[發明專利]一種可切換濾光片的X射線檢測系統

在審

• 申請號: 201710509020.5
• 申請日: 2017-06-28
• 公開（公告）號: CN107389713A
• 公開（公告）日: 2017-11-24
• 發明（設計）人: 杜亞明
• 申請（專利權）人: 蘇州浪聲科學儀器有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223;G01N23/22
• 代理公司: 蘇州知途知識產權代理事務所(普通合伙)32299
• 代理人: 張錦波

技術領域

本發明涉及一種可切換濾光片的X射線檢測系統，屬于元素分析設備技術領域。

背景技術

任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態。能量最低的能級狀態稱為基態能級，其余能級稱為激發態能級，能量最低的激發態則稱為第一激發態。正常情況下，原子處于基態，核外電子在各自能量最低的軌道上運動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態原子，當外界光能量E恰好等于該基態原子中基態和某一較高能級之間的能級差△E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態躍遷到相應的激發態，形成原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級以后處于激發態，但激發態電子是不穩定的，經過一較短時間后，激發態電子將返回基態或其它較低能級，并將電子躍遷時所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個過程形成原子發射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量，而原子發射光譜過程則釋放輻射能量。X-射線熒光光譜分析儀的分析原理是：光源發射出原級X-射線，該射線照射樣品，待測元素的原子吸收相應的能量形成激發態，外層電子向低能級電子層躍遷，同時發射出次級X-射線，即X-射線熒光，以釋放能量，通過探測器檢測X-射線熒光的強度，進而求得待測元素的含量。

進行X射線熒光光譜分析時，在分析不同的元素時，需要更換濾光片，而現有的X射線熒光光譜分析儀難以切換濾光片。

發明內容

本發明要解決的技術問題是：為解決X射線熒光光譜分析儀中濾光片難以切換的技術問題，提供一種方便切換濾光片的可切換濾光片的X射線檢測系統。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：

本發明提供一種可切換濾光片的X射線檢測系統，包括：

樣品臺，中間設置有樣品檢測孔；

檢測倉，密封設置在樣品臺底部，一側安裝有觀察窗；

X射線源，設置在檢測倉底部，X射線源的X射線發射管沿豎直方向布置；

探測器，設置在檢測倉另一側，用于探測樣品發出的二次X射線；

準直部件，包括，設置在檢測倉外的電機；設置在檢測倉底部的導軌；設置導軌上的準直塊；準直塊上設置有若干豎直布置的準直孔，準直孔底部為濾光片安裝孔，準直塊能夠在直線電機的驅動下沿導軌運動。

優選地，本發明的可切換濾光片的X射線檢測系統，準直孔(4512)孔徑為0.1mm-2mm之間的任意值。

優選地，本發明的可切換濾光片的X射線檢測系統，準直孔(4512)為成一列排布的若干個。

優選地，本發明的可切換濾光片的X射線檢測系統，準直孔(4512)為7個，孔徑分別為0.1mm、0.2mm、0.2mm、0.5mm、0.5mm、1mm、1mm、2mm、2mm。

優選地，本發明的可切換濾光片的X射線檢測系統，相鄰兩個準直孔(4512)之間的距離為6-12mm。

優選地，本發明的可切換濾光片的X射線檢測系統，電機為直線電機。

優選地，本發明的可切換濾光片的X射線檢測系統，導軌一側還設置有前擋塊與后擋塊，用于限制準直塊的運動行程。

本發明的有益效果是：

本發明的可切換濾光片的X射線檢測系統，準直塊能夠在電機的驅動下，使不同的準直孔位于X射線源與檢測孔之間，也即通過調節準直塊的位置就可以使用不同的濾光片，X射線源發出的X射線能夠通過準直孔照射到位于樣品臺上樣品。

附圖說明

下面結合附圖和實施例對本發明進一步說明。

圖1是具有本發明實施例的可切換濾光片的X射線檢測系統的立體視圖；

圖2是具有本發明實施例的檢測倉的立體視圖；

圖3是具有本發明實施例的可檢測倉和樣品臺的側視圖；

圖4是本發明實施例的準直部件的立體視圖；

圖5是本發明實施例的準直塊的頂部的立體視圖；

圖6是本發明實施例的準直塊的底部的立體視圖。

圖中的附圖標記為：

40-檢測倉；401-觀察窗；41-樣品臺；411-樣品檢測孔；42-X射線源；43-攝像頭；44-探測器；45-準直部件；451-準直塊；452-直線電機；453-前擋塊；454-后擋塊；4512-準直孔；4513-濾光片安裝孔。

具體實施方式

現在結合附圖對本發明作進一步詳細的說明。這些附圖均為簡化的示意圖，僅以示意方式說明本發明的基本結構，因此其僅顯示與本發明有關的構成。

實施例