[發明專利]一種磁共振耦合空間高頻磁場強度測量裝置和方法在審
| 申請號: | 201710513460.8 | 申請日: | 2017-06-29 |
| 公開(公告)號: | CN107271935A | 公開(公告)日: | 2017-10-20 |
| 發明(設計)人: | 呂富勇;祖旭明;李春輝;馬芙蓉;周瑞卿;阮世陽;晁博;李鵬生;江鴻;唐迎川 | 申請(專利權)人: | 南京信息工程大學 |
| 主分類號: | G01R33/10 | 分類號: | G01R33/10 |
| 代理公司: | 南京經緯專利商標代理有限公司32200 | 代理人: | 施昊 |
| 地址: | 210044 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 磁共振 耦合 空間 高頻 磁場強度 測量 裝置 方法 | ||
1.一種磁共振耦合空間高頻磁場強度測量裝置,其特征在于:包括線圈安裝槽(A)、連接件(B)和信號處理印刷電路板(C),感應線圈安裝在線圈安裝槽(A)內,信號處理印刷電路板(C)通過連接件(B)與線圈安裝槽(A)連接;所述信號處理印刷電路板(C)包括可變阻尼諧振網絡(C1)、輸入緩沖級(C2)、峰值檢測電路(C8)、可控增益放大電路(C3)、采樣保持器(C4)、ADC轉換電路(C5)、微處理器(C6)以及單刀雙擲開關(C7),可變阻尼諧振網絡(C1)的輸入端連接感應線圈,可變阻尼諧振網絡(C1)的輸出端連接輸入緩沖級(C2)的輸入端,輸入緩沖級(C2)的輸出端連接峰值檢測電路(C8)的輸入端和可控增益放大電路(C3)的輸入端,可控增益放大電路(C3)的輸出端連接采樣保持器(C4)的輸入端,采樣保持器(C4)的輸出端連接ADC轉換電路(C5)的輸入端,ADC轉換電路(C5)的輸出端連接微處理器(C6)的輸入端,單刀雙擲開關(C7)的動端連接采樣保持器(C4)的控制端,單刀雙擲開關(C7)的兩個不動端分別連接微處理器(C6)和外部控制信號,可變阻尼諧振網絡(C1)的控制端、可控增益放大電路(C3)的控制端、ADC轉換電路(C5)的控制端和峰值檢測電路(C8)分別連接微處理器(C6)。
2.根據權利要求1所述磁共振耦合空間高頻磁場強度測量裝置,其特征在于:信號處理印刷電路板(C)通過連接件(B)與線圈安裝槽(A)垂直連接。
3.根據權利要求1所述磁共振耦合空間高頻磁場強度測量裝置,其特征在于:所述可變阻尼諧振網絡(C1)包括諧振電容和電位器,諧振電容、電位器和感應線圈相互并聯,電位器的控制端連接微處理器(C6),從而控制電位器接入電路的阻值。
4.根據權利要求1所述磁共振耦合空間高頻磁場強度測量裝置,其特征在于:所述輸入緩沖級(C2)采用OPA842芯片。
5.根據權利要求1所述磁共振耦合空間高頻磁場強度測量裝置,其特征在于:所述可控增益放大電路(C3)由兩片AD603芯片級聯而成。
6.根據權利要求1所述磁共振耦合空間高頻磁場強度測量裝置,其特征在于:所述采樣保持器(C4)采用OPA615芯片。
7.根據權利要求1所述磁共振耦合空間高頻磁場強度測量裝置,其特征在于:所述峰值檢測電路(C8)采用AD8307芯片。
8.基于權利要求1所述裝置的高頻磁場強度測量方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)微處理器(C6)控制可變阻尼諧振網絡(C1)的參數,使其阻尼單調變化;
(2)微處理器(C6)控制峰值檢測電路(C8),尋找輸出電壓峰值時可變阻尼網絡所對應的參數,保持該參數值,進入下一步;
(3)微處理器(C6)控制可控增益放大電路(C3)的放大或者衰減的倍數,將感應線圈輸出的電壓信號調理成在ADC轉換電路(C5)的量程范圍內的電信號;
(4)當需要測量磁場強度時,微處理器(C6)控制單刀雙擲開關(C7)的狀態,選擇微處理器(C6)或者外部信號控制采樣保持器(C4)處于保持狀態;
(5)微處理器(C6)控制ADC轉換電路(C5)采集被保持住的電壓信號;
(6)AD轉換完成后,微處理器(C6)或者外部信號控制采樣保持器(C4)處于跟隨狀態,繼續跟蹤高頻磁場信號;
(7)微處理器由AD轉換的結果計算出磁感應強度的數值并存儲在微處理器(C6)內部,實現磁場信號的數字化。
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