[發明專利]逆色調映射方法有效
| 申請號: | 201710504190.4 | 申請日: | 2017-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN107545547B | 公開(公告)日: | 2023-07-07 |
| 發明(設計)人: | 金容佑;金相延;河雨石;金紋哲;金大恩 | 申請(專利權)人: | 硅工廠股份有限公司;韓國科學技術院 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205 | 代理人: | 楊貝貝;臧建明 |
| 地址: | 韓國大田廣域*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 色調 映射 方法 | ||
1.一種將低對比率圖像轉換成高對比率圖像的逆色調映射方法,其特征在于,所述方法包括:
使用至少一個分離濾波器將所述低對比率圖像分離成多個子層低對比率圖像;
將每個子層低對比率圖像劃分成多個分塊;
確定每個分塊的圖像類別;
根據針對每個圖像類別所學習的變換矩陣將每個分塊轉換成對應高對比率圖像分塊從而產生所述高對比率圖像;以及
通過合成所述高對比率圖像分塊來產生所述高對比率圖像;
其中,以超過兩次使用所述分離濾波器的方式產生所述多個子層低對比率圖像中的至少一個子層低對比率圖像。
2.根據權利要求1所述的逆色調映射方法,其中所述子層低對比率圖像中的每一者是不再由所述分離濾波器分離的終端節點圖像。
3.根據權利要求1或權利要求2所述的逆色調映射方法,其中所述分離濾波器是雙向濾波器、使用總變差能量的分解濾波器、小波濾波器、伽柏濾波器和高斯濾波器中的一種。
4.根據權利要求1或權利要求2所述的逆色調映射方法,其中由以下因素中的至少一個或多個因素確定每個分塊的所述圖像類別:使用每個分塊圖像的亮度、對比度、紋理復雜度、邊緣方向、邊緣強度、色彩分量、紋理圖案、頻率和微分算子的圖像信號改變信息、使用高斯函數的圖像信號改變信息,以及使用拉普拉斯函數的圖像信號改變信息。
5.根據權利要求1或權利要求2所述的逆色調映射方法,其中所述確定所述圖像類別包含使用每個分塊中包含的像素的平均亮度來確定所述圖像類別。
6.根據權利要求5所述的逆色調映射方法,其中所述確定所述圖像類別包含通過將每個分塊的像素劃分成多個群組并比較參考群組與每個群組的平均亮度來確定所述圖像類別。
7.根據權利要求6所述的逆色調映射方法,其中在所述確定所述圖像類別的過程中,顯示排除所述參考群組的所有群組,其方式使得每個分塊的所述像素被劃分成Q個群組,Q是2或更大的自然數,且比較所述參考群組與每個群組的平均亮度以使得所述每個群組表示為0或1,并將所述圖像類別分類成2∧(Q-1)種類別。
8.根據權利要求6所述的逆色調映射方法,其中所述確定所述圖像類別包含將每個分塊的所述像素劃分成多個行群組和多個列群組。
9.一種將低對比率圖像轉換成高對比率圖像的逆色調映射方法,其特征在于,所述方法包括:
將測試高對比率圖像轉換成測試低對比率圖像;
將所述測試高對比率圖像分離成多個子層測試高對比率圖像,并將所述測試低對比率圖像分離成多個子層測試低對比率圖像;
將每個子層測試高對比率圖像劃分成多個測試高對比率圖像分塊,并將每個子層測試低對比率圖像劃分成多個測試低對比率圖像分塊;
確定每個測試低對比率圖像分塊的圖像類別;
使用對應于每個圖像類別的所述測試低對比率圖像分塊和對應于所述測試低對比率圖像分塊的所述測試高對比率圖像分塊來學習每個圖像類別的變換矩陣;
使用所學習的所述變換矩陣將輸入的所述低對比率圖像轉換成所述高對比率圖像;以及
通過合成所述高對比率圖像分塊來產生所述高對比率圖像;
其中,以超過兩次使用分離濾波器的方式產生至少一個子層低對比率圖像。
10.根據權利要求9所述的逆色調映射方法,其中通過相同分離濾波器將所述測試高對比率圖像與所述測試低對比率圖像分離成子層。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于硅工廠股份有限公司;韓國科學技術院,未經硅工廠股份有限公司;韓國科學技術院許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710504190.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





