[發明專利]一種基于UEFI的計算機內存轉接卡測試方法和裝置

在審

• 申請號: 201710507828.X
• 申請日: 2017-06-28
• 公開（公告）號: CN107220153A
• 公開（公告）日: 2017-09-29
• 發明（設計）人: 于曉艷;張雁鵬;劉強
• 申請（專利權）人: 濟南浪潮高新科技投資發展有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司37100
• 代理人: 韓月娥

1.一種基于UEFI的計算機內存轉接卡測試方法，其特征在于, 通過一測試U盤來測試一計算機內存轉接卡，將內存轉接卡插接在所述計算機中，內存轉接卡連接內存，同時將測試U盤插接在所述計算機上，所述測試U盤中含有內存轉接卡測試程序和所述計算機的內存數據信息；所述計算機內存轉接卡測試方法主要實現步驟如下：

1）計算機上電；

2）進入BIOS Setup，設置第一啟動項為boot from build-in efi shell；

3）接入測試U盤，通過UEFI啟動startup.nsh腳本引導進入測試U盤；

4）通過測試U盤中測試程序收集所述計算機的內存相關信息；

5）對獲取到的內存信息進行計算，與測試U盤中包含的內存數據信息進行比較，完成所述計算機中內存轉接卡的測試操作。

2.根據權利要求1所述一種基于UEFI的計算機內存轉接卡測試方法，其特征在于, 所述測試U盤中包含的內存數據信息，有所述計算機硬件平臺支持rank_num，以及與所述計算機硬盤平臺兼容的相應內存類型對應的spd信息，以及計算write leveling所需的延時數據。

3.根據權利要求2所述一種基于UEFI的計算機內存轉接卡測試方法，其特征在于, 所述步驟5）中，對獲取到的內存信息進行計算，然后將獲取的內存信息、write leveling延時計算值與測試U盤中的內存數據信息進行比較，若計算結果在內存數據范圍內則內存轉接卡測試通過；否則此內存轉接卡內存設備測試不通過。

4.一種基于UEFI的計算機內存轉接卡測試裝置，其特征在于，其結構主要包括一計算機、內存轉接卡和測試U盤，所述內存轉接卡插接在所述計算機中，所述內存轉接卡上插接有內存，所述測試U盤同樣連接在所述計算機上；

所述計算機設置BIOS Setup啟動順序，設置第一啟動項為：boot from build-in efi shell；所述測試U盤中含有內存轉接卡測試程序，通過該測試程序所述測試U盤能夠收集所述計算機的內存相關信息；同時所述測試U盤中包含所述計算機的內存數據信息，將測試U盤收集到的內存信息與測試U盤中的內存數據信息進行比較，完成計算機內存轉接卡測試。

5.根據權利要求4所述的一種基于UEFI的計算機內存轉接卡測試裝置，其特征在于，所述測試U盤中的計算機內存數據信息包括，所述計算機硬件平臺支持rank_num，以及與所述計算機硬盤平臺兼容的相應內存類型對應的spd信息，以及計算write leveling所需的延時數據。

6.根據權利要求5所述的一種基于UEFI的計算機內存轉接卡測試裝置，其特征在于，所述測試U盤收集計算機的內存相關信息，并對獲取的內存相關信息進行計算，將獲取的內存信息、計算結果與所述測試U盤中的內存數據信息進行比較，若計算結果在內存數據范圍內則表明該內存轉接卡測試通過，否則表明該內存轉接卡測試不通過。