[發明專利]一種基于宇宙射線的電荷耦合器件電荷轉移效率在軌測試方法有效
| 申請號： | 201710507965.3 | 申請日： | 2017-06-28 |
| 公開（公告）號： | CN107273694B | 公開（公告）日： | 2020-05-19 |
| 發明（設計）人： | 馮婕;李豫東;文林;于新;張興堯;郭旗 | 申請（專利權）人： | 中國科學院新疆理化技術研究所 |
| 主分類號： | G06F17/18 | 分類號： | G06F17/18 |
| 代理公司： | 烏魯木齊中科新興專利事務所(普通合伙) 65106 | 代理人： | 張莉 |
| 地址： | 830011 新疆維吾爾*** | 國省代碼： | 新疆;65 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 宇宙射線 電荷耦合器件 電荷 轉移 效率 測試 方法 | ||
1.一種基于宇宙射線的電荷耦合器件電荷轉移效率在軌測試方法，其特征在于具體操作按下列步驟進行：
a、對在軌電荷耦合器件同一天在軌暗場測試采集到的十幅圖進行統計，得到十幅圖中宇宙射線軌跡總數N；
b、統計每條宇宙射線軌跡在圖像上經過的列數Ncolumn；
c、找出每條宇宙射線軌跡中灰度值最大的像素，以該像素為中心像素，其上下左右各個方向上的像素灰度值逐漸降低，尋找各方向上像素的灰度值介于圖像背景灰度值的1.5倍和中心像素灰度值之間的所有像素即為宇宙射線信號源覆蓋的像素；
d、計算每條宇宙射線軌跡上所有像素的平均灰度值DNaverage；
e、計算每條宇宙射線軌跡上方所有信號源像素的灰度值總和DNup和Ncolumn的比值以及每條宇宙射線軌跡下方所有信號源像素的灰度值總和DNdown和Ncolumn的比值；
f、計算每條宇宙射線相對應的總的電荷轉移損失率CTI總，然后求出每條宇宙射線相對應的單次電荷轉移效率CTE，其中根據公式(1)計算每條宇宙射線相對應的總的電荷轉移損失率CTI總，
然后根據公式(2)求出每條宇宙射線相對應的單次電荷轉移效率CTE；
式(2)中m為轉移次數，p為電荷耦合器件的相數；
g、將每條宇宙射線相對應的單次電荷轉移效率加和起來求均值CTEaverage，該均值即為在軌電荷耦合器件的電荷轉移效率。
2.如權利要求1所述的一種基于宇宙射線的電荷耦合器件電荷轉移效率在軌測試方法，其特征在于步驟a中在軌電荷耦合器件的輸出端在上方。
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