[發明專利]檢測高分子材料制品殘余主應力的方法有效
| 申請號: | 201710507705.6 | 申請日: | 2017-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN109141706B | 公開(公告)日: | 2020-06-09 |
| 發明(設計)人: | 史穎;鄭萃;任敏巧;劉立志 | 申請(專利權)人: | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司北京化工研究院 |
| 主分類號: | G01N23/207 | 分類號: | G01N23/207;G01L5/00 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人: | 王崇;李婉婉 |
| 地址: | 100728 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 高分子材料 制品 殘余 主應力 方法 | ||
1.一種檢測高分子材料制品殘余主應力的方法,其特征在于,該方法采用二維X射線衍射法對高分子材料制品的殘余主應力進行定量檢測,其中,所述高分子材料包含晶區和非晶區,且在殘余應力存在下,所述晶區和非晶區的應變量相等;
所述方法包括以下步驟:
(1)將待測高分子材料制品放入樣品臺,調整X射線入射位置至待測樣品表面,調整二維探測器轉角至一條樣品衍射環到達二維探測器正中位置,設定X射線探測分析系統的參數上下閾,采集樣品的X射線衍射環譜圖;
(2)選取最高角度衍射峰或較高角度衍射峰對應的晶面(HKL)作為測試的衍射晶面,測試得到二維探測器接收到的所述高分子材料制品的晶面(HKL)的X射線衍射環峰位2θHKL的偏移量,由布拉格公式計算得到應變值;
(3)設定多個樣品傾斜角ψ和樣品旋轉方位角使樣品臺按設定好的多個樣品傾斜角ψ和樣品旋轉方位角進行傾斜和旋轉,依次收集高分子材料制品的(HKL)晶面在不同方向上的X射線衍射環譜圖,重復步驟(2),得到二維探測器接收到的所述高分子材料制品的(HKL)晶面在不同方向上的X射線衍射環峰位的偏移量和應變值;
(4)根據步驟(3)二維探測器收集到的高分子材料制品的(HKL)晶面在不同方向上的X射線衍射環峰位的偏移量和應變值,擬合得出所述高分子材料制品的殘余主應力的大小和方向。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述高分子材料為半結晶硬質高分子材料。
3.根據權利要求2所述的方法,其中,所述高分子材料的玻璃化轉變溫度低于25℃,所述高分子材料的楊氏模量為1-2GPa。
4.根據權利要求1或2所述的方法,其中,所述高分子材料為聚烯烴或聚酯。
5.根據權利要求1或2所述的方法,其中,所述高分子材料為聚乙烯或聚丙烯。
6.根據權利要求1或2所述的方法,其中,所述方法還包括:在檢測所述高分子材料制品殘余主應力之前,對所述高分子材料制品進行沿加工方向拉伸和/或沿垂直加工方向拉伸處理。
7.根據權利要求1或2所述的方法,其中,步驟(3)中,所述樣品傾斜角ψ的設定方式為在0-70°范圍內按照等角度間距設定;所述樣品旋轉方位角的設定方式為在0-360°范圍內按照等角度間距設定。
8.根據權利要求7所述的方法,其中,所述樣品旋轉方位角為0°、45°、90°、135°、180°、225°、270°和315°。
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