[發(fā)明專利]帶有探針光脈沖壓縮技術(shù)的光延時(shí)同源激光泵浦探測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710507346.4 | 申請(qǐng)日： | 2017-06-28 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN107101946B | 公開（公告）日： | 2019-11-15 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 朱成禹;楊存意;梁凌熙;解珺迪;呂志偉 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 哈爾濱工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01N21/01 | 分類號(hào)： | G01N21/01;G01N21/21 |
| 代理公司： | 23109 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人： | 高倩<國(guó)際申請(qǐng)>=<國(guó)際公布>=<進(jìn)入國(guó) |
| 地址： | 150001黑龍江*** | 國(guó)省代碼： | 黑龍;23 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 帶有 探針 脈沖 壓縮 技術(shù) 延時(shí) 同源 激光 探測(cè) 裝置 | ||
1.一種帶有探針光脈沖壓縮技術(shù)的光延時(shí)同源激光泵浦探測(cè)裝置，所述裝置包括激光器(1)、分光鏡(2)、第一透鏡(3)、倍頻晶體(4)、第一偏振片(5)、脈寬壓縮系統(tǒng)(6)、全反鏡M1、第一光學(xué)延遲系統(tǒng)(7)、窄帶濾波片(8)和第一探測(cè)器(9)；
激光器(1)輸出的激光入射至分光鏡(2)，分光鏡(2)將入射的光分成兩束，其中一束入射至第一透鏡(3)，另一束入射至倍頻晶體(4)，倍頻晶體(4)倍頻后出射的光入射至第一偏振片(5)，經(jīng)第一偏振片(5)偏振后輸出的p態(tài)偏振光入射至脈寬壓縮系統(tǒng)(6)，脈寬壓縮系統(tǒng)(6)對(duì)入射的光進(jìn)行脈寬壓縮后輸出s態(tài)偏振光返回至第一偏振片(5)，再經(jīng)第一偏振片(5)反射至全反鏡M1，經(jīng)全反鏡M1反射的光輸入至第一光學(xué)延遲系統(tǒng)(7)，第一光學(xué)延遲系統(tǒng)(7)輸出的光作為探測(cè)光入射至待測(cè)樣品表面的目標(biāo)區(qū)域；
經(jīng)第一透鏡(3)透射的光作為泵浦光入射至待測(cè)樣品表面的目標(biāo)區(qū)域；
經(jīng)待測(cè)樣品表面的目標(biāo)區(qū)域的光入射至窄帶濾波片(8)，經(jīng)窄帶濾波片(8)濾波后的光入射至第一探測(cè)器(9)；
其特征在于，所述泵浦探測(cè)裝置還包括第一1/4波片(10)、第二偏振片(11)、第二光學(xué)延遲系統(tǒng)(12)、第三偏振片(13)和第四偏振片(14)和第二探測(cè)器(15)；
所述第一1/4波片(10)、第二偏振片(11)、第二光學(xué)延遲系統(tǒng)(12)和第三偏振片(13)設(shè)置在第一光學(xué)延遲系統(tǒng)(7)和待測(cè)樣品之間的光路上；
第一光學(xué)延遲系統(tǒng)(7)輸出的光入射至第一1/4波片(10)，經(jīng)第一1/4波片(10)透射的光入射至第二偏振片(11)，經(jīng)第二偏振片(11)反射的光輸入至第二光學(xué)延遲系統(tǒng)(12)，經(jīng)第二偏振片(11)透射的光入射至第三偏振片(13)并透射，然后入射至待測(cè)樣品表面的目標(biāo)區(qū)域；
第二光學(xué)延遲系統(tǒng)(12)輸出的光入射至第三偏振片(13)，經(jīng)第三偏振片(13)反射后入射至待測(cè)樣品表面的目標(biāo)區(qū)域；
所述第四偏振片(14)設(shè)置在濾波片8和第一探測(cè)器(9)之間的光路上，經(jīng)濾波片8濾波后的光入射至第四偏振片(14)，經(jīng)第四偏振片(14)透射的光入射至第一探測(cè)器(9)，經(jīng)第四偏振片(14)反射的光入射至第二探測(cè)器(15)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶有探針光脈沖壓縮技術(shù)的光延時(shí)同源激光泵浦探測(cè)裝置，其特征在于，脈寬壓縮系統(tǒng)(6)包括第二1/4波片(61)、SBS放大池(62)、第二透鏡(63)和SBS產(chǎn)生池(64)；
所述經(jīng)第一偏振片(5)偏振后輸出的p態(tài)偏振光入射至第二1/4波片(61)，經(jīng)第二1/4波片(61)透射后的圓偏振光依次入射至SBS放大池(62)、第二透鏡(63)和SBS產(chǎn)生池(64)，在SBS放大池(62)內(nèi)脈寬壓縮后的光延原路返回至第二1/4波片(61)，再經(jīng)第二1/4波片(61)透射，輸出s態(tài)偏振光至第一偏振片(5)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的帶有探針光脈沖壓縮技術(shù)的光延時(shí)同源激光泵浦探測(cè)裝置，其特征在于，所述泵浦探測(cè)裝置還包括陷阱(16)；所述陷阱(16)設(shè)置在待測(cè)樣品的正后方，用于收集廢光。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的帶有探針光脈沖壓縮技術(shù)的光延時(shí)同源激光泵浦探測(cè)裝置，其特征在于，所述第一光學(xué)延遲系統(tǒng)包括全反鏡M2和全反鏡M3；
輸入的光入射至全反鏡M2，經(jīng)全反鏡M2反射的光入射至全反鏡M3，經(jīng)全反鏡M3反射的光作為第一光學(xué)延遲系統(tǒng)輸出的光。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
