[發(fā)明專利]一種芯片設(shè)計處理的方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710502887.8
• 申請日: 2017-06-27
• 公開（公告）號: CN109145334B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李嶧
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市中興微電子技術(shù)有限公司
• 主分類號: G06F30/398
• 分類號: G06F30/398;G06F30/396
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112
• 代理人: 姜春咸;馮建基

1.一種芯片設(shè)計處理的方法，包括：

在芯片物理設(shè)計階段生成好時鐘樹后，獲取每一條掃描鏈的信息；

根據(jù)預(yù)置的掃描模式測試向量對所述每一條掃描鏈進行狀態(tài)配置；

根據(jù)配置后的所述每一條掃描鏈的狀態(tài)模擬所述芯片在掃描測試模式的工作狀態(tài)，進行電源完整性分析；

所述根據(jù)預(yù)置的掃描模式測試向量對所述每一條掃描鏈進行狀態(tài)配置，包括：根據(jù)配置的掃描鏈自檢向量和根據(jù)指定項目截取實際掃描測試模式下的配置向量，對每一條掃描鏈進行掃描測試，得到兩個接近真實的場景；

所述根據(jù)配置后的所述每一條掃描鏈的狀態(tài)模擬所述芯片在掃描測試模式的工作狀態(tài)，進行電源完整性分析，包括：進行仿真得到電源完整性仿真的結(jié)果，綜合兩個所述場景的分析結(jié)果，分析定位設(shè)計中的問題。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述在芯片物理設(shè)計階段生成好時鐘樹后，還包括：

獲取所述芯片的設(shè)計數(shù)據(jù)，是從所述芯片的設(shè)計數(shù)據(jù)中獲取所述每一條掃描鏈的信息的。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于：所述芯片的設(shè)計數(shù)據(jù)包括以下的一種或多種：

網(wǎng)表、描述芯片物理信息的設(shè)計交換格式文件、描述寄生參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)寄生交換格式文件和時序約束文件。

4.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于：

所述每一條掃描鏈的信息包括：掃描鏈連接關(guān)系和掃描鏈的長度。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述進行電源完整性分析是在以下任一階段進行的：

在芯片物理設(shè)計階段生成時鐘樹階段，或者在布線階段，或者時序修復(fù)階段。

6.一種芯片設(shè)計處理的裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于在芯片物理設(shè)計階段生成好時鐘樹后，獲取每一條掃描鏈的信息；

配置模塊，用于根據(jù)預(yù)置的掃描模式測試向量對所述每一條掃描鏈進行狀態(tài)配置；其中，根據(jù)配置的掃描鏈自檢向量和根據(jù)指定項目截取實際掃描測試模式下的配置向量，對每一條掃描鏈進行掃描測試，得到兩個接近真實的場景；

分析模塊，用于根據(jù)配置后的所述每一條掃描鏈的狀態(tài)模擬所述芯片在掃描測試模式的工作狀態(tài)，進行電源完整性分析；其中，進行仿真得到電源完整性仿真的結(jié)果，綜合兩個所述場景的分析結(jié)果，分析定位設(shè)計中的問題。

7.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于：

所述獲取模塊，還用于獲取所述芯片的設(shè)計數(shù)據(jù)，是從所述芯片的設(shè)計數(shù)據(jù)中獲取所述每一條掃描鏈的信息的，所述芯片的設(shè)計數(shù)據(jù)包括以下的一種或多種：網(wǎng)表、描述芯片物理信息的設(shè)計交換格式文件、描述寄生參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)寄生交換格式文件和時序約束文件。

8.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于：

所述分析模塊，進行電源完整性分析是在以下任一階段進行的：在芯片物理設(shè)計階段生成好時鐘樹后，或者在布線階段，或者時序修復(fù)階段。

9.一種芯片設(shè)計處理的裝置，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時實現(xiàn)以下步驟：

在芯片物理設(shè)計階段生成好時鐘樹后，獲取每一條掃描鏈的信息；

根據(jù)預(yù)置的掃描模式測試向量對所述每一條掃描鏈進行狀態(tài)配置；

根據(jù)配置后的所述每一條掃描鏈的狀態(tài)模擬所述芯片在掃描測試模式的工作狀態(tài)，進行電源完整性分析；

所述根據(jù)預(yù)置的掃描模式測試向量對所述每一條掃描鏈進行狀態(tài)配置，包括：根據(jù)配置的掃描鏈自檢向量和根據(jù)指定項目截取實際掃描測試模式下的配置向量，對每一條掃描鏈進行掃描測試，得到兩個接近真實的場景；

所述根據(jù)配置后的所述每一條掃描鏈的狀態(tài)模擬所述芯片在掃描測試模式的工作狀態(tài)，進行電源完整性分析，包括：進行仿真得到電源完整性仿真的結(jié)果，綜合兩個所述場景的分析結(jié)果，分析定位設(shè)計中的問題。