[發(fā)明專利]振鏡的調(diào)試裝置及其調(diào)試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710496468.8
• 申請日: 2017-06-26
• 公開（公告）號: CN107153244B
• 公開（公告）日: 2019-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 元少飛;葉貴青;楊樂;謝祖平;劉維波;高云峰
• 申請（專利權(quán)）人: 大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號: G02B7/00
• 分類號: G02B7/00
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 劉雯

1.一種振鏡的調(diào)試裝置，用于調(diào)試振鏡，所述調(diào)試裝置還包括紅光發(fā)生器和控制組件，所述紅光發(fā)生器產(chǎn)生紅光，所述紅光發(fā)生器用于與所述振鏡相對應(yīng)，所述控制組件用于與所述振鏡通信連接，以控制所述振鏡的電機(jī)動作；其特征在于，所述調(diào)試裝置還包括：

機(jī)架，所述機(jī)架包括相連接的架體和頂板，所述頂板上開設(shè)有安裝孔，所述頂板用于放置所述振鏡；

所述紅光發(fā)生器設(shè)于所述頂板上；

校正中心環(huán)，所述校正中心環(huán)位于所述安裝孔內(nèi)，所述校正中心環(huán)用于連接于所述振鏡上，所述紅光經(jīng)過所述振鏡的偏轉(zhuǎn)后通過所述校正中心環(huán)的中心孔；以及

反光鏡，所述反光鏡設(shè)于所述架體上，經(jīng)過所述中心孔的紅光照射至所述反光鏡上，所述反光鏡用于反射所述紅光。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的振鏡的調(diào)試裝置，其特征在于，還包括夾緊組件，所述夾緊組件設(shè)于所述頂板上，所述夾緊組件用于將所述振鏡夾緊于所述頂板上。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的振鏡的調(diào)試裝置，其特征在于，所述夾緊組件包括墊塊和肘夾，所述墊塊固定于所述頂板上，所述肘夾連接于所述墊塊上遠(yuǎn)離所述頂板的端面上，所述肘夾用于壓持于所述振鏡上，以將所述振鏡夾緊于所述頂板上。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的振鏡的調(diào)試裝置，其特征在于，還包括定位塊，所述定位塊固定于所述頂板上，所述定位塊上開設(shè)有容納腔，所述紅光發(fā)生器位于所述容納腔內(nèi)并與所述定位塊連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的振鏡的調(diào)試裝置，其特征在于，還包括球頭柱塞，所述定位塊上開設(shè)有與所述容納腔連通的定位孔，所述球頭柱塞位于所述定位孔內(nèi)與所述定位塊連接，且所述球頭柱塞抵接于所述紅光發(fā)生器上。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的振鏡的調(diào)試裝置，其特征在于，還包括導(dǎo)正銷，所述導(dǎo)正銷設(shè)于所述頂板上，所述導(dǎo)正銷用于與所述振鏡抵接，以對所述振鏡進(jìn)行定位。

7.一種振鏡的調(diào)試方法，其特征在于，應(yīng)用權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的振鏡的調(diào)試裝置進(jìn)行調(diào)試，所述調(diào)試方法包括：

將所述振鏡放置于所述頂板上；

開啟所述紅光發(fā)生器，使所述紅光發(fā)生器產(chǎn)生所述紅光；

通過所述控制組件設(shè)定所述振鏡的調(diào)試參數(shù)；

粗調(diào)所述振鏡上的電機(jī)，使所述紅光經(jīng)過所述振鏡偏轉(zhuǎn)后通過所述安裝孔并入射至所述反光鏡的中心；

將所述校正中心環(huán)連接于所述振鏡上；

微調(diào)所述振鏡上的電機(jī)，使所述紅光通過所述中心孔入射至所述反光鏡上，且所述紅光經(jīng)所述反光鏡反射后通過所述中心孔內(nèi)；以及

鎖緊所述振鏡上的電機(jī)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的振鏡的調(diào)試方法，其特征在于，在開啟所述紅光發(fā)生器的步驟之前還包括：

將所述振鏡夾緊于所述頂板上。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的振鏡的調(diào)試方法，其特征在于，在鎖緊所述振鏡上的電機(jī)的步驟之后還包括：

取下所述振鏡。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的振鏡的調(diào)試方法，其特征在于，在取下所述振鏡的步驟之前還包括：

取下所述校正中心環(huán)。