存在；若所述測試配置文件存在，則根據(jù)測試配置文件中的測試項信息對PMU測試，獲取測試數(shù)據(jù)；將測試數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)比較，輸出PMU測試結(jié)果。

上述PMU測試方法，將不同型號的PMU的測試項信息均記錄到一個測試配置文件中，在測試時，只需要在所述的測試配置文件中根據(jù)PMU晶圓找到對應(yīng)的測試項信息，調(diào)用不同的測試流程，就可以方便實(shí)現(xiàn)一種測試裝置兼容所有型號的PMU的目的。

作為其中一個實(shí)施例，其中，所述加載標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)的步驟包括：

對標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)的訪問操作進(jìn)行鑒權(quán)；

若所述訪問獲得授權(quán)，則加載標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)；

若所述訪問未獲授權(quán)，則結(jié)束本次測試。

作為其中一個實(shí)施例，其中，所述若所述測試配置文件存在，則根據(jù)測試配置文件中的測試項信息獲取測試數(shù)據(jù)的步驟包括：

判斷產(chǎn)品型號是否完整；

若產(chǎn)品型號完整，則根據(jù)配置文件中的測試項信息對PMU進(jìn)行測試，獲取測試數(shù)據(jù)；

若產(chǎn)品型號不完整，則再次執(zhí)行識別待測試PMU晶圓，并根據(jù)PMU晶圓判斷相應(yīng)的測試配置文件是否存在的步驟。

作為其中一個實(shí)施例，其中，所述根據(jù)測試配置文件中的測試項信息對所述待測試PMU進(jìn)行測試，獲取測試數(shù)據(jù)的步驟包括：

調(diào)整輸入電壓小于預(yù)設(shè)閾值，獲得第一充電電流值；

調(diào)整輸入電壓大于預(yù)設(shè)閾值，獲得第二充電電流值；

關(guān)閉電源，獲得充電電壓值。

一種PMU測試裝置，其中，所述裝置包括：

加載模塊，用于加載標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)；

初始化模塊，用于識別待測試PMU晶圓型號，并根據(jù)PMU晶圓型號判斷相應(yīng)的測試配置文件是否存在；

測試模塊，用于若所述測試配置文件存在，則根據(jù)測試配置文件中的測試項信息獲取測試數(shù)據(jù)；

輸出模塊，用于將測試數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)比較，輸出PMU測試結(jié)果。

上述PMU測試裝置，將不同型號的PMU的測試項信息均記錄到一個測試配置文件中，在測試時，只需要在所述的測試配置文件中根據(jù)PMU晶圓找到對應(yīng)的測試項信息，調(diào)用不同的測試流程，就可以方便實(shí)現(xiàn)一種測試裝置兼容所有型號的PMU的目的。

作為其中一個實(shí)施例，其中，所述加載模塊包括：

登錄控制單元，用于對訪問進(jìn)行鑒權(quán)，若訪問獲得授權(quán)，則加載標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)，若訪問未獲授權(quán)，則結(jié)束本次測試。

作為其中一個實(shí)施例，其中，所述初始化模塊包括：

產(chǎn)品型號判斷單元，用于判斷產(chǎn)品型號是否完整。

作為其中一個實(shí)施例，其中，所述電路測試單元包括：

充電階段判斷單元，用于測試PMU是否進(jìn)入涓流充電階段和/或恒流充電階段和/或恒壓充電階段；

電壓調(diào)整單元，用于調(diào)整充電階段判斷模塊的輸入電壓。

一種PMU測試系統(tǒng)，其中，所述測試系統(tǒng)包括：上位機(jī)、主控芯片、模擬電池模塊、電流測量模塊、可變負(fù)載模塊、電壓測量模塊；

所述主控芯片用于控制各個模塊以及待測PMU芯片；

所述電流測量模塊用于獲取輸出電流值；

所述模擬電池模塊用于調(diào)整電流測量模塊的輸入電壓；

所述可變負(fù)載模塊用于調(diào)整負(fù)載的大小；

所述電壓測量模塊用于獲取輸出電壓值；

所述上位機(jī)與所述主控芯片連接；所述主控芯片分別與所述電流測量模塊，所述電壓測量模塊以及所述PMU連接；

所述PMU分別與模擬電池、可變負(fù)載電路連接；

所述模擬電池模塊與電流測量模塊連接。