[發(fā)明專利]一種XRF分析的基體校正系數(shù)的計(jì)算方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710498784.9
• 申請(qǐng)日: 2017-06-26
• 公開（公告）號(hào): CN107290376A
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馬振珠;劉玉兵;韓蔚;鄧賽文;戴平;盧娟娟;田駿
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)建材檢驗(yàn)認(rèn)證集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N23/223
• 分類號(hào): G01N23/223
• 代理公司: 北京鼎佳達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11348
• 代理人: 王偉鋒,劉鐵生

1.一種XRF分析的基體校正系數(shù)的計(jì)算方法，其特征在于：包括，

根據(jù)待測(cè)物品的化學(xué)成分及各成分的質(zhì)量百分含量，設(shè)計(jì)樣品的化學(xué)成分及各成分的質(zhì)量百分含量，所述的待測(cè)物品至少包含待測(cè)成分i、和輔助成分k；

利用Sherman方程，計(jì)算待測(cè)成分i在待測(cè)物品中的X射線熒光強(qiáng)度R_i和待測(cè)成分i在設(shè)計(jì)樣品中的X射線熒光強(qiáng)度R_iˊ，所述的X射線熒光強(qiáng)度包括初級(jí)熒光強(qiáng)度和二級(jí)熒光強(qiáng)度；

根據(jù)所述的R_i和R_iˊ，計(jì)算輔助成分k對(duì)待測(cè)成分i的基體校正系數(shù)α_ik，

所述的設(shè)計(jì)樣品各成分的質(zhì)量百分含量總和等于所述的待測(cè)物品各成分的質(zhì)量百分含量總和；

所述的待測(cè)物品由n個(gè)成分組成，所述的待測(cè)物品中各成分的質(zhì)量百分含量分別為C₁，C₂,…，C_k,…,C_i，…，C_n，其中，C_i為待測(cè)成分i的質(zhì)量百分含量，C_k為輔助成分k(k≠i,k＝1,2,…,n)的質(zhì)量百分含量，

所述的設(shè)計(jì)樣品的總數(shù)量為n-1個(gè)，即所述的設(shè)計(jì)樣品包括第一樣品、第二樣品、…、第k樣品、…、第n-1樣品，所述的第一樣品、第二樣品、…、第k樣品、…、第n-1樣品的化學(xué)成分及各成分的質(zhì)量百分含量分別為，

第一樣品：C₁+ΔC，C₂,…，C_k，…，C_i-ΔC，…，C_n，

第二樣品：C₁，C₂+ΔC,…，C_k，…，C_i-ΔC，…，C_n，

…

第k樣品：C₁，C₂,…,C_k+ΔC,…,C_i-ΔC，…，C_n，

…

第n-1樣品：C₁，C₂,…C_i-ΔC，…，C_n+ΔC，

所述的第一樣品、第二樣品、…、第k樣品、…、第n-1樣品的各成分的質(zhì)量百分含量總和等于所述的待測(cè)物品各成分的質(zhì)量百分含量總和，所述的ΔC為待測(cè)成分i的質(zhì)量百分含量的設(shè)計(jì)變化量，

則，根據(jù)第一公式計(jì)算輔助成分k對(duì)待測(cè)成分i的基體校正系數(shù)α_ik，所述的第一公式為：

α_ik＝((C_i-ΔC)/R′_i-C_i/R_i)/ΔC

所述的第一公式中：

C_i—待測(cè)物品中待測(cè)成分i的質(zhì)量百分含量；

ΔC—待測(cè)成分i的質(zhì)量百分含量的設(shè)計(jì)變化量；

R_i—待測(cè)成分i在待測(cè)樣品中的X射線熒光強(qiáng)度；

R_iˊ—待測(cè)成分i在設(shè)計(jì)樣品中的X射線熒光強(qiáng)度；

α_ik—輔助成分k對(duì)待測(cè)成分i的基體校正系數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種XRF分析的基體校正系數(shù)的計(jì)算方法，其特征在于：

所述的ΔC小于C_i且ΔC小于0.1％。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種XRF分析的基體校正系數(shù)的計(jì)算方法，其特征在于：

所述的待測(cè)成分i和輔助成分k為化學(xué)元素。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種XRF分析的基體校正系數(shù)的計(jì)算方法，其特征在于：

所述的待測(cè)物品為無機(jī)非金屬材料。