[發(fā)明專利]校準(zhǔn)裝置和方法以及包括校準(zhǔn)裝置的有機(jī)發(fā)光顯示器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710508973.X | 申請日: | 2017-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN107564463B | 公開(公告)日: | 2020-05-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 金承泰;林明基;洪錫顯 | 申請(專利權(quán))人: | 樂金顯示有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/3208 | 分類號: | G09G3/3208 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 杜誠;陳煒 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 校準(zhǔn) 裝置 方法 以及 包括 有機(jī) 發(fā)光 顯示器 | ||
本發(fā)明公開了校準(zhǔn)裝置和方法以及包括校準(zhǔn)裝置的有機(jī)發(fā)光顯示器,該有機(jī)發(fā)光顯示器包括:具有多個像素的顯示面板;多個源極驅(qū)動器集成電路,所述多個源極驅(qū)動器集成電路包括連接至多個像素并且感測多個像素的電特性的感測塊;以及校準(zhǔn)塊,其向感測塊施加測試電流,以便在預(yù)設(shè)校準(zhǔn)模式下感測感測塊之間的偏移變化。所述校準(zhǔn)塊包括:產(chǎn)生測試電流的多個分立電流源;以及連接多個源極驅(qū)動器集成電路和多個分立電流源的開關(guān)陣列,其中,兩個或更多個鄰近的源極驅(qū)動器集成電路共享一個分立電流源,并且每個源極驅(qū)動器集成電路選擇性地連接至兩個或更多個分立電流源。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及有機(jī)發(fā)光顯示器,并且更具體地,涉及能夠感測和補(bǔ)償像素的電特性的有機(jī)發(fā)光顯示器。
背景技術(shù)
有源矩陣有機(jī)發(fā)光顯示器包括自發(fā)光有機(jī)發(fā)光二極管(以下稱為“OLED”),并且具有響應(yīng)時間快、發(fā)光效率高、亮度高、視角寬的優(yōu)點(diǎn)。
作為自發(fā)光器件的OLED包括陽極、陰極、以及形成在陽極與陰極之間的有機(jī)化合物層(compound layer)。有機(jī)化合物層包括HIL(空穴注入層)、HTL(空穴傳輸層)、EML(發(fā)射層)、ETL(電子傳輸層)以及EIL(電子注入層)。當(dāng)向陽極和陰極施加驅(qū)動電壓時,穿過HTL的空穴和穿過ETL的電子移動到EML,形成激子。因此,EML產(chǎn)生可見光。
在有機(jī)發(fā)光顯示器中,每個包括OLED的像素被布置成矩陣,并且通過根據(jù)圖像的灰度數(shù)據(jù)控制從OLED發(fā)射的光的量來調(diào)節(jié)亮度。每個像素包括驅(qū)動元件即驅(qū)動TFT(薄膜晶體管),其基于施加在其柵電極與源電極之間的電壓來控制流過OLED的像素電流。OLED和驅(qū)動TFT的電特性可能會隨時間劣化,從而引起像素之間的差異。像素之間的電特性的這種變化是引起低圖片質(zhì)量的主要原因。
存在公知的補(bǔ)償像素之間的電特性的變化的外部補(bǔ)償技術(shù),其中對與像素的電特性(驅(qū)動TFT的閾值電壓、驅(qū)動TFT的遷移率和OLED的閾值電壓)相對應(yīng)的感測信息進(jìn)行測量并且外部電路基于所述感測信息來調(diào)制圖像數(shù)據(jù)。
在該外部補(bǔ)償技術(shù)中,通過使用嵌入在源極驅(qū)動器IC(集成電路)中的感測塊來感測像素的電特性。感測塊包括多個電流積分器、多個采樣保持器、以及ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)。電流積分器執(zhí)行通過感測通道輸入的像素的電流信息的積分以產(chǎn)生感測電壓。該感測電壓通過采樣保持器傳遞到ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器),并且由ADC轉(zhuǎn)換為數(shù)字感測數(shù)據(jù)。定時控制器基于來自ADC的數(shù)字感測數(shù)據(jù)計算用于補(bǔ)償像素的電特性的變化的像素補(bǔ)償值,并且基于像素補(bǔ)償值來校正輸入圖像數(shù)據(jù)。
由于有機(jī)發(fā)光顯示器包括用于以分段方式逐區(qū)驅(qū)動顯示面板的多個源極驅(qū)動器IC,因此每個嵌入在每個源極驅(qū)動器IC中的多個感測塊以分段方式逐區(qū)感測顯示面板上的像素。當(dāng)通過多個感測塊以分段方式感測像素時,由于感測塊之間的偏移變化,感測精度可能低。因此,有必要通過校準(zhǔn)過程來補(bǔ)償感測塊之間的偏移變化。在校準(zhǔn)過程中,向每個感測塊施加測試電流以獲得用于校準(zhǔn)的感測數(shù)據(jù),并且基于用于校準(zhǔn)的感測數(shù)據(jù)來計算用于補(bǔ)償感測塊之間的偏移變化的用于校準(zhǔn)的補(bǔ)償值。當(dāng)校正輸入圖像數(shù)據(jù)時,定時控制器可以通過參考用于校準(zhǔn)的補(bǔ)償值以及像素補(bǔ)償值來提高補(bǔ)償精度。
圖1A至圖2B描繪了常規(guī)校準(zhǔn)方法。
在圖1A和圖1B中所示的常規(guī)技術(shù)中的第一校準(zhǔn)方法使用一個公共電流源Ix,所述一個公共電流源Ix用于向包括在三個源極驅(qū)動器IC SIC1、SIC2和SIC3中的三個感測塊施加測試電流。在該校準(zhǔn)方法中,通過交替地接通連接在公共電流源Ix與源極驅(qū)動器ICSIC1、SIC2、SIC3之間的開關(guān)SW1、SW2、SW3來向三個感測塊順序地施加測試電流。
在圖2A和圖2B中所示的常規(guī)技術(shù)中的第二校準(zhǔn)方法使用三個分立電流源I1、I2和I3,所述三個分立電流源I1、I2和I3用于向包括在三個源極驅(qū)動器IC SIC1、SIC2和SIC3中的三個感測塊施加測試電流。在該校準(zhǔn)方法中,通過分立電流源I1、I2和I3向三個感測塊同時施加測試電流。
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